Способ определения напряжений в объектах
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН Ия
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (i1j 493625 союз тюветскик
Сониалистическик
Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04,05.73 (21) 1918799/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.11,75. Бюллетень № 44 (45) Дата опубликования описания 09.06.78
Гасударственные комитет
Совета Министров СССР но делам изобретений н открытий (53) УДК 531.781.2 (088.8) (72) Авторы изобретения
Х. К. Абен и А. Ю. Саар
Институт кибернетики AH Эстонской ССР,(1) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИИ В ОБЪЕКТАХ
Предмет изобретения
Изобретение относится к определению напряжений и деформаций деталей машин и строительных конструкций методом фотоупругости в случаях, когда необходимо использовать односторонний полярископ. 5
Известен способ измерения разности фаз в отдельных точках фотоупругих покрытий с помощью скрещенного одностороннего поля- . рископа и фотографирования в фотоупругих покрытиях картины полос, соответствующих 10 определенному значению разности фаз при постоянных главных направлениях, с созданием требуемой разности фаз при помощи иммерсионного компенсатора.
Однако этот способ характеризуется тем, 15 что дополнительная разность фаз создается с использованием сложного иммерсионного компенсатора специальной конструкции.
Целью изобретения является упрощение техники эксперимента. 20
Это достигается тем, что разность фаз компенсируется поворотом скрещенных поляризатора и анализатора относительно главных направлений четверть-волновой фазовой пластинки. 25
Сущность метода заключается в следующем.
Четверть-волновую пластинку устанавливают перед объектом так, чтобы направление ее главных осей составляло угол в 45 по отно- 30 шению к направлению главных напряжений фотоупругого покрытия. Затем поворачивают скрещенные поляризатор и анализатор, компенсируя разность фаз, и определяют разность фаз Л в покрытии по углу а между плоскостью поляризатора и одной из главных осей фазовой пластинки, или же устанавливают скрещенные между собой поляризатор и анализатор под некоторым углом а к осям фазовой пластинки и фотографируют картину полос. Разность фаз Л вычисляется по формуле
tg Ь = tg2я.
Описанный метод позволяет при помощи стандартного одностороннего полярископа со скрещенными между собой поляризатором и анализатором определить разность фаз в фотоупругих покрытиях по точкам или же сфотографировать картины полос с различными заданными значениями разности фаз и на основе этих данных определить напряжения в исследуемых объектах.
Способ определения напряжений в объектах, заключающийся в том, что с помощью одностороннего нолярископа определяют разность фаз в фотоупругом покрытии, нанесен493625
Составитель Е. Подпалый
Техред Е. Подурушина Корректор В. Посельский
Редактор Н. Суханова
Заказ 904/12 Изд. Мз 306 Тираж 782
НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Подписное
Типография, пр. Сапунова, 2 ном на объект, отличающийся тем, что, с целью упрощения техники эксперимента, четверть-волновую фазовую пластинку устанавливают перед объектом так, чтобы направление ее главных осей составляло угол в
45 по отношению к направлению главных напряжений фотоупругого покрытия, затем поворачивают скрещенные поляризатор и анализатор, компенсируя разность фаз, и определяют разность фаз по углу между плоскостью поляризатора и одной из главных осей фазовой пластинки.
