Устройство для измерения температуры
00 499508
ОП ИСАНИ Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Юоюа Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 08.08.73 (21) 1952075/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 15.01.76. Бюллетень № 2
Дата опубликования описания 05.04.76 (51) М. Кл. G 01К 11/00
Госудврствеииый комитет
Совета Иииистров СССР ло лелем иаобретеиий и открытий (53) УДК 536 5(088 8) (72) Авторы изобретения
Б. И. Молочников и Г. К. Костюк (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ
Изобретение относится к области температурных измерений.
Известны устройства для измерения температуры, содержащие источник плоскополяризованного света, фотоэлектрический измери,тельный блок, термочувств ительный элемент, расположенный между источником света и измерительны|м блоком.
Однако эти устройства обладают низкой чувствительностью.
Для повышения чувствительности в предлагаемом устройстве термочувствительный элемент выполнен из одноосного кристалла, вырезанного параллельно главной опти.:еской оси, причем его главные направления составляют у"гол 45 с плоскостью поляризации падающего света и главными направлениями компенсатора фотоэлектрического блока.
Прин ципиальная схема описываемого устройства изображена на чертеже.
Источник плоскополяризованного света образован лазером 1, зеркалом 2 и поляризатором 3. Свет от лазера 1 отражается зеркалом 2, проходит через поляризатор 3 и через защитное стекло 4 по падает в камеру, температуру внутри которой измеряют.
В камере расположен кристалл-термодатчик 5,,вырезанный параллельно оптической оси. Главные направления кристалла ориентированы под углом 45 к плоскости поляризации поляризатора 3. Для уменьшения габаритов устройства на поверхность 6 кристалла нанесено отражающее покрытие.
5 Плоокополяризованный световой пучок после прохождения кристалла преобразуется в эллиптически поляризованный. Величина элиптичности света, зависящая от двулучепреломления кристалла, которая, в свою очередь, 10 является функцией температуры, измеряется компенсатором 7 разности фаз, главное направление которого параллельно плоскости поляризации поляризатора 3, и фотоэлектрической системой, содержащей модулятор 8
15 типа Фарадея, анализатор 9, фотоприемник
10, усилитель 11, отрабатывающий, двигатель с редуктором 12 и отсчетную шкалу 13. Измерение осуществляется в следящем режиме обычным образом.
20 В качестве термочувствительного элемента иопользуются кристаллы, обладающие ярко выраженной зависимостью двулучепреломления от температуры, например кристаллы кальцита, АДР, КДР и др. У этих кристал25 лов разл ичны термооптические коэф фициенты показателя преломления для обыкновенного и необыкновенного лучей. Изменение температуры среды, а следовательно, и кри сталла приводит к изменению разности хода
30 между обыкновенным и необыкновенным лу4995О8
Формула изобретения
Составитель В. Куликов
Техред Е. Митрофанова Корректор А. Галахова
Редактор И. Петрашень
Заказ 571/6 Изд. ¹ 1048 Тираж 814 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, %-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 чами, т. е. к изменению эллиптичности прошедшей световой волны, которая и регистрируется фогоэлектрическим измерительным блоком.
Предлагаемое устройство позволяет оценить изменение температуры с чувствительностью выше К вЂ” " град.
Устройство для измерения температуры, содержащее источник плоскополяризованного света, фотоэлектрический измерительный блок, состоящий из компенсатора, модулятор ра, анализатора и фотопр иемника, термочу ствительный элемент, расположенный между источни ко м света и измерителыным блоком, отл.ич ающееся тем, что, с целью повышения чувствительности, термочувствительElbIH элемент выполнен из одноосного кристалла, вырезанного параллельно главной оптической оси,,причем его глав ные направления составляют угол 45 с плоскостью поляризации падающего света и главными направлениями ком пенсатора фотоэлектрического блока.
