Устройство для построения проверяющего теста и диагностирования бесповторных комбинационных схем

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ нщ775732 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву— (22) Заявлено 1 0778 (21) 2647040/18-24 с присоединением заявки HP— (23) Приоритет—

Опубликовано 301080, Бюллетень М9 40

Дата опубликования описания 30.10.80 (51)М. Кд.

С 06 Г 11;22

G 06 F 15/46

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий

{53) УДК 681.326 (088.8) (72) Авторы изобретения мц,; . :, 2,"7 (.1

1 ° Щь j 1

Е;И. Горшков и A.ß. Бессмертных (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОСТРОЕНИЯ ПРОВЕРЯЮЩЕГО

ТЕСТА И ДИАГНОСТИРОВАНИЯ БЕСПОВТОРНЫХ

КОМБИНАЦИОННЫХ СХЕМ

Изобретение относится к автомати. ке и контрольно-измерительной технике и может быть использовано при создании автоматических устройств контроля и поиска неисправностей 5 дискретных автоматов.

Известно устройство $1j поиска неисправностей логических схем, основанное на измерении реакции диагностируемого автомата на наборы теста, вырабатываемого генератором случайных чисел и сравнении ее с сигналом контрольного автомата.

Недостатками этого устройства являются большое время контроля, пос- 15 кольку посылаемые на вход наборы соответствуют случайным числам, а также трудности определения места неисправности, т.е. дешифрация результатов контроля. 20

Известно автоматическое устройство контроля и поиска неисправностей (2) . основанное на сравнении выходного сигнала диагностируемого автомата на наборах проверяющего и диагности- 25 ческого тестов с эталонным его значением. Недостаток этого устройства— большой объем вычислительных операций, связанных с получением диагностического и проверяющего тестов, что 30 приводит к большому времени контроля различных диагностируемых схем.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство контроля и поиска неисправностей бесповторных комбинационных схем (3J . Оно содержит источник питания, подключенный к входу блока управления, один выход которого подключен к входу первого коммутатора, а другой выход — к входу второго коммутатора, блок фиксации неисправностей, вход которого подключен к выходу генератора эталонных сигналов, и электронные ключи, выходы которых соединены с выходами устройства.

Недостаток данного устройства заключается в том, что для обнаружения логических неисправностей бесповторных комбинационных схем в нем используются избыточные проводящие наборы, что приводит к большому расходу ресурса диагностируемой схемы и необоснованному увеличению времени диагностирования.

Цель изобретения — повышение быстродействия устройства.

Указанная цель достигается тем,,что устройство содержит блок памяти

775732 состояний входов диагностируемой схемы, блок памяти обработанных переменных, элемент И и индикатор проверяющего теста. При этом выходы второго коммутатора подключены к одним входам блока памяти состояний входов диагностируемой схемы, а выходы первого коммутатора — к другим входам блока памяти состояний входов диагнсстируемсй схемы и к первым входам блока памяти обработанных переменных, выходы которого через элемент И соединены с входами индикатора проверяющего теста и с управляющими входами электронных ключей, подсоединенных информационными входами к выходам блока памяти состояний входов циагностируемой схем, а выход -блока фиксации неисправностей подключен к вторсму входу блока. памяти обработанных переменных.

При построении проверяющего тес- gQ та бесповторный комбинационный схемы в устройстве исполъз ются прямая и инверсная дизъюнктивная форма функции ДНФ выхода схемы. Для элементарной конъюнкции ДНФ строится про-yg веряющий набор по правилам. Для получения полного теста схемы достаточно построить проверяющие наборы для такого множества конъюнкций прямой (инверсной) ДНФ, в которое входят все переменные функции выхода. E) настоящем устройстве используется указанное свойство.

На чертеже представлена функциональная схема устройства.

