Устройство для измерения динамических параметров микросхем

(i ц 725048

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Соыиалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву

I (22) Заявлено 04.04.78 (21) 2599928/18-21 (51) М. Кл а

С OIR 31/28 с присоединением заявки №

Государственный комитет (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.03.80. Бюллетень № 12 (45) Дата опубликования описания 30.03.80 (53) УДК 621.317.799:

621.372,5 (088.8) ло делам изобретений и открытий (72) Автор изобретения

В. В; Филиппов (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ

ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМ

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения динамических параметров микросхем.

Известны устройства, содержащие генератор испытательных сигналов, формирователь образцовой задержки, программатор, блок сравнения, согласующий элемент, пороговый элемент и элемент регистрации (1).

Недостатком известных устройств является низкая точность измерения.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для измерения динамических параметров микросхем, содержащее элементы И вЂ” НЕ, монтажный элемент ИЛИ вЂ” НЕ, нечетное число последовательно соединенных инверторов, парафазный элемент, переключатель и ключи (2).

Недостаток этого устройства также заключается в низкой точности измерения.

Кроме того, для проведения измерения с помощью этого устройства требуется значительное время, Цель изобретения — повышение точности и уменьшение времени измерения.

Эта цель достигается тем, что в известное устройство, содержащее цепь из нечетного числа последовательно соединенных инверторов, выход последнего из которых соединен с входом парафазного элемента, инвертирующий выход которого через переключатель подключен к первым входам первого и второго элементов И вЂ” НЕ, вторые

5 входы которых соответственно через первый и второй ключи соединены с общей шиной устройства, неинвертирующий выход парафазного элемента соединен с входом контролируемого элемента, инвертирующий вы10 ход этого элемента — с третьим входом второго элемента И вЂ” НЕ, при этом выходы первого и второго элементов И вЂ” НЕ связаны с входами монтажного элемента ИЛИ—

НЕ, введены управляемый элемент задерж15 ки, блок индикации и блок управления.

При этом вход управляемого элемента задержки соединен с выходом монтажного элемента ИЛИ вЂ” НЕ, а выход — с входом цепи последовательно соединенных инвер20 торов, выход последнего из которых подключен к входу блока управления, выход которого соединен с входом блока индикации и . управляющим входом управляемого элемента задержки.

25 На чертеже приведена структурная схема устройства.

Устройство содержит элементы И вЂ” HE 1, 2, блок 3 индикации, монтажный элемент

ИЛИ вЂ” HE 4, управляемый элемент 5 за30 держки, блок 6 управления, цепь последо725048 вательно соединенных инверторов 7, парафазный элемент 8, переключатель 9 и ключи 10, 11.:

Работает устройство следующим образом.

Г еред начаЛом измерений динамических

"параметров контролируемого элемента 12 производят начальную установку периода повторения импульсов То устройства, представляющего собой кольцевой генератор.

Для этого замыкают ключ 10, переключа- 10 тель 9 устанавливают в верхнее положение, а управляемый элемент 5 задержки с помощью блока б управления устанавливают в режим максимальной задержки.

Измерение времени задержки распростра- 15 кения информации t30 при включении контролируемого элемента 12 проводят при разомкнутом ключе 10. В этом случае элементы И вЂ” НЕ 1, 2 и монтажный элемент

ИЛИ вЂ” HE 4 реагируют на отрицательный фронт сигнала с выхода контролируемого элемента и на положительный фронт сигнала с инвертирующего выхода парафазного элемента 8. Таким образом, устройство половину периода повторения импульсов 5 замкнуто через контролируемый элемент 12 и половину периода повторения импульсов — минуя его, в результате чего период повторения импульсов в устройстве увеличивается. 30

Так как период повторения импульсов стал больше То, то блок б управления формирует управляющие импульсы, которые переключают управляемый элемент 5 задержки до тех пор, пока в устройстве не 35 установится начальный период повторения импульсов То, Блок 3 индикации производит подсчет управляющих импульсов и выдает результат измерения 1ф в цифровой форме.

Аналогично происходит измерение времени задержки распространения информации

/З1о при выключении контролируемого элемензр. та 12 с той лишь разницей, что в этом слу- 45 чае замыкают ключ 11, а переключатель 9 устанавливают в нижнее положение. При этом элемент И вЂ” НЕ 1 и монтажный элемент ИЛИ вЂ” HE 4 реагируют на отрицательный фронт сигнала с инвертирующего вы- 50 хода парафазного элемента 8 и на положительный фронт сигнала с выхода контролируемого элемента.

Устройство позволяет автоматизировать процесс измерения с высокой точностью динамических (параметров микросхем.

Устройство может быть использовано как в качестве отдельного прибора для измерения динамических параметров, так и в качестве блока для автоматических классификаторов интегральных схем, Формула изобретения

Устройство для измерения динамических параметров микросхем, содержащее цепь из нечетного числа последовательно соединенных инверторов, выход последнего из которых соединен с входом парафазного элемента, инвертирующий выход которого через переключатель соединен с первыми входами первого и второго элементов И—

НЕ, вторые входы которых соответственно через первый и второй ключи соединены с общей шиной устройства, неинвертирующий выход парафазного элемента соединен с входом контролируемого элемента, инвертирующий выход этого элемента соединен с третьим входом второго элемента И вЂ” НЕ, при этом выходы первого и второго элементов И вЂ” НЕ соединены с входами монтажного элемента ИЛИ вЂ” НЕ, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью повышения точности и уменьшения времени измерения, в него введены управляемый элемент задержки, блок индикации и блок управления, причем вход управляемого элемента задержки соединен с выходом монтажного элемента ИЛИ вЂ” НЕ, а выход — с входом цепи последовательно соединенных инверторов, выход последнего из которых соединен с входом блока управления, выход которого соединен с входом блока индикации и управляющим входом управляемого элемента задержки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 505972, кл. G 01К 31/28, 1973 (прототип).

2. Измеритель динамических параметров микросхем, черт. ЩИ2.702.000СХЭ, 1973 (прототип), 725048

Составитель С. Бычков

Техред В. Серикова

Редактор И. Грузова

Корректор 3. Тарасова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 147/17 Изд. ¹ 218 Тираж 1033 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5