Патент ссср 412533
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
4I2533
Союз Советских
Социалистимесних
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”
Заявлено 24.1Ч.1972 (№ 1776924/22-1) с присоединением заявки №вЂ”
Приоритет—
Опубликовано 25.1.1974. Бюллетень ¹ 3
Дата опубликования. описания 20Л.1974
М. Кл. G Оlп 21/00
Государстеенный комитет
Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
УДК 620.186.1(088.8) Ав ор изобретения
В. К. Кузнецов
Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения
Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА СТРУКТУРНОГО
СОСТАВА ВЕЩЕСТВА
Изобретение касается конструкции устройств для количестве нного анализа структурного состава веществ.
Известно устройство для анализа структурного состава вещества по фотографии его микроструктуры, включающее пластину— основание и вспомогательную пластину, которая вместе с укрепленной на ней фотографией микроструктуры .и линейкой с делениями может двигаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях по пластине-основанию.
Перемещения вспомогательной пластины фиксируются на соответствующих шкалах.
Количественные соотношения между структурными элементами определяют методом отрезков.
Цель изобретения — интенсифицировать процесс анализа структурного состава.
Это достигается тем, что вспомогательная пластина выполнена из прозрачного материала, на ее поверхность нанесено ограниченное рамкой поле меток, равноудаленных друг от друга.
На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 — то же, с фотографией исследуемой микроструктуры.
Предлагаемое устройство состоит из пластины-основания 1, вспомогательной йластины 2 из прозрачного материала с равномерно нанесенными метками в виде треугольников.
Количество меток на единицу площади выбирается исходя из допустимой погрешности исследования. Поле с метками ограничено непрозрачной рамкой. Метки и рамка наносятся на поверхность пластины 2 со стороны пластины-основания 1. Пластины 1 и 2 соединены между собой двумя парами винтов 8 и гаек 4.
Структурный анализ исследуемого сплава проводят следующим образом.
Между пластинами 1 и 2 вставляется фотография 5 исследуемой микроструктуры. фотографию устанавливают через прорезь на ,пластине 1 в такое положение, чтобы снимок полностью располагался в рамке пластины 2 и фиксируют с помощью винтов и гаек 8 и 4.
Анализ проводят точечным методом. Подсчитывают количество меток, попадающих на каждый из определяемых структурных элементов. Затем вычисляют процентное соотношение меток каждой структуры.
Полученное соотношение соответствует процентному содержанию структурных элементов во всем объеме сплава. Для фиксации изучаемого участка фотографии может быть
25 использован магнитныи движок-указатель, перемещаемый вручную по пластине 2.
В этом случае .пластина 1 изготавливается из магнитного материала, например стали.
Для большего сцепления с поверхностью
30 пластины 2 на движок-указатель б наклеива412533 -..
Предмет изобретения
Фиг 7
Фиг. 2
Составитель В. Брострем
Техред Т. Курилко
Редактор О. Степина
Корректор В. Гутман
Заказ 1219/194 Изд. 417 Тираж 651 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Тип. Харьк. фил. пред. «Патент» ют прокладку 7 из материала, увеличйвающе- го коэффициент трения, например::из резиьы.
Устройство для анализа структурного состава вещества по фотографии его микроструктуры, включающее пластину-основание и 1 вспомогательную пластину, отличающееся тем, .что, с целью интенсификации анализа, вспомогательная пластина выполнена из прозрачного материала, на ее поверхность нанесено ограниченное рамкой поле меток, равноудаленных друг от друга, а пластина-основание изготовлена с прорезью для установки фотографии.
