Бездисперсионный атомно-абсорбционный фотометр

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (») 493043

Со оз Советских

Социалистических

Республик

Ф х

l (61) Дополнительное к авт, свид-ву (22) Заявлено 06.04.73 (21) 1903908 26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 05.11.75. Бюллетень № 41

Дата опубликования описания 05.02.76 (51) М. Кл. G Olj 3, 42

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 535.341.08 (088.8) (72) Авторы изобретения В. С. Дорофеев, Н. П. Иванов, М. С. Чупахин и Н. С. Михайлов (71) Заявитель (54) БЕЗДИСПЕРСИОННЬ1Й АТОМНО-АБСОРБЦИОННЪ1Й

ФОТОМЕТР

Предмет изобретения

Изобретение относится к оптическим приборам и может быть использовано при конструировании атомно-абсорбционной аппаратуры.

Известны бездисперсионные атомно-абсорбционные фотометры, содержащие источник просвечивающего излучения с линейчатым спектром, поглощающую ячейку, солнечнослепой фотоумножитель и регистрирующее устройство. Недостатком таких фотометров является низкая точность регистрации вследствие влияния на результаты измерений нсселективного поглощения в атомизирующей ячейке.

В предложенном фотометре указанный недостаток устранен благодаря тому, что учет неселективного поглощения осуществляется путем введения дополнительного источника излучения с линейчатым спектром, который работает в режиме самообращения резонансной линии.

На чертеже показана схема предложенного фотометра.

Фотометр состоит из основного 1 и дополнительного 2 источников излучения, отражательных зеркал 3 и 4, зеркала 5, расположенного иа валу двигателя 6, поглощающей ячейки 7, фотоприемника 8, регистрирующего устройства 9.

Фотометр работает следующим образом.

Свет от источников излучения 1 и 2, работающих соответственно в номинальном режиме и режиме самообращения, отразившись от отражательных зеркал 3 и 4, попадает на зеркало 5, вращающееся на валу сштхронного двигателя 6. Световые сигналы поочередно проходят через поглощающую ячейку 7, детектируются фотоприемником 8 и поступают в ре10 гистрирующее устройство 9, где вычисляется логарифм отношения соответствующих сипилов. Если в ячейке 7 присутствуют атомы апализируемого вещества, то свет от основного источника излучения 1 поглощается, а свет от

15 дополнительного источника 2 не поглощается, и сигнал на выходе регистрирующего устройства 9 пропорционален оптической плотности атомного пара. Когда в ячейке 7 происходит неселективное поглощение. свет от допо пп20 тельного источника 2, работающего в режиме самообращения резонансной линии, также поглощается (за счет крыльев линии), поэтому выходной сигнал не зависит от величины неселективного поглощения.

Бездисперсионный атомно-абсорбционпый фотометр, содержащий источник просвечи30 вающего излучения с линейчатым спектром.

491043

Составитель А. Субочев

Техред Е, Подурушина

Редактор Т. Орловская

Корректор H. Лебедева

Изд. № 82 Тираж 740 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 78/5

Типография, пр. Сапунова, 2 отличающцйся тем, что, с целью повышения точности путем учета неселективного поглощения, в него дополнительно введен иден8 (= ) 5

4 тичнын источник излучения с липсйчатым спектром в режиме самообращения резонансной линии.

Бездисперсионный атомно-абсорбционный фотометр Бездисперсионный атомно-абсорбционный фотометр 

 

Похожие патенты:

Ан ссср // 363204

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх