Сканирующий спектрометр

 

488I23

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ и АВ1ОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Се@иалистимеских

Республик (61) Дополнительное к авт. свирид-ву— (22) 3 а явлено 11.11.73 (21) 1973541/26-25 (51) М.Кл. G 01п 23/22 с присоединением заявки—

1 осударственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (23) Приоритет—

Опубликовано 15.10.75. Ьюллетень ¹ 38

Дата опубликования описания 02.06.76 (53) УДК 621.386(088.8) (72) Автор изобретения

А. В. Пивоваров (71) Заявитель (54) СКАНИРУЮЩИЙ СПЕКТРОМЕТР

Изобретение относится к облас пи флуоресцентного рентгеноопектрального анализа iaeществ,переменного соста ва и,может быть,использовано,в аналитичеоких лабораториях самых различных отраслей промышленности,,например, при анализе элементов группы редких,земель .по,их линиям К-серии.

Иместен сканирующий спектрометр, содержащий два канала, о дин из которых находится со стороны облучаемой,поверхности пробы, а другой — с боко вой стороны пробы.

Недо статском известного устройства является невозможность учета пере сенного состава .пробы при оольших вариациях плотности и состава пробы.

Для новышеяия точности Определений при разных плотностях анализируемого вещества в предлагаемом устройстве канал, расположенный с боковой стороны пробы, выполнен пс движным, при,помощи этого канала измеряют:излучение от глубинных слоев, которые лежат от облучаемой пстверхности на раостоянии, обратно пропорциональном плотности.

Это раостояние в приборе устанавливается автоматически объемом взятой навески, помещенной,в специальный стакан. Естеспвенно, что такой пр ибор решает задачу анализа,по жесткому флуоресцентному излучению.

На чертеже показана схема и основные узлы предлагаемого устройства, где 1 — ис2 точник первичных возбуждающих лучей; 2— коллнматор первичных лучей; 3 — бленда с вырезом для вставки стакана с помещенной в него пробой, которую изготавливают:из материала, слабо по;,тощающсго первичное излучение; 4 — стакан для вмещения прооы, который изготавливают пз материала, слабо поглощающего псрвпчпос H вторичное излучения, например бернллия; 5

1п шток-поршень для поджатия пробы; 6а и

60 — коллпматоры .вторичныx лучей; 7а и

7o — анализаторы; 8а и 8o — рычаги поворота a»aлизаторов на угол 0 и щелевьп коллиматоров 9а и 9о на угол 20; 10а и 10б — де1-, текторы излучения; l la и 116 — регистраторы; 12 — ограничитель для установки спектрометричеокого канала o,в положение, за висящее от объемной;плотаеостп прооы. 13 ограничительно-фиксирующий рычаг.

Измерения, производят следующим образом. Анализируемое вещеспво плн стандартный образец насыпают в стакан 4 и .поджимают шток-поршнем 5 с определенным усилием, одинаковым для всех проб н стандартов.

Далее стакан с поршнем устанавливают в прободержатель-блен!ду, к шток-поршню 5 подводится рычаг 13, а канал б подводится до соприкосновения ограничителя 12,с рычагам 13. В таком положении производится синхронное сканирование обоих каналов.

488123

/(аист и

1tzато д

Составитель Е. Коков

ЦНИИПИ Заказ 562

Рсдак)ор И. Шубина

Изд, № 1907

1хорректор М. Леизерман

Тираж 902 Подписное

МОТ, Загорский филиал

Из схемы прибора в((дно, что порвичное

ИЗЛ ) ICHHe ОТ ИгСТО (НИКа 1, Пройдя К0.1ЛИМатор 2, попа дает через дно стакана 4 на пробу, помещенную в этот стякяп. Возбужденное флуоресцентное излучение в слое пробы, который прилегает к облучаемой (поверхности, вь(хо дя со стороны этоп поверхности, проходит коллиматор би и по((адает IIH анализатор 7а. С псмощь!о анализатора путем по!ворота его ((а тот или иной уго I 0 выбирается

НьУ)К Ьа Я ЙП Я Л И т И Ч С С и а Я Л П П П и К а К Ото - Л И О О 0 I Iределяел(ого элемента. Излучение данноп аналитической (и((НИ попадает в щелевой коллиматор 9а, кото)III спн:ронно поворачивается рычагом 8а пя угол 20. Дале лучи lo Iaдают

В детектop 1Ос(и Вex(-(пнa cигнал(I 1)e(и стрируется регистратором 11а.

Первичное излучение, пройдя слой пробы, прилегающий к облучаемой поверхност!и, llpoпизывает и бо (ее глубокие слои, и, таким ооразом, фн1ь(руется пробой. Степень этой фильтрации пер!Вичных лучей, а также ослабление вторичных при выходе их из пробы через боковую сторону зависит от валового состава анализируемого вещества.

Втор!Ичное излучение от слоя пробы, прилегающего к шток-поршню 5, и возникающее под дей ствием фильтрованного первичного излучения, вый дя через боковую сторону стакана 4, проходит коллиматор бб,и !попадает а анализатор 7б. Регистрация этого изл учепия каналом б осуществляется так же, как и канало!м а.

Спектрометричеокий канал б подвижен относительно облучаемой по!Верхнссти пробы.

El 0 (естополо)кент(с I) процессе 2HB,(т)з(! (Нрп смене пробы) фиксируется ограничителем 12, ((Осе(С(дни(! фиксируется рычагом 13. Длина ограничителя 12 регулируется при настройке прибора. Положение рычага 13 определяется шток-поршнем 5, положение же последнего определяется объемом взятой нявеск(и пробы.

Подвижность капала о и его различное л(ссто положение В заВисимости От положения

10 шток-поршня 5 позволяет а втоматически учесть плотность анализируемых проб. Анализируемые пробы и стандарты берутся с Одной и той же навеокой. Поджим пробы или стандарта шток-поршнем 5 (если пробы порошковые) производится с одним и тем же усплиеы. Анализ продуктов (веществ) на различные элементы производится el((I pull(I! » сканированием каналов а и б.

Предмет изобретения

Сканирующий спектрометр для ol(ðåäåëåния элементов по жесткому флуоресцентному .излучению, состоящий из .источника,возбуж25 дающего излучения, пробовместителя со шток-по!р(инвм, подвижных сканирующих каналов с кристаллами-анализаторами и детекторами для регистрации характеристического излучения, отличающийся твз(, что, с целью

30 ПОВышения точности определений при разных ! плотностях анализируемого вещества, один

)из сканирующих каналов, расположенный с боко(вой необлучаемой поверхности пробовместителя, взаимосвязан со шток-поршнем пробо!Вм встител я.

Сканирующий спектрометр Сканирующий спектрометр 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов
Наверх