Способ контроля качества поверхностного слоя материалов

 

ОП ИСАН И E

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

461348

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 23.08.73 (21) 1955804/25-28 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 25.02.75. Бюллетень № 7

Дата опубликования описания 14,08.75 (51) М. Кл. С 01п 29, 02

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 620,179.16 (088.8) (72) Автор изобретения эл ь з

ll

Л. В. Юозонене

Каунасский политехнический институт (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТНОГО

СЛОЯ МАТЕРИАЛОВ

Изобретение касается ультразвуковой дефектоскопии материалов и изделий.

Известен способ контроля качества поверхностного слоя материалов, заключающийся в том, что в слое возбуждают ультразвуковую волну и производят прием ее отражения от дефектов, недостатком которого является суженная область применения, обусловленная трудностями возбуждения волн в материалах с малой скоростью распространения ультразвука.

Описываемый способ отличается от известного способа тем, что возбуждают поверхностно-продольные волны в поверхностном слое контролируемого материала и по наличию их отражений судят о дефектности поверхностного слоя, а также тем, что возбуждают по очереди поверхностно-продольные и поверхностные волны типа Рэлея, измеряют разность времен распространения импульсов поверхностных и поверхностно-продольных волн и по ней, а также по известным скоростям поверхностно-продольных и поверхностных волн, определяют местоположение дефекта. Это расширяет область применения и упрощает процесс обнаружения дефектов в материалах с малой скоростью ультразвука, например в пластмассах.

На фиг. 1 изображено устройство для реализации предложенного способа; на фиг. 2— вид импульсов на экране осциллографа.

Устройство содержит генератор 1 импульсов, усилитель 2, подключенный к генератору 1, индикатор 3 (осциллограф), подключенный к усилителю 2, приемно-изучающий преобразо5 ватель 4, соединенный с генератором 1 и усилителем 2, иммерсионную жидкость 5 и контролируемый образец 6. На экране осциллографа номером 7 показан зондирующий импульс, 8 — импульс поверхностно-продольных

10 волн, отраженных от дефекта, и 9 — импульсы поверхностных волн, отраженных от этого же дефекта.

От пьезопреобразователя 4 под углом а направляют в жидкость 5 ультразвуковую вол15 ну, которая падает на границу раздела жидкости 5 — контролируемый образец 6 и трансформируется в продольную и поперечную волны. При плавном вращении преобразователя 4 подбирают такой угол я, при котором

20 продольные волны в контролируемом материале отражаются и происходит максимальное преобразование продольных волн, распространяющихся в жидкости 5, в поверхностно-продольные волны. Поверхностно-продольные

25 волны, распространяющиеся в поверхностном слое контролируемого образца 6, отражаются от дефектов, находящихся в этом слое и возвращаются в преобразователь 4. Этот момент фиксируют по появлению импульса на экране

30 индикатора 3, и по наблюдению его судят о

461348

Предмет .изобретения

С1С, 2/С, — С, с г v

E. i

Фиа .

Составитель Н. Бражников

Текред Т. Курилко

Редактор Т. Шагова

Корректр Л. Котова

ЦНИИПИ Заказ 1964 5 11зд. ¹ 446 Тираж 902 Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2 существовании дефектов. Для определения местоположения дефекта плавным вращением преобразователя около оси, находящейся на границе контролируемого образца и жидкости, возбуждают по очереди поверхностно-продольные волны и поверхностные волны типа Рэлея.

Расстояние от места падения ультразвукового центрального луча до дефекта а находят из формулы: где С вЂ” скорость поверхностно-продольных волн;

C2 — скорость поверхностных волн (С и С> известны для контролируемого изделия), t — разность между временем распространения импульса поверхностных волн (см. импульс 9 на фиг. 2) и временем распространения импульса поверхностно-продольных волн (см. импульс 8) от преобразователя до дефекта, которую измеряют любым известным способом.

1. Способ контроля качества поверхностного слоя материалов, заключающийся в том, 5 что в слое возбуждают ультразвуковую волну и производят прием ее отражения от дефектов, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения и упрощения процесса обнаружения дефектов в

10 материалах с малой скоростью ультразвука, например в пластмассах, возбуждают поверхностно-продольные волны в поверхностном слое контролируемого материала и по наличию их отражений судят о дефектности по15 верхностного слоя.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что возбуждают по очереди поверхностно-продольные и поверхностные волны типа Рэлея, измеряют разность времен распространения

20 импульсов поверхностных и поверхностно-продольных волн и по ней, а также по известным скоростям поверхностно-продольных и поверхностных волн, определяют местоположение дефекта.

Способ контроля качества поверхностного слоя материалов Способ контроля качества поверхностного слоя материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения концентрации взвешенных веществ в жидких средах в сельскохозяйственном производстве, нефтеперерабатывающей и горнорудной отраслях промышленности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах технологического контроля влажности различных многокомпонентных жидкостей (МКЖ), например, нефти на объектах нефтедобычи или молока в пищевой промышленности

Изобретение относится к системам контроля состава газовых смесей и жидких сред в технологических процессах промышленных производств

Изобретение относится к способам и системам для определения плотности жидкости ультразвуковыми методами, а именно к определению плотности образца жидкости

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения концентрации загрязненных жидкостей в гидрометаллургической, обогатительной и других отраслях промышленности

Изобретение относится к медицине и может быть использовано для диагностики ряда заболеваний
Наверх