Устройство для измерения малых коэффициентов отражения

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Соцреалистических

Республик (") 511552 (61) Дополнительное к авт. свид-ву 420956 (22) Заявлено16-10-74 (21) 2068401/09 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25-04.76, Бюллетень № 1 5 (45) Дата опубликования описания 03.09.76 (51) М. Кл. С 01Я 27/06

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (Я) УДК 621.317(088.8) (72) Авторы изобретения A- M. Расин, Ю. П. Колмаков, Л. С. Голдобина и В. Г. Кравченко (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ

КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться для измерения коэффициента отражения и диэлектри еской проницаемости диэлектриков.

Известно устройство для измерения малых5 коэффициентов отражения по авт. св.

¹ 420956.

Однако известное устройство не обеспечивает измерение коэффициента отражения при различных углах падения электромагнит-10 ной волны на исследуемый элемент.

Целью изобретения является обеспечение измерения коэффициента отражения при различных углах падения электромагнитной вол15 ны на исследуемый элемент.

Для этого в устройство дополнительно введена металлическая вращающаяся пластина, закрепленная на исследуемом элементе о под углом 90 к нему.

На чертеже приведена схема предложенного устройства.

Устройство для измерения малых коэффициентов отражения дополнительно содержит металлическую вращающуюся пластину 1, 25 закрепленную на исследуемом элементе 2 о под углом 90 к нему.

Устройство работает следующим образом.

Плоскость исследуемого элемента 2 расо положена под углом 90 к плоскости металлической пластины 1, которая вместе с исследуемым элементом 2 устанавливается в ленточной линии 3 таким образом, чтобы обеспечивалось их вращение вокруг оси, проходяптей через вершину угла и линию симметрии ленточной линии 3 перпендикулярно ее плоскости. Устанавливая необходимый угол падения электромагнитной волны на исследуемый элемент 2, производят измерения коэффициента отражео ния при любом угле в пределах от 0 до

90 .

Формула изобретения

Устройство для измерения малых коэффипиентов отражения по авт.св. N 420956, отличающееся тем,что,с целью обеспечения измерения коэффициента отражения при различных углах падения электромагнитной волны на исследуемый

511552 элемент, дополнительно введена металлическая вращающаяся пластина, закрепленная

4 о на исследуемом элементе под углом 90 к нему.

Заказ 5jfjW

Изд. X )QQ Тирам 1029

Подписное

ЦНИИПИ Государствеиното комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, il3035, Рауиская наб., 4

Филиал ППП Патент, r Ужгород, ул. Проектная, 4

Составнтелв О Т

О .Тихонов

Редактор р. 3ииьковски4екред Й. араидащоваКорректор д.БРах ина

Устройство для измерения малых коэффициентов отражения Устройство для измерения малых коэффициентов отражения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области акустических и радиоизмерений и применяется для определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения листовых материалов и плоских поверхностей веществ

Изобретение относится к тестовому блоку базовой станции для тестирования базовой станции в мобильной системе связи, в частности к способу для измерения коэффициента стоячей волны для передающей антенны и приемной антенны, который может тестировать радиоблок базовой станции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованo для измерения полной входной проводимости антенн

Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения оконечных нагрузок в стандартных коаксиальных и волноводных каналах

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в радиопередающих устройствах

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств с стандартных каналах и для антенных измерений

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям радиофизических характеристик радиопоглощающих покрытий (РПП)

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при создании панорамных измерителей параметров СВЧ устройств
Наверх