Устройство содержит источник l питания, блок 2 управления, первый коммутатор 3 для переменных элементарных конъюкций, блок 4 памяти обработанных переменных, блока 5 памяти состояний входов диагностируемой схе- 40 мы 8, второй коммутатор б для переменных логической функции, электронные ключи 7, 8, 9, диагностируемую схему 10, элемент И l1, индикатор 12 проверяющего теста, блок 13 фиксации неисправностей, генератор 14 эталонных сигналов.

Устройство работает следующим образом.

С помощью блока 2 подается напря- 5п жение источника 1 на вход коммутаторов 3 и б, с помощью которых соответствующие команды проходят на входы блока 5. С выхода блока 5 сигналы, "o TâeòcTâóþùèå элементарным конъюнкциям .прямой (инверсной) дизъюнктивной нормальной формы логической функции, дополненные переменными инверсной прямой функции выхода схемы через ключи 7, 8, 9, поступают на входы схемы 10. При этом блок 4 фикси-66 рует наличие (но не состояние) обработанных переменных в конъюнкциях дизъюнктивных нормальных форм прямой и инверсной логических функций, т.е. тех конъюнкций, на основе которых 65 формируются проверяющие наборы, на †ример сначала разрыв, а потом шунтирование. Выходной сигнал с выхода схемы 10 сравнивается в блоке 13 с сигналом, поступившим с генератора 14.

При несовпадении этих сигналов индикатор 12 фиксирует неисправность.

Наличие переменных в элементарных конъюнкциях прямой дизъюнктивной нормальной форме логической функции запоминается блоком 4 памяти и посылается на входы элемента И 11, который осуществляет счет использованных ими обработанных переменных. Как только будут обработаны все переменные для прямой функции, с выхода элемента И 11 сигнал поступит на закрытие ключей 7, 8, 9, Этим самым исключается подача проверяющих наборов, сдстветствующих остальным элементарным конъюнкциям, т.е. выдача проверяющих наборов для прямой ДНФ прекращается. Схема возвращается в исходное состояние и начинается аналогичная проверка конъюнкций обратной

ДНФ.

Если диагностируемая схема нейсправна, то с выхода блока 13 подается сигнал на разблокировку блока 4, T.å. в этом случае возможно использование остальных наборов.

Преимуществом предлагаемого устройства перед известным является сокращение времени контроля диагностируемых автоматов за счет исключения реализации проверяющих наборов для лишних конъюнкций прямой и обратной ДНФ.

Формула изобретения

Устройство для построения проверяющего теста и диагностирования бесповторных комбинационных схем, содержащее источник питания, подключенный к входу блока управления, один выход которого подсоединен к входу первого коммутатора, другой выход к входу второго коммутатора логической функции, блок фиксации неисправностей, вход которого подключен к выходу генератора эталонных сигналов, и электронные ключи, выходы которых соединены с выходами устройства, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения быстродействия устройства, оно содержит блок памяти состояний входов диагностируемой cxema, блок памяти обработанных переменных, элемент И и индикатор проверяющего теста, причем выходы второго коммутатора подключены к одним входам блока памяти состояний входов диагностируемой схемы, а выходы первого коммутатора — к другим входам блока памяти состояний входов диагностируемой схемы и к первым входам блока памяти обработан775732

Составитель В. Халчев

Техред A.Ùåïàíñêàé

Корректор М. Пожо

Редактор И. Грузова

Заказ 7766/62 тираж 751 аНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Филиал ППП "Патент", г. ужгород, ул. Проектная, 4 ных переменных, выходы которого через элемент И соединены с входами индикатора проверяющего теста и с управляющими входами электронных ключей, подсоединенных информационными входами к выходам блока памяти . состояний входов диагностируемой схемы, а выход блока фиксации неисправностей подключен к второму входу блока памяти обработанных переменных.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1 . Патент США Р 3614608, кл. 324 73, опублик. 1972.

2. Кострыкин A.И. Логический конт5 роль релейно-контактных схем. М., "Связь", 1970, с. 80-86..

3. Авторское свидетельство СССР

М 526834, кл. G 06 F 11/02, 06.09.74 (прототип).