Устройство для измерения электропроводности металлоподобной плазмы

 

О П И С А Н И Е 4О5079

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидегельства №

Заявлено 24.111.1972 (№ 1762815/18-10) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 22.Х.1973. Бюллетень № 44

Дата опубликования описания 28.III.1974

М. Кл. 6 Olr 27/00

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР оа делом изооретений и открытий

УДК 621.317.331 (088.8) Авторы изобретения

H В. Ермохин, В. М. Калявкин, Б. М. Ковалев, П. П. Кулик и А. Ю. Попов

Заявитель

Московский ордена Ленина авиационный институт им. Серго Орджоникидзе

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ

МЕТАЛЛОПОДОБНОЙ ПЛАЗМЫ

Известно устройство для измерения электропроводности металлоподобной плазмы,,например, плазмы щелочного металла в закритическом состоянии, содержащее корпус с двумя плоскопараллельными электродами внутри, снабженными токопроводами, потенциальные зажимы и внешний нагреватель.

Такое устройство имеет невысокую точность измерений, обусловленную химико-структурной нестабильностью корпуса, шунтирующего исследуемую среду в процессе измерения электропроводности плазмы, а также самим фактом шунтирования плазмы.

Для повышения точности измерений в предложенном устройстве между верхним электродом и корпусом предусмотрено кольцевое пространство, в котором установлен стакан с зазорами относительно электрода и корпуса. Нижний открытый торец стакана совмещен с плоскостью измерительного торца верхнего электрода, верхний торец стакана герметично присоединен к электроду через электрический изолятор, а к кольцевой плоскости между стаканом и электродом подключен патрубок подачи инертного газа.

На чертеже показано предложенное устройство.

Устройство состоит из внешнего нагревателя 1, корпуса 2, верхнего и нижнего плоскопараллельных электродов 3 и 4, токоподводов

5 и потенциальных выводов 6, стакана 7, окружающего верхний электрод 3, герметично присоединенного к нему через изолятор 8 и снабженного патрубком 9 подачи нейтра Ibного газа, плотность которого в рабочих условиях меньше плотности исследуемого вещества, например гелия, при изучении электропроводности цезия. Кроме того, устройство содержит реезервуар 10 с исследуемым

10 веществом и заправочный патрубок 11. Нижний электрод 4 устройства снабжен смотровой трубкой 12 для пирометрического измерения его температуры и каналами 13 подачи щелочного металла. В верхней части корпуса предусмотрен конденсатор-отражатель 14.

Работает устройство следующим образом.

Вокруг корпуса создают закритическое давление нейтрального газа, например гелия, включают нагреватель, поднимающий темпе20 ратуру межэлектродного пространства до закритического уровня, подают в межэлектродное пространство щелочной металл через каналы 13 до гарантированного замыкания им электродов 3 и 4, создают разность напряже25 ний между токоподводами 5 и регистрируют зависимости разности потенциалов на выводах 6 от межэлектродного расстояния при постоянном токе в измерительной цепи путем перемещения верхнего электрода вместе со зо стаканом.

405079

Предмет изобретения

Составитель В. Степанов

Техред Л. Богданова

Редактор Т. Рыбалова

Корректор Е. Зимина

Заказ 660/12 Изд. № 2090 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

В процессс измерений после каждого снижения температуры плазмы нейтральным газом продувают зазор между электродом 3 и стака ном 7. Электропроводность плазмы находят по току в измерительной цспи и напряженности электрического поля в межэлсктродном пространстве на основании закона

Ома.

Устройство для измерения электропроводности металлоподобной плазмы, содержащее внешний нагреватель, корпус, два плоскопараллельных электрода с токоподводами и потенциальные выводы, отличающееся тем, что, с целью увеличения точности измерений, в нем между верхним электродом и корпусом предусмотрено кольцевое пространство, в котором установлен стакан с зазорами относительно электрода и корпуса, нижний открытый торец стакана совмещен с плоскостью измерительного торца верхнего электрода, верхний торец стакана герметично присоединен к электроду через электрический изолятор, а к кольцевой полости между стаканом и электродом подключен патрубок подачи инертного газа.

Устройство для измерения электропроводности металлоподобной плазмы Устройство для измерения электропроводности металлоподобной плазмы 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, резистивных или индуктивных датчиков

Изобретение относится к технике электрических измерений и предназначено для профилактических испытаний изоляции крупных электрических машин и аппаратов, имеющих большую постоянную времени

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерений в электронике СВЧ

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Изобретение относится к области электрических измерений в электроэнергетике и предназначено для косвенного определения напряжения прикосновения (шага), возникающего в аварийных режимах электроустановок

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Изобретение относится к устройствам для измерения свойств жидкостей, в частности удельного электрического сопротивления

Изобретение относится к измерительной технике, в частности, может быть использовано для измерения диэлектрических характеристик веществ с помощью емкостного или индуктивного датчика
Наверх