Устройство для тепловых испытаний микросхем

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскмх

Социалнстическик

Республик

<щ711553 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 050778 (21) 2639704/18-24 (51)м, Кл.2 с присоединением заявки М

С 05 D 2 3/30

Государственный комитет

СССР по делам изобретений н открытий (23) Приоритет— (53) УДК 621. 646. (088.8) Опубликовано 25.01-80. Бюллетень йо 3

Дата опубликования описания 280180 (72) Автор изобретения

В. Н. Воронов (71) Заявитель (5 4 ) VC Т РОЙСТВО ДЛЯ ТЕПЛОВЫХ HCIIEITA НИЙ

МИКРОСХЕМ

Изобретение относится к испытательному оборудованию, предназначенному для испытаний изделий электронной техники, в частности, интегральных микросхем на теплоустойчивость, и обеспечивает возможность измерения статических и динамических параметров испытуемых изделий при заданном температурнсм режиме, а также по-1О дачу на них испытательных электрических нагрузок .

Известно устройство для тепловых испытаний, в которых объекты испытаний размещены в держателях, обеспечивающих электрическую связь выводов изделия с контактами разъемов, расположенных на наружных поверхностях устройства (1).

Существенным недостатком такого устройства является значительная длина проводников, соединяющих выводы объекта испытаний с наружными разъемами установки.

Наиболее близким по техническому к предлагаемсиу устройству решению является устройство для тепловых испытаний микросхем, содержащее теплоизолирующие корпус и крышку с размещенными в них датчиками температуры и нагревателями, связанными с объектом испытаний, электрические выводы которых подключены к токосъемникам, связанным с переходной колодкой измерителя (2).

Недостатком данного устройства является то, что провода, идущие от токосъемников, соединенных с выводами объектов испытаний, к переходной колодке измерителя, увеличивают электрическую емкость и индуктивность при измерении динамических параметров объектов испытаний, понижая достоверность результатов испытаний ..

Целью изобретения является повышение точности устройства для тепловых испытаний микросхем.

Для этого в устройстве для тепловых испытаний микросхем, содержащем теплоизолирующие корпус и крышку с размещенными в них датчиками температуры и нагревателями, связанными с объектом испытаний, электрические выводы которого подключены к токосъемникам, связанным с переходной колодкой измерителя, токосъемники выполнены в виде расположенной в теплоизолирующей крышке U-образной пружины с двумя упругими контактами, один из которых подключен к переходной колодке измерителя.

711553

Формула изобретения

Составитель B. Козлов

Редактор О. Стенина Техред р. Андрейко Корректор М ° Пожо

Тираж 9 56 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д. 4/5

Заказ 9010/35

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4

На чертеже изображено устройство для тепловых испытаний микросхем, общий вид.

Устройство для тепловых испытаний микросхем содержит теплоизолирующие корпус 1 и крышку 2 с размещенными в них датчиками 3 температуры и нагревателями 4,связанными с объектом 5 испытаний, электрические выводы б которых подключены к токосъемникам 7, связанным с переходной колодкой 8 измерителя 9, при этом токосъемники 7 выполнены в виде расположенной в теплоизолирующей крышке 2 U-образной пружины 10 с двумя упругими контактами 11.

Устройство для тепловых испытаний микросхем работает следующим образом.

При откинутой. теплоизолирующей крышке 2 объект 5 испытаний укладывается св оими электрическими выводами б в пазы платы, з ажимаетс я между двумя 20 нагревателями 4, один из которых под- . пружиненный, при этом электрические выводы б ее касаются верхних упругих контактов 11, а объект 5 испытаний заключен в малом объеме, образованном теплоизолирующей крышкой 2 и теплоизолирующим корпусом 1. П.ри этом верхние концы контактов 11 упруго прижимаются к электрическим выводам

6 объекта испытаний, а ниже — к пере- Зо ходной колодке 8, При подключении устройства к в нешнему регулятору тем-. пературы в объекте 5 испытаний поддерживается заданный температурный режим.

С помощью переходной колодки 8 устройство может быть соединено с измерителем статических и динамических параметров, что и озв ол яет проводить измерение параметров при различных температурных режимах, При этом электрическая связь элеютрический вывод объекта испытаний — измеритель оказывается наикратчайшей, уменьшаются ее емкостное и индуктивное сопротив— ления (в виду отсутствия пров одов и разъема), что дает возможность обеспечить получение более точной информации об испытуемом изделии на этапах его разработки, периодических испытаниях, а также при входном контроле, Устройство для тепловых испытаний микросхем, содержащее теплоизолирующие к орпус и к рышку с размещенными в них датчиками температуры и нагревателями, связанными с объектом испытаний, элек трическ ие выв оды к оторых подключ ены к ток осъемник ам, св язанным с переходной колодкой измерителя, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности устройства, токосъемники выполнены в виде расположенной в теплоизолирующей крышке U-образной пружины с двумя упругими контактами, один из которых подключен к переходной колодке измерителя.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 468228, кл. G 05 D 23/30, 1975 °

2, Авторское свидетельство СССР

Р 575947, кл. G 05 D 23/30, 1975 (прототип).

5 «3 б