Способ рентгенорадиометрического анализа

 

1. Способ рентгенорадиометрического анализа, заключающийся в облучении исследуемой среды рентгеновским или гамма-излучением и регистрации характеристического и многократно рассеянного на пробе излучений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения за счет уменьшения влияния состава вмещающей среды, дополнительно облучают детектор постоянным потоком квантов с энергией, обеспечивающей вклад импульсов в регистрируемую скорость счета квантов характеристического излучения определяемого элемента.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что энергия квантов дополнительного источника близка к энергии квантов характеристического излучения определяемого элемента.

3. Способ по п.1, отличающийся тем, что энергия квантов дополнительного источника превышает энергию квантов характеристического излучения определяемого элемента на величину энергии характеристического излучения вещества детектора.

4. Способ по п.1, отличающийся тем, что энергия квантов дополнительного источника меньше энергии квантов характеристического излучения определяемого элемента на величину энергии характеристического излучения вещества детектора.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх