Способ измерения смещения электронного следа на точечном элементе экрана цветного масочного кинескопа

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11i 5 79665 (61) Дополнительное к авт. свнд-ву— (22) Заявлено 05,04,76 (21) 2346486/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 05.11.77. Бюллетень №4 (45) Дата опубликования описания 22.11.77.2 (51) М. Кл.

Н 01 Q 29/76

Государственный комитет

Вооетв Министров СССР оо делам изобретений н открытий (53) УДК 621.385 (088.8) (72) Авторы изобретения

A. N, Скорин, Г. В, Попов, Г, If. Мешкаускас и Ю, В, Раткявичус (71) Заявитель (54) С11ОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СМЕЩЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОГО

СЛЕДА НА ТОЧЕЧНОМ ЭЛЕМЕIГГЕ ЭКРАНА 1(ВЕТНОГО

МАСОЧНОГО КИНЕСКО11А

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике для цветных телевизионных устройств, Оно может быть использовано при проверке качества цветных кинескопьв масочпого THIIQ и их отклоняющих сис- 5 тем, Известны способы измерения смещения электтронного следа относительно точечного элемента экрана в кинескопах (1), где электронный след меньше точечного алемента, с 10 помощью измерительного микроскопа или путем фотографирования с последующей обработкой увеличенного изображения. Эти способы весьма трудоемки.

Наиболее близким к предложенному тех- 15 ническому решению является способ измерения смешения электронного следа на точечном. апементе экрана цветного масочного кинескока путем использования дополнительного маг нитного паля j2 (. Этот способ пригоден 20 дпя выявления центра смещенного электронного следа в кинескопе, в котором апектронный след больше точечного элемента. После выявления центра измерения производят так же, как в кинескопах с электронным, следом, 25 меньшим точечного апемента. Для измерений испапьзуют измерительный микроскоп, Последний не обеспечивает высокой точности иэ-за сложности выявления центра точечного элемента экрана, так как контур точечных элементов в реальных кинескопах отличается от окружности. Фотографирование и последующая обработка увеличенного изображения занимают много времени. Указанные способы не поз. воляют однозначно определить направление

I смешения.

Бель изобретения — повышение точности, упрощение и ускорение процесса измерении.

Поставленная цель достигается тем, что дополнительным магнитным полем, действующим в зоне между катодами и условным центром отклонения, перемешают луч на экране кинескопа до выставления апектронного следа котщентрично точечному апементу экрана, и по перемещению луча па экраце определяют величину и направление смещения апектронного следа на точечном элементе экрана.

На фш. 1 показано смешение апектро ьного следа относительно точечногь элемента

579665 экрана для одного из цветов: на фиг, 2положение электронного следа после совмещения его с точечным алементом с помощью дополнительного поля, на фиг, 3 — перемещение луча при совмещении электронного 5 следа с точечным алементом, Дополнительное магнитное поле действует в плоскости 1, расположенной между катодами 2 и условным центром отклонения З,,При отсутствии дополнительного магнитного поля»ð луч 4 после. прохождения через отверстие маски 5 высвечивает алектронный след на экране 6 с центром в точке 7, смещенной относительно точечного апемента 8 экрана, Под воздействием дополнительного магнитнс 15 го поля луч займет положение 9 и высветит апектронный след с центром в точке 10, раоположенный концентричпо точечному элементу (см,. также фиг. 2).

К оэффициепт пропорциональности опреде- 2р

\ ляется следующим соотношением:

A)( х1 o( где Q х — смешение электронного следа 25 ! относительно точечного элемента экрана; дх - перемещение луча под воздействием дополнительного магнитного поля;

30 - геометрические соотношения кинескопа, Для измерения смещения алектронного следа, например, на кинескопе 59ЛКЗЦ в качестве источника дополнительного магнитного паля может быть использован электромагнит, обеспечивающий независимую регулиров. ку перемещения луча по вертикали и горизонтали. При отсутствии развертки и допол:— нительного магнитного поля фиксируют исход- 4р ное положение луча на экране кинескопа.

Затем при включенной развертке и сигнале, обеспечивающих свечение экрана в проверяемом месте, регулировкой дополнительного магнитного поля апектронный след выставляют концентрично точечному элементу экрана (выставление контролируется с помол»ью оптических средств). Отключают развертку и измеряют в координатах перемещение луча кинескопа относительно исходного положения, При коэффициенте пропорциональности, например, К = 400 смещение электроНного следа относительно точечного элемента на величину 0,1 мм компенсируется магнитным полем, переместившим луч по экрану кинескопа на 10»им, Перемещение луча указан ного порядка можно измерять с помощью простейших средств., Предложенный способ реализуется с помощью сравнительно простых средств, например оптических, имеющих грубую (милли.,метровую) шкалу,. Он позволяет однозначно определить направление смещения, производить измерения при неправильной форме точечных элементов экрана, при этом время измерений уменьшается, Формула изобретения

Способ измерения смеиюния электронного следа HQ точечном элементе экрана цветного масочпога кинескопа путе и лспспьзования дополнительного магнитного полы, о т л ич а ю шийся тем, что с целью повышения точности, упрощения и ускорения процесса измерения, дополнитель»»ым магнитным полем, действующим в зоне между катодами и условным центром отклонения, перемещают луч на экране кинескопа до выставления элект ронного следа концептрично точетному апементу экрана, и по перемещению луча по экрану определяют величину и паправление смещения электронного следа на точечном элементе экрана, И сточники информации, принятые во внимание при экСпертизе: r "Гоме".А.М»И»оп Sports 13efare ои»". Fusee,,Ô»råÈåá glared",МагсЬ, 196? р. 306- i f i .

2. Патент ФРГNO 2025327, кл. 2 1 N 9/64

1 970.

Фиг. 7

Составитель A.,Üèøàåâ

Техред М. Левицкая Корректор П. Макаревич

Редактор Т. Орловская

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Заказ 4403/48 Тираж 976 П одпис ное

БНИИПИ государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5