Способ масс-спектрометрического анализавеществ
<11834493
Союз Советских
Социалистических
Республик
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИ ИТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заяэленб 041278 (21)2691595/18-25 (51)М. Кл з
G 01 N 27/62 с присоединением заявки ¹Государственный комитет
СССР по делам изобретений н открытий (23) ПриоритетОпубликовано 300581. Бюллетень ЙЯ20 (53)УДК 621 384 (088.-8) 1
Дата опубликования описания 30.05.81 (72) Авторы „ изобретения
t с
1, 1
Г ! !
A.A.Ïåðîâ и С.Е.Куприянов, (71) Заявитель (54) СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА
ВЕЩЕСТВ
Изобретение относится к масс-спектрометрии, преимущественно для качественного и количественного анализа индивидуальных веществ и их смесей, и может быть использовано для мягкой, т.е. неразрушающей ионизации молекул и радикалов, особенно тех, которые при ионизации электронным ударом не содержат в масс-спектре молекулярных ионов.
Известны способы анализа веществ, находящихся в газовой или паровой фа-. зе, основанные на неупругих процессах, происходящих между атомными частицами, а именно реакциях перезарядки или на ионно-молекулярных реакциях химическая ионизация (1).
Анализируемое вещество присутствует в качестве примеси к известному основному веществу и при облучении 20 исходной, смеси электронами образуются, главным образом, положительные ионы этого вещества, которые затем вступая в реакции с молекулами анализируемого вещества, производят ионы, характеры- зующие данное анализируемое вещество, Ионы, характеризующие анализируемое вещество, образуются за счет различных
, ионно-молекулярных реакций, происхо- . дящих в результате многократных взаи- ЗО модействий между молекулами анализируемого вещества и ионами основного вещества, а также ионами, возникшими в результате таких взаимодействий.
Анализ осуществляется измерением интенсивности ионов, характеризующих анализируемое- вещество.
Недостатки способа - требуется специальная область повышенного давления (1 мм рт.от ° ) в ионном источнике, где.происходят ионно-молекулярные реакции, и, следовательно, дополнитель-: ные сравнительно мощные и дорогие средства откачки метод не всегда обеспечивает достаточно мягкую ионизацию, т.е. получение малолинейных масс.-спектрову в качестве основного вещества используют многоатомные соединения.
Наиболее близким к предлагаемому является способ масс-спектрометрического анализа веществ в газовой фазе, по которому исследуемое вещество . ионизуют высоковозбужденными атомами с образованием ассоциативных ионов с последующим разделением по отношению (m/е. (23.
Однако в этом способе используют атоьы с высокими потенциалами иониэа. ции, что имеет ряд недостатков. Во834493!
О
50
Интенсивность ионов (К К .), пр»Еда
Давление, торр
Интенсивность комплексных ионов
К э и+, пр.ед.
Вещество
7- 10
4 10
5. 10
3 10
С Н NO
С,Н, 61
240
Щ то=Сэ Н.,з
40
CHSOH первых, для получения высоковозбужденных атомов, энергия возбуждения которых находится вблизи их потенциала ионизации, нужны электроны сравнительно высокой энергии и такие электроны. будут также приводить к ионизация и жоследующему распаду анализируемых молекул. Во-вторых, атомы с высоким потенциалом ионизации практически трудно возбуждать дешевыми и доступными источникаъгл света. В-третьих, при взаимодействии высоковозбужденного атома, имеющего высокий потенциал .ионизации с молекулой, потенциал иониэации которой ниже, может произойти процесс распада молекулы с об разованием в масс-спектре осколочных ионов»
Цель изобретения - получение малолинейчатых масс-спектров.
Поставленная цель достигается тем, Что в способе масс-спектрометрическо-. го анализа веществ в газовой фазе, по которому исследуемое вещество ионизуют высоковозбужденными атомами с образованием ассоциативных ионов с последующим разделением их по m/е в анализаторе, в качестве высоковозбужденных атомов используют атомы о низкими потенциалами ионизации, например атомы щелочных и щелочнозеуельных металлов.
