Способ измерения коэффициентов пропусканияи коэффициентов отражения оптическихматериалов

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (их8534 1 4 (61) Дополнительное к авт. свир-ву (22) Заявлено 020879 (21) 2804227/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет

Опубликовано 070881 Бюллетень М 29

Дата опубликования описания 0 7,0 8,81 (51)М. Кл.

G 01 J 1/04

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 535. 242 (088. 8) (72) Авторы изобретения

A.A.3åëåíott, Б.A.Ðàéõìàí, Е.П.Семенов и С.Д.Чечин (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ПРОПУСКАНИЯ

И КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к области фотометрии и может быть использовано для измерения поглощающих и отражающих свойств оптических элементов и материалов.

Известен способ измерения коэффициентов пропускания оптических материалов и коэффициентов отражения оптических материалов.

При реализации этого способа световой пучок источника при помощи светоделительного покрытия разделяют на измерительный и эталонный пучки, пропускают измерительный пучок через. исследуемяй материал или отражают его 15 от исследуемого зеркала, проводят временное разделение пучков, подают их на приемник излучения и сравнивают выходные сигналы приемника.

Недостатком известного способа является малая чувствительность.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ измерения коэффициентов пропускания и коэффициентов отражения оптических материалов, заключающийся в том, что световой пучок источника пространственно разделяют на измерительный и эталонный, пропускают измерительный пучок через исследуемый оптический материал или отражают его от исследуемого оптического материала, производят временное разделение пучков, подают их на фотоприемник и сравнивают выходные сигналы фотоприемника.

Недостатком способа является то, что световой пучок источника два раза проходит через светоделительное покрытие, в результате чего интенсивность излучения в измерительном и эталонном пучках оказывается в два раза меньше, а на приемнике излучения в четыре раза меньше, чем интенсивность излучения источника, что приводит к снижению точности измерений и уменьшению диапазона измеряемых коэффициентов пропускания оптических материалов и коэффициентов отражения зеркал.

Целью изобретения является повышение точности и расширение диапазона измерений.

Поставленная цель достигается тем, что по предложенному способу, при осуществлении которого световой пучок источника пространственно разделяют на измерительный и эталонный, пропускают измерительный пучок через оптический материал или отражают его

853414 т оптического материала, проводят временное разделение пучков, подают их на фотоприемник и сравнивают выходные сигналы фотоприемника, пространственное и временное разделение световых пучков производят одновременно путем сканирования. пособ реализуется следующим образом. Оптическое ..злучение от источника подают на отражающее покрытие, пу-.ем сканирования отражающим покрытием проводят пространственное и временное разделение светового пучка источника на измерительный и эталонный пучки, пропускают измерительный пучок через исследуемый материал кли свари†жают его от исследуемого зеркала, подают оба пучка на пркемник излучения и сравнивают выходные сигналы приемника.

На чертеже представлен вариант устройства, на котором может быть реализован предлагаемый способ.

Устройство состоит из источника оптического излучения 1, сканирующе— го отражающего покрытия, выполненно— го в виде зеркала 2„ рефлекторов 3 и

4 измерительного и эталоннОго пучков соответственно, линзы 5 и приемника кзлучения 6.

VcòðîéñòBc работает следующим образом.

Световой пучок ксточника поступает на сканирующее зеркало 2. B момент времени, когда зеркало 2 находится в положении, обозначенном на чертеже сплошными линиями, световой пучок источника 1 отражается зеркалом 2 на рефлектор измерительново пучка 3, и после прдхождения исследуемого образца 7, фокусируется линзой 5 на приемник излучения 6. В момент времени, когда зеркало 2 находится в положении, обозначенном на чертеже пунктирными линиями„ световой пучок источника отражается зеркалом

2 на рефлектор эталонного пучка 4 и фокусируется на приемник излучения

6, Таким образом, путем сканирования

;этр,жающим покрытием, выполненным в виде зеркала, одновременно производится как пространственное, так и временное разделение светового пучка источника HcL измерительный и эталонный пучки. При этом интенсивность измерительного и эталонного пучков к интенсивность излучения на приемни— ке равны интенсквности источника из— лучения 1. Отсюда следует, что интенсивность измерительного и эталонного пучков оказывается в два раза выше, а интенcивнîcTü излучения Hà приемнике — в четыре раза выше, чем при реализации известного способа. Сравнивая выходные сигналы приемника излучения

6 от измерительного и эталонного пучков определяют коэффициент пропускания исследуемого образца 7. При этом за сч" ò того, что интенсивность измерительного к эталонного пучков сравнительно высока, обеспечивается высокая точность и широкий диапазон измере,ний .

При измерении коэффициентов отражения зеркал, исследуемый образец 7 убирают, а вместо рефлектора измерительного пучка 3 устанавливают исследуемое зеркало.

Таким образом, одновременное пространсòвенное и временное разделенке светового пучка источника, проводимое путем сканирования отражающим покрытием, позволяет увеличить в два раза интенсивность излученкя в измерите .ьном и эталонном пучках и в четыре раза интенсивность излучения на приемнике, что существенно повышает точность и расширяет диапазон измерений. Кроме того, установка для реализации способа оказывается более проста, что дает экономический эффект, Формула изобретения

Способ измерения коэффициентов пропускания и коэффициентов отражения оптических материалов, при котором световой пучок источника пространственно разделяют на измерительный и эталонный, пропускают измерительный пучок через оптический материал или

40 отражают его от оптического материала, проводят временное разделение пучков, подают их на фотоприемник и сравнивают выходные сигналы фотоприемника, отличающийся тем, что, с „- целью повышения точности и расширения диапазона измерений, пространствен— ное и временное разделение производят одновременно путем сканирования.

Источники информации, qO принятые во внимание при экспертизе

1. Волькенштейн А.А., Кириллов

А .C ., Кувалдин Э .В, Импульсная фотометрия. Л., "Машиностроение", 1975, с. 151-157.

2. Патент ФРГ Р 1281170 5 кл. G 01 J 1/04, опублик. 1968 (прототип).

853414

Составитель A.Øóðîâ

Редактор Л.Утехина Техред A. Савка Корректор Ю.Макаренко

Заказ 5621/14 Тираж 907 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4