Электронный дефектоскоп

тГ "

" .:«"" Я

СО П И С А Н""И Е - i)50615I

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 05.04.74 (21) 2013029/26-25 (51) М.Кл. Н 05 ) I/00

G 01 iU 23/16 с присоединением заявки— (23) Приоритет—

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.384.2

Л 53.082.79 (088.8) (43) Опубликозано 65.03.76. Вюлле-.ель ЪЪ 9

45) Дата опубликования описания 23.07.76 (72) Автор изобретения

В. А. Лисин (71) Заявитель

Научно-исследовательский институт электронной интроскопии при Томском ордена Октябрьской Революции и ордена Трудового Красного Знамени политехническом институте им. С. М. Кирова (54) ЭЛЕКТРОННЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится ск устройствам для неразрушающего контроля качества материалов и изделий.

Известно устройство для электронной дефектоскопии, содержащее источник электронов (бетатрон) и детекторы, подключенные к схеме сравнения, выход которой соединен с регистрируютцим приоором. Это устройство не позволяет,контролировать изделия, и пав. номерные по толщине.

Известно, что максимальная чузствптельность контроля электронным пучком достигается при таком соотношении э, åðãèè электронов зондирующего пучка и т-олщины контролируемого изделия, когда толщина изделия близка к экстраполированному пробегу электронов в нем. При этом вы одной сигнал дефектоскопа сильно зависит от массовой толщины изделия. Эта зависимость является основой высокой чувствительности метода электронной дефектоскопии и в то >ке время она не позволяет с помощью известных устройств контролировать изделия переменной толщины, так как увеличение толщины более чем на 10% приводит практически х полному исчезновению полезного сигнала детектора.

При уменьшении толщины изделия дефектоскоп работает с худшей чувствительностью, возможна даже при насыщении сигнала детектора полная потеря чувствительности прибора к дефектам изделия.

Целью изобретения является контрол1 качества переменных по толщине изделий. Поставленная цель достигается благодаря тому, что устройство снабжено пороговой схемоп сравнения, интегратором и регуляторами фазы вывода ускоренных электронов и анодного напряжения. Выход одного из детекторов соединен последовательно с пороговой схемой и интегратором, выход которого соединен с регулятором фазы вывода ускоренных электронов и с регулятором анодного напряжения.

На чертеже показана схема предложенно15 го дефектоскопа. Контролируемое изделие 1 располагается между источником моноэнергетпческих электронов (бетатроном) 2 и детекторами 3. Выход одного из детекторов соединен с пороговой схемой сравнения 4, кото20 рая подключена к интегратору 5. Выход интегратора соединен с регулятором фазы вывода ускоренных электронов 6» с регуляторами 7, 8 анодного напряжения схем смешения 9 и вывода 10, обеспечивающих зывод электронов из камеры бетатрона. Сигнал о наличии дефекта в контролируемом изделии регистрирует показывающий прибор 11, который соединен с выходом схемы сравнения 12, подключенной к датчикам 8.

Зо Электронный дефектоскоп работает следующим образом. В начальный момент времени изделие 1 с плавно изменяющейся то..— щиной установ чено В исхОднОм положен ли так, чтобы толщина изделия на контролируемом участке была приблизительно равна экстраполированному пробегу электронов с энергией, соответствующей начальному оменту раооты бетатрона 2. 1 роме того, соотношение величины сигнала детектора 8 и уровня порога схемы сравнения 4 выбрано таки ., что в начальный момент времени сигнал а выходе схемы сравнения отсутствует. При движении изделия перпендикулярно направ;Ic:-".Ию Boll Ièðóþùåãо пучка электрочоз равенство сигнала детектора 3 и уровня порога схемы сравнения нарушается. Допустим, изделие установлено и движется так, что пучок электронов в каждый последующий момент времени проходит участки изделия с большей толщиной. При этом сигнал детектора дефектоскопа уменьшается, и на выходе схемы сравнения 4 появляются результирующие cèãíàëû, которые суммируются интегратором 5. Суммарный сигнал с выхода интегратора, поданный на регулятор фазы вывода 6 и регуляторы анодного напряжения высоковольтных схем 7, 8, IBîçäåécòBóåò на фазу вывода электронов и величину анодных напряжений таким образом, что при уменьшени:л сигнала детектора (при увеличении толщины контролируемого изделия) увеличивается фаза вывода электронов и анодное:. апряжение высоковольтных схем 9, 10, а в согтветствии с ними и энергия выведенного пччка электронов.

Если изделие перемещать так, чтобы контролируемая толщина постепенно умепьшалась, то полярность сигнала на выходе схемы сравнения 4 изменится и в результате энергия выведенного электронного пучка начнет уменьIUBTbCSI. В geJI034 ре>КНМ работы B каждо | конкретном случае подобран та::;, что в процессе,контроля между энергией электро:-<Ов и толщиной:изделия на участке, через которь.и электроны проходят в данный момент, существует однозначное соответствие, выражающееся B том, что толщина изделия на контролируемом участке равна экстраполирован I0му пробегу падающ Ix на него электронов.

Та кое соотношение обеспечивает постоянный уровень сигналов детекторов 3 за изменяют щейся при движении изделия толщиной. Поскольку детекторы 8 дефектоскопа подключены к схеме сравнения 12, то изменение сигналов в области некоторой средней величины, обусловленное медленным изменением тол10 щины, не приводит к появлению оигнала на выходе схемы сравнения 12. Другими словами, предложенное устройство исключает возможность принять сипнал о медленном изменечгии толщины за сигнал о дефекте. !

5 С другой стороны, устройство выполнено та к, ITO время,принятия устройством решения о качестве изделия на данном участке во много раз меньше времени принятия решения об изменении энергии. Таким соотношением

20 исключается пропуск дефекта детектором, подл<люченным к схеме сравнения 4, когда дефект появляется в его поле зрения.

Если в поле зрения одного из детекторов появляется дефект, то в зависимости от характера дефекта сигнал детектора возрастает или уменьшается, что приводит к возникновению соответствующего сигнала на BbIvo;;e схемы сравнения 12. Сигнал о пали пли Дефекта регистрируется прибором 11.

Формула изобретения

Электронный дефектоскоп, содержащий источник моноэпергетических электронов бетатрон, детекторы, подключенные к схеме сравнения, выход которой соединен с регист.рирующим прибором, отличающийся тем, что, с целью контроля качества переменных по толщине изделий, устройство снабже40 но пороговой схемой сравнения, интегратором и регуляторами фазы вывода ускоренных эле;<тронов и анодного напряжения, причем выход одного из детекторов соединен последовательно с пороговой схемой и интеграто45 ром, выход,которого соединен с,регулятором фазы вывода ускоренных электронов и с регулятором анодного напряжения.

5Î6151

< 1

Корректор И. Симкина

Редактор Т. Орловская

Заказ 701/897 Изд. ¹ 308 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР

iio делам изобретений и открытий

Москва, )K-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент».

1 !

Составитель Т. Дозоров

Текред В. Рыбакова

)

I 3