Для получения ионов, характеризую:щих исходное анализируемое вещество, используют процесс ассоциативной ионизации, в результате которого образуются комплексные ионы, представ- З5 ля1ощие собой ионизированные соединения атомов, имеющих низкие потенциалы ионизации, с атомами или молекула-. ми анализируемого вещества. О наличии и количестве анализируемого ве- 40 щества судят по интенсивности таких комплексных ионов. Реакции ассоциативной .ионизации протекают между высоковозбужденными атомами A какого-либо известного элемента периодической системы .Менделеева, с потен45 циалощ мриизации ниже, чем потенциал ионизщруг анализируемого вещества
М, по схеме.
А + М- АМ+ + е, где AN+ - комплексный ион, характеризующий анализируемое ве.щество; е — электрон.
Ф
Высоковозбужденные атомы А могут быть получены под действием электро нов, фотонов, в разряде или какимлибо иным способом.
В масс-спектре, кроме ионов AN сОдержатся только ионы А и А, есФ- + ли энергия электронов или фотонов, под действием которых образуются высоковозбужденные атомы A меньше уь потенциала ионизации анализируемого вещества.
В качестве атомов А используют, например атомы щелочных металлов, атомы щелочноэемельных элементов, или другие атомы, имеющие низкие потенциалы ионизации °
Ионизации анализируемого вещества .не происходит, так как потенциал ионизации элемента A ниже, чем потенциал ионизации анализируемого вещества и для возбуждения атомов A используют электроны или фотоны с энергией ниже:потенциала ионизации анализируемого вещества.
Образование ионов происходит за счет ассоциативной ионизации двух нейтральных частиц, а не за счет ионно-молекулярных реакций.
В предлагаемом методе нет необходимости. в создании области с повышенным давлением в ионном источнике, процесс происходит при давлениях в ионном .источнике масс-спектрометра 10
10 мм рт ° ст.
Пример . На масс-спектрометр через прямой ввод в ионный источник помещают кварцевый тигель с металлическим калием. Температура подогревателя. тигля составляет 150 С, энергия ионизирующих электронов — б эВ, ток полной эмиссии — 0,2 мА. Затем через систему напуска поочередно напускают газообразные вещества, различной химической природы.
Полученные масс-спектры и давления, до которых осуществляют напуск анализируемого вещества приведены в таблице.
Таблица 834493
Продолжение таблицы
Вещество
Интенсив бсть ионов (К .ЗК4" ), пр,ед.
Давление, тсрр
Интенсивность комплексных ионов
Я +
К М, пр.ед.
I (с,н ) о
3 10
5. 10
1,5. 10
6 ° 10
5 ° 10
105
76 с н -он (сн ) Со
83
100
126 .
124
Пара = С,Н„, 300
Составитель H.Àëèìoâà
Редактор E.Äè÷ûícêàÿ Твхред,И. Ролинка Корректор Г. Решетник
Заказ 4058/65 Тираж 907 Подписное
ВНИИПИ Роаударственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
4 5
113035, Москва, Ж 35, Раушская наб, д. /
Филиал ППП Патент, г, Ужгород, уд. Проектная, 4
Абсолютная величина тока ионОв (К(СНЭ) СО) на входе умножителя составляет 1,5° . 10 "A при разрешающей силе прибора 1000. Величина тока ионов K+ во всех случаях на входе в 25 умножитель больше 10 з A, что является верхним пределом измерительной системы.
Использование предлагаемого способа масс-спектрометрического анали- 3() эа обеспечивает возможность получения малолинейчатых масс-спектров,что черезвычайно ваЖно для анализа сложных смесей веществ, а также.для идентификации отдельных веществу благода- З5 ря мягкой ионизации возможность регистрации радикалов, образующихся в различных процессах; воэможность использования света обычных разрядных ламп для получения масс-спектров, а также лазеров.
Формула изобретения
1. Способ масс-спектрометрического анализа веществ в газовой фазе, по которому исследуемое вещество ионизуют высоковозбужденными атомами с образованием ассоциативных ионов с последующим разделением их по отно-. шению массы к заряду в анализаторе, отличающийся тем, что, с целью получения малолинейчатых массспектров, в качестве высоковозбужденных атомов используют атомы с низкиМи потенциалами иониэации.
2. Способ по п. 1, о т л и ч а юшийся тем, что в качестве высоковозбужденных атомов используют атомы щелочных и щелочноэемельных металлов. !
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Патент США Р 355527, Ф кл. 250-4 l . 9, 1970, 2. Куприянов С.E. Реакции электронновоэбужденных атомов и молекул. Химия высоких энергий, 1974, т.6,, Ф 4, с. 304 (прототип).


