Способ количественного определения концентрации люминесцентных минералов
О П И C А- Н И Е „„452771
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик (д) Зависимое от авт.свид-ва— (22) 3aasseHo 22.06.71(21) 1671784/26-25 (51) М. Кл.
G 01тг 21/00 с присоединением заявки № (32) Приоритет—
Гасударственный иамитет
Савета Иинистрав СССР па делам изобретений
И OTKPbtTilll
Опубликовано05. 12.74 Бюллетень №45 (53) УДК
550. 839 (088. 8) Дата опубликования описания 16.09.75 (72) Авторы изобретения
В. Ф. Барабанов, С. Л. Бердников, Ю. М. Гербштейн и Я. М. Зеликин
Ленинградский ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им А. А. Жданова (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ KOHllEHTPAUHH
ЛЮМИНЕСЦЕН 1 НИХ МИНЕРАЛОВ
Изобретение относится к способам анализа руд.
Известен способ определения концентрации шеелита путем измерения яркости фотолюминесценции анализируемой пробы по сравнению с яркостью фотолюминесценции эталона.
Недостаток этого способа заключается в том, что состав эталона сходен с составом сопровождающей шеелит породы.
Цель изобретения — повышение точности анализа . Цель достигается благодаря использованию эталона, коэффициент рассеяния света которого в спектральной области, соответствующей люминесценции шеелита, близок по величине к коэффициенту рассеяния света исследуемого образца руд. За коэффициент рассеяния условно принимается величина отношения потока света спектрального состава, соответствующего люминесценции шеелита, отраженного от данного образца / + /, к потоку света такого же спект1 рального состава, отраженному от окиси магния / Ф /: ф
У=в
СР
На чертеже показана установка для реализации предложенного способа. 1
Установка для анализа количества шеелита состоит из чашечек 1 для образцов шеелитовых руд, установленных на плате
2, револьверного устройства для перемещения чашечек под ртутно-кварцевой лампой .
3, укрепленной в кожухе 4 и охлаждаемой вентилятором 5. Блок ламп 6 соединен с цилиндром 7, в котррый помещена кварце15 вая линза 8. Каретка 9 в первом гнезде содержит фильтр УФС-2, пропускающий только ультрафиолет, во втором гнезде фильтр СЗС-18, пропускающий только свет ртутной линии 435 мм. Каретка 10 содержит фильтр, пропускающий только видймьтн свет. Линза 11 фокусирует свет на фотока- тод ФЭУ 12. На пути к ФЭУ свет проходит через фильтр 13, поглощающий ультрафиолет, и фильтр 14, поглощающий инфракрасный
3 452771 свет. Сигнал or ФЭУ поступает на усилитель постоянного тока 1 5, а затем на микроамперметр 16.
При проведении анализа сначала определяют коэффициент рассеяния исследуемых образцов для ртути, Для этого свет от лампы 3 пропускают через фильтр СЗС»18, фокусируют линзой 8 и направляют на образец руды. Отраженный поток света проходит через фильтры 14 и 13 и фокусируется ® линзой 11 на фотокатод ФЭУ 12. Величина полученного сигнала Д характеризуется показаниями микроамперметра 16. Затем такое же измерение производят для окиси
И магнии и получают ц . Коэффициент рассеяния определяют как отношение этих двух сигналов:
Концентрацию шеелита в руде находят по градуировочным графикам.
Г!редмет изобретения
Способ количественного определения концентрации люминесцентных минералов, например шеелита, в рудах путем измерения интенсивности фотолюминесценции исследуемого минерала по отношению к образцам с известными концентрациями того же минерала с внесением в результаты измерений поправки, учитываюшей влияние на результаты измерений длинноволновой части возбуждаюшего света, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности анализа, измеряют коэффициент рассеяния света в спектральной области, соответствующей излучению определяемого люминесцентного минерала, затем измеряют интенсивность люминесценции анализируемой пробы ло сравнению с интенсивностью эталона, имеюшего почти такой же, как у анализируемой пробы, коэффициент рассеяния, и по полученным результатам определяют концентрацию люминесцентного минерала, например шеелита.
Составитель М. Золотухин
Редактор Т. Орловская Техред O. lIyroaas Корректор Л l so;roaxa
Заказ /gott изд. % NQ тирвк 65/ подпнсное
11НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, 113035, Раушская наб., 4
Предприятие «Патенть, Москва, Г-59, Бережковская иаб., 24


