Устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот

!

r лт, О П Й-"С (- "Я- И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВЙДЕТЕЙЬСХВУ

Союз Соеетских (щ 694820

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свпд-ву (22) Заявлено 25,11.77 (21) 26482681 18-09 с присоединением заявки № (51) М. Кл."G 01k 27/26 ло лелем изобретений (43) Опубликовано 30.10.79. Бюллетень ¹ 40 (53) УДК 621.317 (088.8) и открытий (45) Дата опубликования описания 30.10.79 (72) Автор изобретения

Б. С. Васянин (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

ДИЭЛЕКТРИКОВ В ПОЛОСЕ ЧАСТОТ

ГосударстееииыЙ комитет (23)

23 Приоритет

Изобретение относится к технике радиоизмерений.

Известно устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот, содержащее свип-генератор, усилитель импульсов стабилизации, делитель мощности, датчик полных сопротивлений, короткозамкнутый отрезок волновода с исследуемым образцом и унифицированный индикатор (1).

Недостатком этого известного устройства является сложность процесса измерения.

Известно также устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот, содержащее свип-генератор, к сверхвысокочастотному выходу которого подключены последовательно соединенные развязывающий элемент и основные каналы направленных ответвителей прямой и отраженной волн, вторичные каналы которых соединены с индикатором через детекторы, и линию передачи с исследуемым диэлектриком, подключенную к выходному плечу основного канала направленного ответвителя отраженной волны (2).

Однако и это известное устройство не обеспечивает простой процесс измерения.

Цель изобретения — упрощение процесса измерения.

Для этого в устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот, содержащее свип-генератор, к сверхвысокочастотному выходу которого подключены последовательно соединенные развязывающий элемент и основные каналы направленHbIx ответвитслей прямой и отраженной волн, вторичные каналы которых соединены с индикатором через детекторы, и линию передачи с исследуемым диэлектриком, под10 ключенную к вы. одному плечу основного канала направленного ответвителя отраженной волны, вторичные каналы которых соединены с индикатором через детекторы, и лпппю передачи с исследуемым дпэлектри15 ком, подключснную к выходному плечу основного канала направленного ответвителя отраженной волны, введена регулируемая по величине реактивность, установленная в месте соединения основных каналов направ20 ленных ответвптелей прямой и отраженной

ВОлн, пр11 этом лllн11я передачи с исследуемым д11элсктр иком Выполнена короткозамкнутой.

На IUpTeZie пр;1всдсна cTp) KTvpHBH схе>1а

25 предлагаемого устройства.

Устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот содержит свип-ге11ератор 1, к сверхвысокочастотному выходу которого подключены последова30 тельно соединенные развязывающий элемент

694820 г (1

) !

С- — «

1 =

Заказ 2619/:l0 Изд. ¹ 626 Тираж 1090 Подписное

НПО «Поиск»

Типография, пр. Сапунова, 2

2 и основные каналы направленных QTBoòâ!II o. I Il 3 li 4 прямой II отраженной BQJIH, ВТоричные каналы которых соединены с индикатором 5 через детекторы 6 и 7, линию 8 передачи с исследуемым диэлектриком 9, подключенную к выходному плечу ociloBIIQго канала направленного ответвителя 4 отраженной волны и регулируемую по IIO;»Iчине реактивность 10, установленную в месте соединения основных каналов нанрав- !О ленных ответвителей 3 и 4 прямой и отра>кенной волн, при этом линия 8 передачи с исследуемым диэлектриком 9 выполнена короткозамкнутой.

Свин-генератор 1 состоит из блока 11 1о сверхвысокои частоты, блока 12 частотной модуляции, блока 13 амплитудной модуляции и блока 14 автоматической регулировки мощности, при этом напряжения питания на свип-генератор 1 подаются с блока 15 20 питания.

Устройство работает следующим образом.

СВЧ сигнал, модулированный Ilo частоте, со свип-генератора 1 через развязывающий элемент 2, основной канал направленного 26 ответвителя 3 прямой волны, регулируемую

»о величине реактивность 10, основной канал направленного ответвителя 4 отраженной волны поступает в линию 8 передачи с исследуемым диэлектриком 9, отражается 60 от короткозамыкатсля 16 линии 8 передачи и через вторичный канал направленного ответвителя 4 отраженной волны подается на детектор 7, где он детектируется и поступает на индикатор 5, где происходит его усиление и сравнение с сигналом, прошедшим через вторичный канал направленного ответвителя 3 прямой волны и детектор 6, 3а счет многократного отражения СВЧ энергии от регулируемой по величине реак- 10 тивности 10 и короткозамыкателя !6 на экране электронно-лучевой трубки индикатора 5 наблюдаются зоны пропускания и зоны задерживания. По частотному свечению зон пропускания при внесении исследуемого диэлектрика 9 в линию 8 передачи определяется диэлектрическая проницаемость исследуемого диэлектрика 9, а по уменьшению амплитуды — тангенс диэлектрических потерь.

Применение устройства упрощает процесс измерения по сравнению с использованием прототипа.

Формула изобретения

Устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот, содержащее свип-генератор, к сверхвысокочастотному выходу которого подключены последовательно соединенные развязывающий элемент и основные каналы направленных отвствителей прямой и отраженной волн, вторичные каналы которых соединены с индикатором через детекторы, и линию передачи с исследуемым диэлектриком, подключенную к выходному плечу основного канала направленного ответвителя отраженной волны, о тл и ч а ю ще е с я тем, что, с целью упрощения процесса измерения, введена регулируемая по величине реактивность, установленная в месте соединения основных каналов направленных ответвителей прямой и отраженной волн, при этом линия передачи с исследуемым диэлектриком выполнена короткозамкнутой.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Бондаренко И. К. и др. Автоматизация измерений параметров СВЧ трактов. М., Советское радио, 1969, с. 241.

2. Авторское свидетельство СССР № 406171, кл. G 01R 27/26, 1971 (прототип).