Способ определения фоточувствительности электрофотографического слоя

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советски к социалистические

Республик >911448

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (51)М. Кл;. (22) Заявлено 03. 07. 80 (2! ) 2953086/28-12 с присоединением заявки ЭЙ (23) Приоритет

Ь 03 G- 13/0.0 йввударствкквый комитет

СССР

ID делам ваабретенкй и открытий (53) УДК 772.93 (088.8) Опубликовано 07.03.82. Бюллетень Рй 9

Дата опубликования описания 07 . 03 .82 и орд ая китель на Дружбы Народов государств университет им. В. Капсукаса (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОТО4УВСТВИТЕЛЬНОСТИ

ЭЛЕКТРОФОТОГРАФЙЧЕСКОГО СЛОЯ слоя (1).

Изобретение относится к электрофотографии и может быть использовано при определении фоточувствительности носителей записи информации.

Известен способ определения фоточувствительности электрофотографического слоя, включающий темновую зарядку его поверхности электрическими зарядами, измерение начального потенциала электрофотослоя при освещении его актиничным светом известной интенсивности до заданного потенциала, измерение потенциала электрофотослоя в процессе освещения и времени достижения заданного потенциала и определение фоточувствительности электрографического

Недостаток известного способанизкая точность определения фоточувствительности электрофотографического слоя.

Цель изобретения — повышение точности определения фоточувствительности- путем исключения влияния спада потенциала в темноте.

Поставленная цель достигается тем, что в способе определения фоточувствительности электрофотографического слоя включающем темновую зарядку его поверхности электрическими зарядами, измерение началь1Î ного потенциала электрофотослоя, облучения носителя актиничным излучением известной интенсивности до заданного потенциала, измерение потенциала электрофотослоя в процессе !

5 облучения и времени достижения заданного потенциала и определение фоточувствительности электрофотографического слоя, облучение носителя

20 осуществляется импульсным актиничным облучением с заданной скважностью импульсов, определяют значения спадов темнового потенциала между импульсами излучения и сумми911448 с о

Формула изобретения

Составитель В. Аксенов

Редактор И. Ковальчук Техред А. Ач Корре ктор С .,Ше кма р

Тираж 489 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 1121/37 филиал Illlll "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,4 руют их в течение времени достижения половины начального потенциала, а значение фоточувствительности рассчитывают по формуле:

S фоточувствительность; начальный потенциал электрофотослоя, сумма спадов потенциала между импульсами излучения, скважность импульсов излу15 чения, время достижения заданного потенциала; интенсивность излучения.

Таким образом, предлагаемый способ позволяет более точно определить фоточувствительность ЭФС за счет исключения его темновой разрядки,а также зависимость фоточувствительности электрофотослоя от интенсивнбсти экспозиции.

30 е

1. Способ определения фоточувствительности электрофотографического слоя, включающий темновую зарядку его поверхности электрическими зарядами, измерение начального потенциала электрофотослоя, облучение носителя актиничным излучением известной ин" тенсивности до заданного потенциала, измерение потенциала электрофотослоя в процессе облучения и времени достижения заданного потенциала и

4 определение фоточувствительности электрофотографического слоя, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности определения фоточувствительности путем исключения влияния темнового спада потенциала, актиничное облучение носителя осуществляют в импульсном режиме с„ заданной скважностью импульсов, затем определяют значения спадов темнового потенциала между импульсами излучения и суммируют их в течение времени достижения заданного потенциала, а значение фоточувствительности рассчитывают по формуле где S — фоточувствительность;

И: — начальный потенциал электрофотослоя;

AU+ — сумма спадов потенциала между импульсами излучения;

0 . — скважность импульсов излучения, — время достижения заданного потенциала;

Ь - интенсивность излучения.

2. Способ по и 1, о т л и ч а юшийся тем, 4То время достижения заданного потенциала до половинного значения-начальной величины.

Источники информации принятые во внимание при экспертизе

1. В.И. Гайдялис, Н.М. Маркевич, Э.А. Монтримас. Физические процессы в электрофотографических слоях.

Вильнюс, 1968, с 79.