Рентгеновский спектрометр
О П И С А Н И Е EII) 463045
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 06.07.73 (21) 1939242/26-25 с присоединением заявки ¹ (32) Приоритет
Опубликовано 05.03.75. Бюллетень ¹ 9
Дата опубликования описания 18.06.75 (51) Ч. Кл. б ОIП 23!20
Гасударственный комитет
Совета Министров СССР (53) УДК 539.26(088.8) ло делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения
3. Г. Пинскер, Э. К. Ковьев, А. В. Миренский, А, С. Фокин, М. В. Ковальчук и Ю. Н. Шилин (71) Заявитель (54) РЕНТГЕНОВСКИЙ СПЕКТРОМЕТР
Изобретение относится к рентгеновской спектрометрии и может применяться для исследования монокристаллов.
Известные схемы спектрометров с двумя кристаллами не позволяют производить прецизионные измерения периодов решетки моHокристаллов в широком диапазоне углов дифракции.
В предлагаемом спектрометре указанный недостаток устранен благодаря тому, что держатели кристал 70В расположены на общей оси поворота и снабжены устройствами для пер«ме!пения каждого кристалла параллельно и перпендикулярно его рабочей поверхности, причем предусмотрены средства для перемещ«нпя кристаллов и детектора перпендикулярно направлению первичного рентгеновского пучка.
11:! чер ге!кс показана схема предложенно го рентгеновского спектрометра.
Спсктрометр состоит из источника рентгеновского излучения 1, коллиматора 2, кристалла-монохроматора 3 и его системы поворота 4, кристалла-анализатора 5 и его системы поворота 6, детекторов излучения, например, счетчиков 7 и 8, механизма линейного смещения 9 гониометра 10 и механизма линейного смещения 11 коллиматора 2.
Спектрометр работает следующим образом.
Р«П7!еновски!! луч пз источника излучения
1, пройдя через коллиматор 2, падает на кристалл-монохроматор 3, который с помощью кристаллодержателя, имеющегося в системе поворота 4, устанавливается в отражающее положение. Расстояние между кристалломмонохроматором 3 и кристаллом-анализатором 5 задают линейным смещением коллиматора 2 относительно оси 0 гониометра 10.
10 Для пропусканпя лучей через коллиматор
2 II IIOBOill 170 70)h«Hilll I OIJIIOAE«Tp 10 «!7омоlцью механизма 9 пер«м«щается на такое же расстояние в противоположном направлении.
Кристалл-монохроматор 3 путем поворота во15 круг оси 0 и дву.; взаимно п«рпсндикулярпых смещений гониометрической головки устанавливают в такое положение, когда отраженный от оси кристалла-монохроматора 3 луч проходит через ось 0 гониометра 10. При враще20 нии кристалла-анализатора 5 в определенном угловом интервале вокруг осп 0 гониометра 10 счетчиком 7 измеряется кривая дифракционпого отраж«ппя 12.
Переход на други«знач«ппя углов дифрак25 I!IIII ха17акте17истич«ско! о EI сп. 101111101 о сп«кт171! осуществляется поворотом кристалла- lопох р о з! а то 17 а 3 I I п «17 п «1!д и к, !! р и ы м с м «и !1 I I I I « A i его относителыго направления нада!о1цпх 1!«птгеновских лучей, выходящих пз коллпмато
30 ра 2. Поско7ьку ocii кристалла-мопохромато.
463045
11рс (мст изобрсTOIIHH
Составите>)ь К. Кононов
Техред А. Камышникова
Корректоры: Л, Котова и H. Учакина
Редактор T. Орловская
Заказ 138717 Изд. Хс 531 Тираж 902 Подписное
Ц1-111ИПИ Государственно(о комитета Совета Министров СССР но делам IIço3>T>eòåí))è и открытий
Москва,,>К-3.>, Рами)скан иао, д. -1;>
I iI:II)ãl))1фи)1,:Il) Сапуио)кь 2 ра 3 и кристалла-анализатора 5 совмещены, при этом переходе ошибка в пспараллсльиости осей не превышает точности изготовления самой оси, которая практически может быть сведена к значению нескольких угловых сскунд.
Установка кристалла-анализатора 5 113 I:ути падающих и отраженных лучей дает BOBможиость регистрировать в двукристальном спсктрометре угловое положение кривой дифракционного отражения кристалла-анализатораа 5 OTHOCHTC ITbHO у(- IOBOI 0 110 T02KCT(T(5(Ti(>ITсталла-мопохроматора 3. Вращение кр((стал,13-анализатора 5 в этом !вложении приводит к уменьшению интспсивпостll прошедшего через кристалл-анализатор 5 луча в обА М
;1 cl CTil >> ГЛОВ 05 и 0 5 из-3 а 00р 33013cill i(51
3KCTi(l1ITlIH0111l hi X МИНИ МА МОВ, CB5133(lllh(X С Дпфракцисй в этой области.
А М
Если уг.!ы 05 п 05 Отли (3(отся, !О НоВорот кристалла-анализатора 5 приводит к обРЗЗОВ3 IIHTO ДВУX ЭKCTHITI<(li(OI(liblX Х(IIIIT(Il 1мов 13.
Таким образом, регистрируя счетчиком 8, м установленным под углом 205, IBа экстпикциопных минимума в интенсивности рентгеновских лучей, отраженных от кристалла-мопохроматора 3 и прошедших через кристалланализатор 5, можно измерять угловой !штсрвал Ilo положениях! экстиикционпых миш мумов ((ли по их центрам тяжести.
Экспер п(снтал!.пыс и тсоретические работы показыва!от,:ITo для рентгеновской дифрактомстрпи мопокристаллов необходимо знать нс абсолютное угловое по 10>KclIITO кри— вых дифракц:(ониого отражения, а их от!!(>с!.— тельное положение. В д!шной схеме угловой точкой отсчета служит угловое положен(IH
10 KpilBOII дифр акциоппого OTp32TiCHH5I криста, l, i clм 0 н 0 х р О м 3 тор 3 > 51 B л я 10 и T C I O C 51 к а к б ы э т 3, 10! lпым кристаллом.
РСИТГСПОВСЕИ5! CHCI> TPOA)ICTP, COQCPHT3 HI I И источник pcIIT(cl(oBcITHx лучей, колли матор, кристалл-монохроматор и кристалл-анализа
20 тор, установленные па держателях, мсхаииз.:ы
T(OB0PO rcT КРИСТЯЛЛОВ, ДС1 СКТОР ИЗЛ ) IЕПIIЯ, О Тл и ч а ю шийся тем, что, с целью п<>вышсиия точности измерений, держатели к(>1(ста 1лов p3c(io;!owe!!hi i(a об)цсй оси поворота
2о снабжены устройствами для псремс:пения каждого кристалла параллельно и пер:!Сндикулярпо сго рабочей поверхности, приче;! предусмотрены средства для перемещения кристаллов детектора перпендикулярно на30 правлсшпо перви шого рентгеновского:!у;к;;.
