Прибор для определения степани очистки металлической поверхности

 

(t

О П И С"А Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

«и) 552519

Союз Советских

Социалистических

Республин

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 01.04,75 (21) 2118970(25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.03.77. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 08.04.77 (51) М. Кл. G 01J 1(04

Государственный комитет

Совета Министров СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК 535.24(088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

Г. М. Городинский, А. Н. Шестов и А. М. Луковский

Проектный институт научно-производственного объединения

«Лакокраспокрытие» (54) ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ОЧИСТКИ

МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения степени очистки металлической поверхности перед окраской.

Известны устройства для контроля, содержащие осветитель, оптическую систему формирования излучения, регистрирующий блок.

Недостатком такого типа устройств является недостаточная точность определения.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству является прибор для определения степени очистки металлической поверхности, содержащий осветитель, блок питания, фотоприемник, регистрирующий блок.

Недостатком таких устройств также является недостаточная точность определения и чувствительность.

Целью изобретения является повышение чувствительности и точности определения.

Цель достигается тем, что в прибор введен эллиптический отражатель, выполненный в виде усеченного эллипсоида вращения, причем секущие плоскости проходят через фокусы отражателя, в одном из которых расположен исследуемый образец, в другом — фотоприемник.

Схема предлагаемого прибора представлена н а чертеж е.

Оптическая головка состоит из осветителя, включающего источник света — лампу накаливания 1 в корпусе 2 с патроном 3, объектив 4, зеркало 5, и приемной части, состоящей пз

5 эллиптического отражателя 6 с защитным стеклом 7 и кронштейна 8 с установленным на нем фотоприемником 9.

Внутренняя поверхность эллиптического отражателя полирована и алюминнрована. Элек10 трпческий блок состоит из стабилизатора напряжения блока питания 10 для питания источника света, регистрирующего блока — мпкроамперметра 11.

Прибор работает следующим образом.

15 Изображение нити лампы накаливания 1 с помощью объектива 4 и зеркала 5 проецируется на исследуемый образец 12, которьш находится в фокусе эллиптического отражателя.

Зеркально-отраженный поверхностью образца

20 пучок света возвращается в осветитель, п дпффузно отраженный собирается эллиптическим отражателем на приемную площадку фотоприемника, расположенного во втором фокусе отражателя.

25 Электрический сигнал с фотоприемника поступает на микроамперметр, проградуировапный по тарированным эталонам.

Формула изобретения

30 Прибор для определения степени очистки металлической поверхности, содержащий ос552519

Составитель А. Шеломова

Редактор Н. Коляда

Техред А, Камышникова

Корректор H. Аук

Заказ 679/14 Изд. Хз 308 Тираж 829 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4 5 типография, пр. Сапунова, 2 ветитель, блок питания, фотоприемник, регистрирующий блок, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности определения, в него введен эллиптический отражатель, выполненный в виде усеченного эллипсоида вращения, причем секущие плоскости проходят через фокусы отражателя, в одном из которых расположен исследуемый образец, — в другом фотоприемник.

Прибор для определения степани очистки металлической поверхности Прибор для определения степани очистки металлической поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх