Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале
и 4576!4
ОП ИСАН И Е
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 28.12.70 (21) 1609452/23-5 с присоединением заявки №вЂ” (32) Приоритет
Опубликовано 25.01.75. Бюллетень № 3
Дата опубликования описания 25,03.75 (51) M. Кл. В 29с 17/10
"осудврственный комитет
Совете Министров СССР оо делам изобретений и откаытий (53) УДК 678.029.35 (088.8) (72) Авторы изобретения
Е. А. Каганов, Н. С. Кудрявцева, Н. С. Кутарев, Г. В. Лагуткин и Ю. Г. Чудаков (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОБИВКИ БАЗОВЫХ ОТВЕРСТИЙ
В ПЛЕНОЧНОМ МАТЕРИАЛЕ
Предлагаемое устройство предназначено для пробивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фотошаблонах или слоях многослойных печатных плат (МПП) определенного размера, и может быть использовано в различных отраслях техники, где требуется точная сборка слоев по базовым отверстиям.
Известны устройства для пробивки отверстий в пленочном материале, содержащие вакуумный стол и приспособление для пробивки отверстий.
Цель изобретения — обеспечение установки изделий относительно базовых меток стола с большей точностью.
Это достигается тем, что вакуумный стол выполнен в виде жестко установленной опорной плиты с подвижной центральной частью, снабженной микрометрическими приводами ее перемещения. Для осуществления же контроля за совмещением базовых меток стола с метками на изделии, над вакуумным столом установлены направляющие со смонтированными с возможностью перемещения по ним микроскопами.
На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2 — разрез по
А — А на фиг. 1.
Устройство для проб ивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фотошаблонах или слоях МПП, состоит из микроскопного устройства, выполненного в виде четырех одинаковых микроскопов 1, которые могут перемещаться в направляющих 2 и 3 при помощи фиксирующих винтов 4 и 5, из опорной плиты 6 с расположенными на ней матрицами 7 и центральной подвижной части стола 8 с подводом вакуума в полость корпуса 9, перемещающегося от микрометрических
10 винтов 10, 11 с пружинными возвратами 12, 13 и поворачивающегося вокруг своей оси от червяка 14, взаимодействующего с зубчатым сектором 15.
Пробивка осуществляется при помощи пуан15 сонов 16, приводимых в движение кулачками
17 при помощи валов 18 и 19 от электродвигателя 20 через редуктор 21, однооборотную муфту 22 с электромагнитом 23, конические шестерни 24 и 25.
20 При отключенной вакуумной системе заготовка вручную устанавливается на центральной подвижной части стола 8 таким образом, чтобы контрольные (базовые) отметки или элементы рисунка на пленке оказались под
25 окулярами микроскопов, визирные устройства которых выставлены относительно контрольных отметок на опорной плите 6.
Затем включается вакуум, и заготовка плотно прижимается к поверхности подвиж30 ной части вакуумного стола 8. После этого
457614 производится точное совмещение контрольных отметок или элементов рисунка с визирами микроскопов, что обеспечивается перемещением части стола 8 с прижатой заготовкой от микрометрических винтов 10 и 11 и поворотом от червяка 14.
Затем нажимом кнопки включается электромагнит 23, замыкающий однооборотную муфту 22, которая передает движение от электродвигателя 20 пуансонам 16 через редуктор
21, две пары конических шестерен 24 и 25 и два вала 18 и 19, несущих профильные кулачки 17.
При переходе к обработке заготовок, имеющих другое расположение контрольных отметок или базовых элементов, микроскопы с помощью винтов 4 и 5 перемещают по направляющим 2 и 3 до совпадения их визиров с соответствующими отметками на опорной плите.
Предмет изобретения
1. Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фо5 тошаблонах или слоях многослойных печатных плат, содержащее вакуумный стол и приспособление для пробивки отверстий, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью обеспечения установки изделий относительно базовых ме10 ток стола с большей точностью, вакуумный стол выполнен в виде жестко установленной опорной плиты с подвижной центральной частью, снабженной микрометрическими приводами ее перемещения.
15 2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что, с целью осуществления контроля за совмещением базовых меток стола с метками на изделии, над вакуумным столом установлены направляющие со смонтированными с
2о возможностью перемещения по ним микроскопами.
457614
Зона разорен:ения ф
+us 2
Составитель В. Фуралев
Редактор Т, Загребельная Техред Г. Дворина
1(орректор И. Позняковская
Заказ 899/3 Изд. № 360 Тираж 778 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2