Способ определения толщины анодной пленки
М 85935 пленки замеряют ее пробивное напряжение, по величине которого при помощи предварительно составленной таблицы определяют толщину пленки.
Комитет но делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Редактор Л. М, Струве
Гор. Алатырь, типография № 2 Министерства культуры Чувашской АССР.
Информационно-издательский отдел.
Объем 0,17 и. л. Заказ 3056
Подп. к печ 21/Ъ-!959 г.
Тираж 360. Цена 25 коп.
Похожие патенты:
Патент 76963 // 76963
Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий
Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом
Неразрушающий способ определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений // 2113691
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами
Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков
Электромагнитный толщиномер // 2129253
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах
Измерительное устройство // 2133448
Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
