Способ измерения зеркальной составляющей
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУ
Союз Советских
Со ивлистимеских
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 02.Х!.1 970 (№ 1488262/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 25.VII.1973. Бюллетень ¹ 31
Дата опубликования описания G.Õ11.1973
М. Кл, бOlj 104
Государственный комитет
Совета Министров СССР по делом нзооретеннй и открытий
Авторы изобретения
В. С. Хазанов и Г. Н. Егоров
Заявитель
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЗЕРКАЛЬНОЙ СОСТАВЛЯЮЩЕЙ
ОТРАЖЕНИЯ МАЛЫХ УЧАСТКОВ КРИВОЛИНЕЙНЫХ
ПОВЕРХНОСТЕЙ
Изобретение относится к способам измерения зеркальной составляющей отражения малых участков криволинейных поверхностей.
Известные способы для измерения плоских и криволиневных поверхностей трудны в эксплуатации, дают низкую точность, что особенно относится к измерениям криволинейных поверхностей. Кроме того, некоторые способы ограничиваются измерением только плоских или только криволинейных поверхностей.
Цель изобретения — разработка способа оценки качества криволинейных поверхностей, имеющих большой радиус кривизны () 60 мм,) а также пригодного для измерения плоских поверхностей.
Это достигается тем, что оптический блок, установленный в шарнирах, плавно покачивают так, чтобы сфокусированный пучок света скользил по измеряемой поверхности, а индикация качества поверхности осуществляется по максимальной величине показания измерительпого прибора.
Измерение качества производят при помощи оптического блока, который состоит из источника излучения, системы, фокусирующей пучок света на измеряемую поверхность, диафрагм и фотоприемника. Все указанные элементы жестко закреплены в одном корпусе.
При этом детали блока размещены следующим образом: источник света, фокусирующая система и диафрагма — по направлению падающего пучка, вторая диафрагма и фотоприемник — по направлению отраженного пучка света, т. е. элементы размещены под опреде5 ленным углом относительно друг друга.
В предлагаемом способе величина угла падения (отражения) светового пучка может быть выбрана различной, но постоянной для выбранной оптической схемы.
10 11а чертеже представлена схема, иллюстрирующая нредлагаемьш способ.
Приняты следующие обозначения: источник
1 света; линзы 2, 8, фокусирующие пучок света на измеряемую поверхность; входная диаф15 рагма 4, 5; выходная диафрагма б; фогоприемник 7. Углы к и Р соответствуют углам падения и отражения светового пучка.
Для измерения качества поверхности блок
20 устанавли|вают на поверхности таким образом, чтобы сфокусированный пучок света падал на измеряемую поверхность. Затем оператор плавно покачивает блок относительно измеряемой поверхности. Ограженный свет принима25 ется фотоприемником. По максимальному показанию измерительного прибора определяют качество изделия.
Предлагаемым способом можно оценивать качество плоских и криволинейных поверхно30 стей.
391411
Предмет изобретен и я
Состааитель Н. Дедловский
Техред 3. Тараненко
Редактор А. Батыгин
Корректор О. Усова
Заказ 3201/1 Изд. № 810 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб„д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
Способ измерения зеркальной составляющей отражения малых участков криволинейных поверхностей с радиусом кривизны
) 60 мм с использованием оптического блока, содержащего источник света, фокусирующую систему, фотоприемник, отличающийся тем, что, с целью повышения качества измерения, оптический блок плавно покачивают относительно исследуемого образца так, что5 бы сфокусированный пучок света скользил по измеряемому образцу.
