Способ определения времени проявления и оптимальной экспозиции
О П И С А Н И Е (ii1 49376G
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 26.08.74 (21) 2054589/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 30.11.75. Бюллетень ¹ 44
Дата опубликования описания 04.03.7б (51) М. Кл. О 03с 5, 02
Государственный комитет
Совета Мннистров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 771.534,52
{088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель
Э. Д. Тамицкий и В. С. Пейрик
Государственный научно-исследовательский институт земельных ресурсов (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ПРОЯВЛЕНИЯ
И ОПТИМАЛЬНОЙ ЭКСПОЗИЦИИ
Изобретение относится к фотографическим способам и процессам.
Известны способы определения времени проявления и оптимальной экспозиции путем визуального сравнения плотности испытуемого негатива с плотностью эталонного нейтрально-серого поля.
С целью упрощения и ускорения процесса ступенчатую шкалу клина-компенсатора совмещают со ступенчатой шкалой пробного негатива до получения равномерного ceiporo поля суммарных плотностей, а затем полученное серое поле уравнивают с эталонным нейтрально-серым полем путем смещения клина-компенсатора на целое число полей, по которому считывают экспозицию.
На фиг. 1 показана схема определения времени проявления, не фиг. 2 — схема определения экспозиции.
При осуществлении способа последовательно выполняют следующие операции: предварительно экспонируют серую ступенчатую шкалу; полученное скрытое изображение проявляют, фиксируют и промывают; негативное изображение серой шкалы рассматривают визуально вместе с набором ступенчатых клиньев-компенсаторов, плотность полей которых нарастает навстречу плотностям негатива серой шкалы, образуя в сумме равномерное серое поле.
Далее наблюдают на просвет шкалу, представляющую собой сумму оптических плотностей испытуемого негатива и одного из эталонных клиньев-компенсаторов. Рассматри5 вая одновременно все поля, обнаруживают нарастание плотностей полей вправо илп влево, что является показателем перепроявления (фиг. 1, в) или недопроявления (фиг. 1,а) негатива по отношению к задан10 ному оптимальному коэффициенту контрастности (фиг. 1, б). Вводят поочередно,ряд клиньев-компенсаторов до получения равномерного серого поля и получают поправку во время проявления в процентах.
15 Сопоставляя полученное равномерное серое поле с оптимальной эталонной плотностью, обнаруживают либо совпадение оптических плотностей негатива и компенсатора с эталонной, что свидетельствует о пра20 вильной экспозиции (фиг. 2, д), либо разницу в плотностях, что указывает на недодержку (фиг. 2,г) или передержку (фиг. 2, е). Смещая компенсатор на одну — две ступени вправо или влево, добиваются равенства
25 плотностей негатива и компенсатора с эталонной плотностью и отсчитывают поправку в экспозицию.
Определение поправок занимает несколько минут и обеспечивает высокую точность бла30 годаря одновременному визуальному сопоставлению оптических плотностей.
493760
Предмет изобретения б
Фиг.1
Составитель Л. Теплова
Техред Е. Митрофанова
Редактор Н, Батурина
Корректор М. Лейзерман
Закаа 145/19 Изд. № 2029 Тираж 529 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
Способ определения времени проявления и оптимальной экспозиции путем визуального сравнения плотности испытуемого негатива с плотностью эталонного нейтрально-серого поля, отличающийся тем, что, с целью упрощения и уск1зрения процесса, ступенчатую шкалу клина-компенсатора совмещают со ступенчатой шкалой пробного негатива до получения равномерного серого поля суммарных плотностей, а затем полученное серое поле уравнивают с эталонным нейтрально-се5 рым полем путем смещения клина компенсатора на целое число полей, по которому считывают экспозицию.
Приоритет 02.04.73.
