Способ определения кривизны поверхности раздела сред

Авторы патента:

G01N13 - Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне

н1 з, ал ей; }Щ т% скал

- ел е.т.е;.

Союз Coâåòñêèõ

Социалистических

Республик (и>703759

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 19.03.74(21) 2006073/18-25 (51)М. Кл.2 с присоединениЕм заявки М 1967936/18-25

G 01 И 13/00

Государствеииый комитет

СССР ио делам изобретеиий и открытий (23) Приоритет(53) УДК 532..61 (088. 8) Олубликовано15,12.79. Б оллетень Мо 46

Дате опубликования описания 181279

Ин остранцы

Петер Фризе, Карл-Хайнц Редель, Петер Швартц и Герд-Рюдигер Вэслер (ГДР) (72) Авторы изобретеии я Иностранное предприятие Академи дер Виссеншафтен дер ДЦР™ (ГДР) (71) Заявитель с (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИВИЗНЫ ПОВЕРХНОСТИ

РАЗДЕЛА СРЕД

Изобретение относится к способам определения кривизны поверхности раздела сред и может быть использовано, например при определении поверхностного натяжения жидкостей.

Известен способ определения кривизны поверхности раздела сред путем проецирования границы раздела на экран и измерения параметров проекции (1l ° .Однако этот способ трудоемок и длителен.

Известен также способ определения кривизны поверхности раздела сред путем облучения этой поверхности све- 15 товым пучком и регистрации направления распространения отраженного пучка (2), Однако этот способ обладает недостаточной точностью вследствие труд- 20 ности точного измерения угла между падающим и отраженным пучками света.

Целью изобретения является повышение точности.

Цель достигается тем, что по способу определения кривизны поверхности раздела сред путем облучения этой поверхности световым пучком и регистрации направления распространения отраженного пучка осуществляют сканиро- 30 ание световым пучком вдоль исследуемой поверхности и определяют. время, в. течение которого пятно, сформированное отраженньм пучком, проходит з ад а нное расс т оя ние .

Ка чертеже изображена принципиальная схема устройства для реализации описываемого способа. устройство содержит источник 1 света, призму 2,кювету 3 с исследуемой жидкостью 4,имеющей границу 5 раздела сред, Призма 2 закреплена на подвижном держателе 6, который перемацается между двумя направляющими

7 в горизонтальном направлении с помощью синхронного двигателя 8 и при- водного вала 9, Устройство содержит также фотоэлектронные преобразователи 10 и 11, которые соединены через электронное устройство 12 с электрическим измерителем 13 времени, Устройство работает следующим образом.

Горизонтальный луч света от источника 1 света отражается призмой

2 к измеряемой граничной поверхности 5. Отраженный от граничной поверхности 5 световой луч при соотнетстВующем положении призмы 2 попадает на фотоэлектронные преобразователи * вЂ” - =- =- :-:--=

Р вЂ”,v с ° И фф . -,.-д „..-.

/ агав ностного натяжения призма 2 устанав- (2соь А/2-ЙнсЪцА(41 лйвается в положение, при котором плотность нижней среды, g вЂ” плотсветовой луч отражается от граничной ность верхней среды, д - ускорение

nîâåÐõíocTè перпенДикулЯРно ввеРх,За- силы тяжести, с вЂ” постоянная интегритем включается синхронный двигатель 5

8. Благодаря этому призма 2 движется с постоянной скоростью в направлении к синхронному двигателю 8. При Формула изобретения определенном положении призмы 2 отраженный от граничной поверхности . 0 Способ определения. кривизны поверхсветовой луч попадает на фотозлект- ностй раздела сред путем облучения ронный преобразователь 10. Возника- этой поверхности световым пучком и ющий при этом электрический сигнал регистрации направления распростране йспользуется для включения электри-. . " ния отраженного пучка, о т л и ч ачеакого Измерителя 13 времени. IIoc- ю шийся тем, что, с целью повы пе" nðîõîæäåééÿ призмой 2 определен- щения точности, осуществляют сканиройого расстояния отраженный от грани "ванйе световым пучком вдоль исследуной поверхностй световой луч йойада« емой поверхности и определяют время, ет на фотоэлектронный преобразова- в течение которого пятно, сформиро.тель 11. Возйикающий при этбм злект- ва йое отраженным пучком, проходит заРический сигнал используется для вы- данное расстояние, включения электрйческого измерите я источники информации, "13 % Жмени . . принятые вс внймание при экспертизе

Если углы 14 и 15, а также ско- 1. Хвольсон О.Д, Курс физики. Беррость движения призмы 2 известны, то лйн, 1923, т. 1, с . 470-473.

Можно по измеренному времени рассчи- 2, Хвольсон О.Д. Курс. физики. Бертать поверхностное- йатяженйе по сле- лин, 1923, т. 1, с . 489-490 (протоЙую@ей "формуле! .. тип) .

ЦНИИПИ Заказ 8296/51 Тираж 1073 Подписное

l филиал ППП . Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ определения кривизны поверхности раздела сред

Подложка для исследования политерм поверхностного натяжения металлических расплавов // 700824

Способ определения коэффициентов диффузии кислорода в жидких металлах // 699400

Способ измерения коэффициента диффузии в монокристаллических образцах чистых металлов // 697883

Способ исследования электрокапиллярных явлений на жидком электроде // 693160

Устройство для определения поверхностного напряжения жидкостей // 693159

Устройство для определения кавитационной способности жидкостей // 693158

Диффузионная ячейка // 688869

Способ определения прочности окисной пленки жидких металлов // 685959

Способ исследования процесса выбирания компонентов дубильного раствора // 667871

Экспресс-метод оценки смачивающей способности волокнистых частиц // 2100797

Способ определения молекулярно-массового распределения молекул полимера // 2105285

Изобретение относится к способам определения молекулярно-массового распределения как линейных полимеров, так и межузловых цепей сетчатых полимеров

Способ определения полярных граней полупроводниковых соединений // 2105286

Изобретение относится к технологии материалов электронной техники, в частности к способам определения полярных граней полупроводниковых соединений типа AIIIBV (InSb, GaSb, InAs, GaAs, InP и Gap) и может быть использовано для ориентации монокристаллических слитков и пластин

Способ определения профиля мениска жидкости // 2108563

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей

Способ снижения поверхностного натяжения жидкостей // 2114414

Изобретение относится к области физики поверхностей

Способ исследования диффузной границы фаз // 2119654

Изобретение относится к физике и химии поверхностных явлений и может быть использовано для определения параметров двойного электрического слоя на границе фаз

Способ измерения объема адсорбированных частиц в системе электрод - электролит // 2119655

Изобретение относится к физической химии

Устройство для определения маслянистости смазочных материалов // 2125256

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к устройствам для испытания смазочных масел

Устройство для измерения поверхностного натяжения жидкости // 2135981

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к пневматическим устройствам для измерения поверхностного натяжения жидкостей, и может найти применение в таких отраслях промышленности, как химическая, лакокрасочная и пищевая промышленность

Способ определения относительной моющей способности поверхностно-активных веществ // 2139518

Изобретение относится к области подготовки нефтей и разрушения водонефтяных эмульсий, стабилизированных природными эмульгаторами и различными видами механических примесей