Дефлектор

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ПАТЕНТУ

CoIo3 Соаетсиих

Социалистических

Республик (6l) Дополнительный к патенту(22) Заявлено2612р3 (21) 2532304/25-28 (23) Приоритет25,1274(32) 13,10,77

{Si) IL Кл.

6 01 В 29/04

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (33) Франция (31) Опублиноваио 050680. Бюллетень М21

{И) УДВ 620.179. . 16 (088-. 8) Дата опубликования описания 0506.80

Иностранец жан .Пердижон (Франци я) (72) Автор изобретения

Иностранная фирма Комиссариат а л Энержи Атомик (Франци я) (71) Заявитель (54) ДЕФЛЕКТОР

g,.i/Ð&-R&&i&i ей &irli+8

Изобретение относится к средствам нераэрушающего контроля и может быть использовано для ультразвуковой дефектоскопии цилиндрических из-:"" делий.

Известен дефлектор, представляющий собой конус из эластичного материала с некоторым отражательным участком, снабженный воздействующим на

его вершину регулятором конусности

-и предназначенный для преобразования пучка лучей, направляемых параллельно оси изделия, в пучок лучей с постоянным углом падения с на поверхность иэделия (1).

Недостатком этого дефлектора является невысокая производительность контроля. . Целью изобретения является повышение производительности контроля.

Это достигается тем, что отражающая поверхность дефлектора обра-зована поверхностью, которая в полярных координатах (р, g ) с осью

OZ совпадающей с продольной осью иэделия, выбрана из соотношенияе

Z Cgjja= y& -& & &1 .В &inj&, где d и ) определены из уравнений г ©

tg) =tg i соэ и соэ2Ф=Эю. знт & где R — радиус изделия1 .- угол между касательными к винтовой линии, образованной на, иэделии падением лучей, и .плоскостью, перпендикулярной образующей иэделия ° б

Кроме тсго, с целью повьиаения точности выявления продольных дефектов, отражающая поверхность дефлектора выбрана при 8 = 0; Ф - иэ соотношеният

На фиг. 1 показаны геометрические параметры хода лучей, подающих по круглой непрерывной спирали Н на поверхность круглого прямого цилинд« ра С с радиусом Я; íà фиг. 2 - схема спирального дефлектора на фиг. 3вариант схемы контроля иэделия с помощью спирального дефлектора. ,На фиг. 1 показано, что луч РМ, параллельный оси 07, цилиндра С, падает на поверхность дефлектора (на чертеже не показан) в точку И, образуя угол о(с перпендикуляром тт к поверхности дефлектора в этой точке. Отраженньй дефлектором луч ИА

740163 падает на поверхность цилиндра,С в точке А, образуя с перпендикуляром N A к плоскости, касательной к цилиндру С в этой точке угол i падения, При этом проекция AE луча MA„так же как и проекция перпендикуляра и на любую плоскость, перпендикулярную оси ОЕ, образует с перпендикуляром

NA или его проекцией на эту же плоскость уг.ол j

Можно убедиться, что в случае обеспечения постоянства угла i падения лучей, отраженннх дефлектаром на поверхность цилиндра С, проекции перпендйкуляров и к каждой точке поверхности дефлектора на плоскость, перпендикулярную.оси OZ например ХСУ, охватывают окружность с радиусом R Sinj (на фиг. 1 окружность, проходящая через точку Р) .

В случае падения лучей под постояйным углом ) на поверхность цилиндра С по спирали Н, прОходЯщей через точку А, касательная к этой спирали в любой точке образует постоянный угол и сс ппллооссккооссттььюю, перпендикулярной оси OZ, например плоскостью ХОУ, Свойства проекций перпендикуляров и к дефлектору на плоскости ХОУ» которые охватывают окружность с радиусом R ° sihj, обуславливают то, что сечение поверхности дефлектора этой плоскостью есть эвольвента окружности с радиусом R ° с;)и), причем угол j связан с углами i и и соотношением:

tg jQi cosp

Сама же поверхность дефлектора, обеспечивающего преобразование пучка лучей, направляемых параллельно оси изделия и падающих на его поверхность под углом yh, в пучок лучей с постоянным углом падения на. поверхность иэделия по винтовой линии с углом между касательными к ней и плоскостью, перпендикулярной оси иэделия, и с шагом 21tiR ting, описывается в полярных координатах (j>, О ) соотношением:

Z cled = p -R sinj + R sing 8, г г грей и j связаны с и уран н ени ями:

