Способ контроля ферритовых элементов

 

ОЛ ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Уеслублик (»)478365 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22} Заявлено 05.01.72(21) 1735144/18-24

> (613 М. Кл.

C 1"1 с 29/00 с присоединением заявки №Гасударственный комитет

Совета Министров СССР аа делам иэооретений и открытий (23) Приоритет (43) Опубликовано 25 07.75Бюллетеиь №27 с б (45) Дата опубликования описания09.02.76 (53) УДК, 628.324.66 (088.8) (72) Автор изобретения

Б. С. Березкин (71) Заявитель

4 : с., 4. (Е4) СПОСОБ КОНТРОЛЯ фЕРРИТОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ, :

Изобретение относится к способам электрических и магнитных испытаний материалов и элементов, в частности, к способам проверки многоотверстных ферритовых пластин (МФП) и плат, плоских 5 тонкопленочных магнитных элементов, диэлектрических и резистивных пластин и пленок, элементов с тонкими, легко повреждаюшимися проводниками и выводами.

Предлагаемый способ может быть применен для KoHTpoJIB параметров электрических сигналов проверяемых элементов при их производстве и поставке потребителям до (или без) нанесения на элементы печатных, вжигаемых или жестких проводников или выводов.

Известен способ контроля ферритовых злементов, например многоотверстных ферритовых пластин, основанный на использовании токопроводяшего порошка в качестве о участка контрольной цепи. .Известны способы проверки элементов после нанесения печатных проводников и спо1 соб проверки МФП, не имеющих печатных обмоток. 25

Однако операция технологической прошив.ки сложна, а вследствие неточности фиксации МФП на измерительной позициии и наличия больших допусков на все размеры

МФП при выполнении этой операции возможны повреждения МФП и рабочего инструмента или повышенный износ последнего.

1.(ель изобретения — ускорить и повыси ь качество контроля, Это достигается тем, что порошок уплотняют в отверстиях пластины статическим, давлением, которое держат в течение всего Периода контроля и после контроля параметров, порошок удаляют из отверстий влас. тины при воздействии cHJI, например, вибра-ционных.

Предлагаемый способ состоит из после:— дующих технологических операций.

Проверяемую МФП устанавливают в ячей" ку матрицы, выполненной, например, из изо-ляционного материала. На дне каждой ячейки в соответствии с расположением отверстий МФП размещены плоские контактные площадки проводников контрольных цепей. И стенках ячейки матрицы имеется контактн ьч

478368

25 (1редмеr изобретения (.осаавнгелв В. 1 ордонова

Р дал гор O. О 1 е1«111а ) екред г..Мнгрофанова Коррекгор11Яебедева,й1 Изд. М 863 1 ирааг 618 11одннсное

111111111!11 1 осударсгвенного комн гега Сове га Минисгров СССР ио дела1а нзобрегеиий н огкрл1тий

Москва, 113035, Раушская наб., 4

111 е,в1 рия1не «11а генг», Москва, 1-59, Ьере?кковскаи наб, 24

3. нгнинадка общего проводника контрольных

lit.ь.:Й, размещенная на уровне верхней плоскости помещенной в ячейку. МФП, В кажц,чо ячейку матрицы подают дозу токопроводяшего порошка. Заполнение им В отверстий МФП проводится при воздействии на порошок знакоггеременных сил, обеспечивающих повышвние текучести и плотнос ти укла жи частиц порошка, например ви брационных сил, воздействующих íà Ijopoшок при вибрации всей матрицы, Кроме того, на порошок в ячейке матрицы дополкительно воздействуют уплотняющей статической силой, передаваемой пуансоном, Под действием этих сил или только 15 вибрации доза порошка уплотняется за счет более плотной укладки частиц и упрочения связей между ними (без деформации самих частиц). Объем дозы достаточен для заполнения всех отверстий МФП и образования слоя порошка на поверхности пластины после заполнения отверстий и уплотне1гня всей дозы. Этот слой порошка замы кает контакты цепей с контактной пло щадкой общего нроводннка.

Уплотненный порошок в цтверстиях МФП и;лое образует надежные электрические контакты между частицами и объеме порошка между порошком ч контактами. Ре-; жнм olit рсацнн заполнения и уш101нения 3О обеспечивает стабильность времени и ка«ества занолнения отверстий МФП, !

1ос11е прекращения вибрации порошок нчейк?1х матрицы остается в уплотненном сос1оян11н без внешнего давления нлн нод ЗЬ цоз11е11(jвг(ем дан?1ення н /нисона

Прн»оженное во в1?ег1я ко«тро»я к порошку ytt»ot Et jtlojtjee сгагн«еское дав11е11но нуансонн повышает с t :tájtJtj,íUñjü элек-, Г1itt 1ег к нх lгарг1!Не 1 pot3 > 1 нh как jñ 11кгн1яе l 49 влияние механических воздействий (помех в период контроля) на качество контактов

;в этих цепях. Однако при.использовании виб1роуплотнения порошка и нйзком уровне Jie. ханических помех при контроле воздейст-! вие статического давления на порошок ,.(и соответственно - наличие пуансона)

)необязательно.

После контроля параметров МФП со! здаваемое пуансоном давление снимйют (если оно было приложено) и тем самым открывают ячейки матрицы для удаления .порошка из ячеек и отверстий проверенной

:пластины. Матрицу, например, перевертывают, размещают над бункером и подвер- гают вибрации, причем режим вибрации при повышенной амплитуде -обеспечивает быстро и качественное удаление всех фракций порошка из ячеек и отверстий пластины. Проверенные пластины разбраковывают по ре1 зультатам контроля параметров их сигналов, Способ контроля ферритовых элеменгон,, например мног оотверстных ферритовых

1 пластин, основанный на использовании то.копроводящего порошка в качестве участка контрольной цепи, о т л и ч а ю ш н,й с я тем, что, с целью ускорения и новышен11я контро»я,порошок унногня1от в отверстиях гн1астины статическим дав-

»ением, которое держат в течение всего

jjepIJoJIа контроля,н после контроля параметров порошок удаляют нэ отверстий пластины при воздействии снл, на«1рил1ер внбрационных „

Способ контроля ферритовых элементов Способ контроля ферритовых элементов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники и системах управления

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности, к устройствам хранения информации, и может найти приме нение в специализированных системах хранения и обработки изображений, в ассоциативных параллельных процессорах при решении информационно-логических задач, задач поиска и сортировки данных, в устройствах обработки сигналов в реальном масштабе времени

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству, содержащему схему обнаружения и исправления множественных ошибок

Изобретение относится к способам записи в энергонезависимую память и может быть использовано в приборах, осуществляющих хранение и обновление оперативной информации в процессе своей работы

Изобретение относится к устройствам тестирования электронных элементарных схем и групповых линий соединений

Изобретение относится к средствам для программирования/стирания электрически стираемых программируемых полупроводниковых постоянных запоминающих устройств

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к электронным запоминающим устройствам (ЗУ) с электрически программируемыми ячейками
Наверх