Устройство для измерения нестабильности электрических параметров полупроводниковых приборов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Респубпик (1)) 615433 я и м 4.(6l) Дополнительное к ает. свиа-ву (22) Заявлено 01,11.76(21) 2416296/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано15.07.78.бюллетень Хе 26

2 (51) М, Кл.

6г 01 R 31/26

Государственника номнтет

Совета Инннстроа СССР оо делам нзабретеннй и отнрмтн, (53) УДК 621.382. .2(088,8} (45) Дата опубликования описания 37(@78 (72) Автор изобретения

В. В. филиппов (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЕСТАБИЛЬНОСТИ

ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ПРИБОРОВ

I l

Изобретение относится к области электронной техники н предназначено для измерення нестабильности электрнческнх параметров полупроводннковых приборов.

Известны устройства для нзмерення нестабильности электрических параметров полупроводниковых элементов, содержащие усилитель, днодные селекторь, реле временн н элементы памяти, включаемые в два момента времени (1)

Недостатком таких устройств является невозможность измерять нестабильность знакопеременного характера, а также аналоговая форма выходного сигнала, снижающая точность измерения.

Наиболее блнзкнм по техннческой сущности к предлагаемому изобретению является устройство для измерения нестабнльностн электрических параметров полупроводниковых приборов, содержащее реверснвный счетчик, блок управления, преобразователь

«код-аналог», масштабный усилитель, реле времени, "енератор импульсов н блок ннднквинн, устройство задержки, а также дешифратор.н триггер реверса fZJ, Недостатком известного устройства является невозможность измерения относнтельной величины нестабильности ннтересующе2 го параметра, которая должна при этом определяться аналитически.

Цель изобретения — измерение относи тельной величины нестабнльностн.

Это достигается тем, что в.предлагаемое устройство дополнительно введены компара> тор, управляемый генератор нмпульсов, логнческнй элемент «И», счетчик нестабнльностн и схема сравнения кодов, нрнчем выходы реверсивного счетчика через преобразователь «код-аналог», а масштабного уснлнц теля — непосредственно соедннены со входани компаратора, выход которого соедннен ео схемой управления, выходы которой соедннены с управляющнми входами реверсивного счетчика и управляемого генератора импульсов, выход которого соединен со т5 счетным входом реверсивного счетчика н через логнческнй элемент «И» со входом счетчика нестабильности, шина «сброс» которого соедннена с выходом схемы сравнения кодов, входы которой соединены соответственно с выходамн счетчика нестабнльностн н выходами старших разрядов реверснв ного счетчика.

На чертеже представлена блок-схема опн сываемого устройства для измерения нестабнльностн электрических параметров полум проводннковых приборов.

615433

3S

Устройство содержит масштабный усилитель 1, двухвходовый регенеративный компаратор 2, логическое устройство 3, генератор 4 импульсов, реле 5 времени, управляемый генератор б импульсов, преобразователь 7 «код-аналог», счетчик 8, логические» элементы «И» 9, схему 10 сравнения кодов, счетчик 11 нестабильности, блок 12 индикации;

Устройство работает следующим образом.

По сигналу «пуск» включается реле 5 времени, счетчик нестабильности сбрасывается в исходное состояние. Выходное напряжение масштабного. усилителя 1 поступает на один вход регенеративного компаратора 2, на другой вход которого поступает напряжение с преобразователя 7 «код-аналог». Результат сравнения напряжений пос.тупает на логическое устройство 3, которое управляет режимом работы реверсивного счетчика 8.

1. При U&x(U a-а логическое устройство 3 переключает реверсивный счетчик 8 в режим «сложение».

2. при J3 <)U<<-в логическое устройство 3 переключает реверсивиый счетчик 8 в режим «вычитание».

3. при U4agg=Us"а логическое устройство 3 запрещает заполнение реверсивного счетчика 8 импульсами с управляемого re; иератора 6.

Допустим для простоты, что реверсивный счетчик 8 состоит из трех декад двоична-десятичных счетчиков, счетчик 11 нестабильности содержит один двоична-десятичный счетчик. Схема 10 сра ;нения кодов выявляет совпадение кодов, что означает равенство чисел во всех разрядах счетчика нестабильйостн и старшей декаде реверсивного счетчика.

Реле 5 времени через логический элемент «И» 9 дает разрешение на заполнение счетчика 11 нестабильности. При измерении нестабильности импульсы, идущие в реверсивный счетчик 8 через элемент «И» 9 проходят в счетчик 11 нестабильности.

