Диспергирующее устройство спектрального прибора
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ CSNP EYE JlbCTBY
Союз Советских
Социвпмстнческих
Республик (ll) 705274 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.06.78 (2 I ) 2629309/18 25 (5l)M. Кл. с присоединением заявки М
G 01 T 3/26
Гасударстаеииый комитет ссср аа делам иэюбретвиий и открытий (23) Приоритет
Опубликовано 25.12.79. Бюллетень Рй 47 (53) УДК 538.853 (088.8 ) Дата опубликования описания 27.12.79 (72) Автор изобретения
Л. Г, Матвеев
Калининский ордена Трудового Красного Знамени политехнический институт (7I) Заявитель (54) ДИСПЕРГИРУЮШЕЕ УСТРОЙСТВО СПЕКТРАЛЫЫХ
ПРИБОРОВ
Изобретение относится к технике спектроскопии и может быть применено в диспергирующих устройствах спектральных приборов высокого разрешения.
Известны двухлучевые интерференпион5 ные диспергирующие устройства - интерферометры Майкельсона (1).
Они содержат две зеркальные отража ющие поверхности и разделительную пластину, на которой отражается в нерабочих направлениях и теряется половина интенсивности световых пучков.
Наиболее близким техническим решением к изобретению является двухлучевой интерферометр, ламеплярные решетки которого представляют собой два пакета пластин одинаковой толщины. Пластины одного пакета образуют жесткую решетку, в щели которой с зазором входят ттластины второго пакета f2), 20
К недостаткам интерферометров с ламеллярными решетками следует отнести сложность конструкп(ти и низкую эффективность, 2
Памеллярные решетки имеют невысокое качество отражающих поверхностей, большие отклонения их формы от плоскости, малое число отражающих пластин, сложны в изготовлении, так как трудно собрать и обработать отражающие поверхности пластин. При сканирующем перемещении пакетов велика опасность трения их друг о, друга. Такая решетка пригодна для рабо ты лишь в далекой инфракрасной области.
1(ель изобретения - упрощение конструкции и повышение эффективности работы устройства.
Для достижения этого отражающие поверхности выполнены в виде пластин и обращены одна K другой непрозрачными зеркальными покрытиями, причем, первая пластина выполнена иэ прозрачного материала, а в ее покрытии прорезаны щели с постоянным шагом, На фиг. 1, 2 в двух проекциях приве дена схема диспергирующего устройства.
Оно состоит из передней 1 и задней
2 пластин с зеркальным покрытием, кото705274 рые установлены параллельно друг к другу. В покрытии передней пластины 1 выполнены прозрачные щели постоянного шага.
Устройство работает следующим образом. Падающее излучение частично отражается на зеркальных непрозрачных .полос- .. ках пластйны 1, а частично проходит через прозрачные щели, отражается от сплош ного покрытия пластины 2 и выходит обратно. Максимумы интерференции световых пучков определяются разностью хода
А=% А =Zt 1чсоэЧ, где Ь вЂ” разность ходве
15 (- порядок интерференции, Д - длина волны;
4 - расстояние между отражающи ми поверхностями пластин;
20 - показатель преломления среды между пластин амиу
Щ- угол падения.
Сканирование спектра осуществляется изменением расстояния между пластинами.
Предложенное устройство имеет npoc= тую конструкцию, надежно, благодаря отсутствию опасности трения подвижных частей друг о друга, имеет высокий коэффициент .отражения. и малые отклонения формы от плоскости. Благодаря этому. 4 улучшается качество и точность работы интерферометра. В устройстве достигается возможность работы в коротковолновой области спектра эа счет увеличения числа отражающих полосок на единицу длины.
Формула изобретения йиспергирующее устройство спектральных приборов, содержащее две параллельно установленные отражающие поверхности, отличающееся тем,что, сцелью упрощения конструкции и повышения эффективности, отражающие поверхности выполнены в виде пластин и обращены одна к другой непрозрачными зеркальными покрытиями, причем- первая пластина выполнена иэ прозрачного материала, и в ее покрытии прорезаны щели с постоянным шагом.
Использованные источники информации
1. Ричардс П. Интерферометрия высо кой разрешающей силы. В сб.: йлинноволновая инфракрасная спектроскопия. М., Мир, 1966, с. 270-271.
2. Ричардо П. Интерферометрия высокой разрешающей силы. В сб.: Длинноволновая инфракрасная слектроскопия. М., Мир, 1966, с. 267-268.
Составитель А. Качанов
Редактор Н. Разумова Техред Н.Ковалева Корректор Г. Назарова
Зак вэ 80 1 5/43 Тираж 766 Подписное
UHHHHH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП "Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4