4gj*gi сОЗ со$2а = sini $inp

На фиг. 2 показан дефлектор 1 по уравнению: р - Я $lh i R $11118, определенный на основе прямолинейных образующих для случая, когда онокружает цилиндр 2 с радиусом R, аф=О,Ф=45о

Первая прямолинейная образующая

3 отходит от точки А» расположенной на окружности 4 с радиусом B sih)

Эта образующая расположена в плоскости 5, касательной к цилиндру, в основании которого лежит окружность

5 4, Образующая 3 образует. угол e. (a данном случае Ф = - ) с плоскостью, перпендикулярной оси OK . Вторая образующая б» соответствующая вращению на г, Отходит.от точки В, 10 расположенной иа образующей цилиндра с радиусом Я й1п) на расстоянии от плоскости, в которой. нахоgrR81П1М,( дится точка А, равном. 1 = -4 в .

Эта образующая лежит в плоскости, 15 касательной к цилиндру с радиусом

R glnje осью OZ,, образует угол (,плоскостью, перпендикулярной оси

OZ . Обраэующие 7, 8 и 9 получаются таким же путем. Образующая 9

2О отходит от точки С, расположенной на цилийдре. с радиусом R ginj причем отрезок АС параллелен оси OZ и его длина равна 296sinjigd

Образующая 9 параллельна обраэующе 3.

Так как р =О, а Ю = 45, то лучи, отраженные дефлектором М, падают на деталь 2 в плоскости, перпенди кулярной образуюшим.

На фиг. 3 показан случай, когда дефлектор, 10 и преобразователь 11 расположены внутри кднтролируемого цилиндра 12 с внутренним радиусом Р .

Ъ дефлектор работает следуювжм образом.

Лучи 13 — 15, испускаемые преобразователем 11, отражаются.дефлектором 10 и падают на внутреннюю поверхность изделия 12 под постоянным

4О углом .

Таким образом, применение данного дефлектора обеспечивает постоянство угла падения лучей на иэделие в виде круглого прямого цилиндра с

45 радиусом R по винтовой линии с углом между касательными к ней и плоскостью, перпендикулярной образующей изделия, и с шагом 29. RgP» что позволяет повысить проиэводи$0 тельность контроля.

Формула изобретения

1. Дефлектор,,применяемый inpu ультразвуковой дефектоскопии изделий и предназначенный для преобразования пучка лучей,, направляемых параллельно оси изделия, в пучок лучей с постоянным углом падени я Х иа поверхб0 ность иэделия, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения производительности контроля, отражающая поверхность дефлектора образована поверхностью, которая в об5 лярных координатах (p„8 ) с осью OZ

740163 я, 4 совпадающей с продольной осью изделия, выбрана из соотнощенияг сtga= p -в 8 п R s пjs где Ф и J определены из уравнений, Qj-=tgi СЬэб н cosa+=Sunni-Sing где И - радиус и эдели я; угол между касательными к винтовой линии, образованной на 10 иэделии падением, лучей, и плоскостью, перпендикулярной образующей иэделия.

2. рефлектор по п. 1, о т л ичающи и с я тем, что, сцелью повышения точности выявления продольных дефектов, отражающая поверх. ность дефлектора выбрана .при и 0, 6 = - из соотношения:

„Я р: ð . т Ф@ ° н sinai 6

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1..-Авторское свидетельство СССР

Р 453189, кл, G 01 И 29/03, 1970 (прототип) .

Дефлектор Дефлектор Дефлектор 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля качества сварных соединений

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для оперативного контроля работоспособности ультразвуковых (у.з.) дефектоскопов в процессе их настройки и поиска с помощью них дефектов в разнообразных материалах и изделиях промышленности, например,в сварных соединениях, в железнодорожных рельсах

Изобретение относится к технике неразрушающих испытаний ультразвуковыми методами и может быть использовано в различных областях машиностроения для контроля материалов и изделий, преимущественно крупногабаритных и с большим затуханием ультразвука

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для диагностики изделий переменной толщины сложной геометрии по параметрам их колебаний

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при контроле качества, изменения структурно-фазовых состояний и физико-механических параметров материалов и элементов конструкций, а также в целях акустической спектроскопии массива горных пород, по измерению коэффициента затухания упругих волн и его частотной зависимости

Изобретение относится к области акустических методов неразрушающего контроля

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для диагностики железобетонных строительных конструкций, обделок и облицовок гидротехнических туннелей
Наверх