Предположим, что прн измерении нестабильности в интервале времени t в реверснвный счетчик 8 проходят шесть импульсов, так как в старшей декаде реверсивного счетчика 8 находится цифра 3, то счетчик 11 нестабильности считает только до трех, и каждый третий импульс попадает в блок 12 индикации. Для данного случая в блок 12 индикации, попадает 2 импульса, что соответствует относительной нестабильности измеряемого параметра, равной 2%.

Запоминание знака монотонного дрейфа и обработка числа импульсов схемы 10 сравнения кодов осуществляется блоком 12 индикации. Если за время измерения ht монотонное изменение параметра не превысит допустимую норму, которая задана блоку 12 индикации в относительных единицах, то прибор считается годным. При наличии знакопеременного дрейфа наблюдается переключение разрешающих входов реверсивного счетчика 8 за время измерения. Информация о переключении входов поступает на блок 12 индикации, который запоминает ее, Через заданное время At реле 5 времени . выключается, и контроль стабильности электрического параметра заканчивается.

Блок 12 индикации сигнализирует о годности нли .причине выбраковки проверенного полупроводникового прибора.

Схема измерителя проста, позволяет asтаматизировать процесс контроля нестабнль ности обратных токов н статического коэффициента передачи тока (Вст) с высокой точностью.

Рассмотрим процесс измерения нестабильности электрического параметра. При подаче сигнала на вход устройства он преобразуется масштабным усилителем 1 в напряжение; которое поступает на один вход, регенеративного компаратора 2.:

При этом U и с масштабного усилителя 1 ,.больше U «-a преобразователя 7 «код-ана- 4» лог». Поэтому схема 3 управления перево-. дит реверсивный счетчик 8 i режим «сложение» я разрешает его заполнение импульсами генератора 6. В реверснвный счетчик заносится величина, соответствующая абволютной величине измеряемого параметра, относительно которой измеряется нестабильность. Допустим, что этому абсолютному значению в реверсивном счетчике соответствует численное значение, равное 300.

Заполнение реверсивного счетчика приводит к увеличению напряжения на выходе преобразователя «код-аналог». Прн U4alx Uq схема 3 управления запрещает заполнение реверсивного счетчика 8 и начинает постоянно отслеживать уровень входного сигнала. 69

Предлагаемое устройство может быть использовано как в качестве отдельного прибара для измерения нестабильности электрических параметров, так и в качестве блока для автоматических классификаторов полупроводниковых приборов.

Ф рмула изобретения

Устройство для измерения нестабильности электрических параметров полупроводниковых приборов, содержащее реверсивный счетчик, схему управления, преобразователь «код-аналог», м::сштабный усилитель, реле времени, генератор импульсов и блок .индикации, отличающееся тем, что, с целью измерений относительной величины нестабильности, в него дополнительно введены комп аратор, управляемый генератор импульсов, логический элемент «И», счетчик нестабильности и схема сравнения кодов, причем вы оды реверсивного счетчика через преобразователь «код-аналог», а масштабного усилителя — непосредственно oe615433

Редактор Л. натанова

Заказ 3904/36

ЦНИИПИ Государственного номятета Совета Мнннстров СССР но делам нзебретвннй н отнрменй

113035, Москва, Ж-35, Ратшская наб., д. 4/5

Фнлнал ППП сПатенть, г. Ужгород, ул. Проектная. 4 динены со входами компаратора, выход которого соединен со. схемой управления, выходы которой соединены с управляющими входами реверсивного счетчика и управляемого генератора импульсов, выход которого соединен со счетным входом реверсивно,го счетчика и через логический элемент «И» со входом счетчика нестабильности, шина

«сброс» которого соединена с выходом схемы сравнения кодов, входы которой соедииены соответственно с выходами счетчика нестабильности и выходами старших разрядов реверсивного счетчика.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Авторское свидетельство СССР № 163820, кл. G 01 К 31/26, 1964.

2. Авторское свидетельство СССР № 372521, кл. G 01 К 31/26, !970.

Составнтель И. Музанов

Телред О. Луговая Корректор И. Гокснч

Тнраж 1112 Подпнсное

Устройство для измерения нестабильности электрических параметров полупроводниковых приборов Устройство для измерения нестабильности электрических параметров полупроводниковых приборов Устройство для измерения нестабильности электрических параметров полупроводниковых приборов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх