Способ получения шлифов для микроструктурного анализа стеклопластиков
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВКДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик! с
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 25.Х.1971 (М 1708687/23-5) М. Кл. G Oln 1/32 с присоединением заявки №
Приоритет
Комитет пе делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
УДК 678.019.131(088.8) Опубликовано 23.V.1973. Бюллетень ¹ 24
Дата опубликования описания 17Х111,1973
Авторы изобретения
В. П, Мартынюк и Б. С. Майковский
Заявитель
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ШЛИФОВ ДЛЯ МИКРОСТРУКТУРНОГО
АНАЛИЗА СТЕКЛОПЛАСТИКОВ
Изобретение относится к изучению микроструктуры стеклопластиков и может найти применение на предприятиях, занятых производством изделий пз стеклопластиков и в 112учно-исследовательских организациях, занимающихся создапиев! стеклопластиков и изучением их физико-механических характер»вЂ” тик.
Известен способ получения шлифов для микроструктурного анализа стеклопластиков, заключающийся в том, что исследуемый Образец вначале шлифуют грубой шлифовальной бумагой, затем более тонкой, после чего полируют хромовыми пастами (например, пастой ГОИ), окисями укелеза, магния или алюминия, на войлоке, сукне или бархате.
В процессе обработки шлифы периодически подвергают химическому или тепловому травлению. Однако при изучении шлифов полиэфирных стеклопластиков, особенно светопрозрачных, отдельные составляющие композиции (волокна и смола, поры и инертный наполи»тель) пе имеют четких границ, так как эти составляющие не различаются по окраске. Применяемые в таком случае химические и тепловые методы травления (обработка шлифованной поверхности ацетоном или азотной кислотой, обработка поверхности нагревом) не изменяют характера отражающей способности составляющих стеклопластпка и, следовательно, не улучшают качество наблюдаемого изображения. Выявленные при этом контуры структурных составляющих не являются достаточно контраст;!ыми, и наблю5д,ение структуры отнимает много време1ш. Характерным прп травле;ши шлпфов (теплового и химического) является также и то. что нарушается монолит!!Ость структуры связующего, появлгпотся дополнительные трещины, ко10 торые искажают де IcTIIHTeльную структ! ру связующего, полученную в результате его полимеризации и связанной с эт!!х! термической
H ХИМПЧЕС! .ОП 3 С2ДКОИ. CTCI!;IOII IBCTHI A(e, i<0торый гидвергался воздействию внешш!х на15 грузок, имеет внутри разрушенные волокна, Hîýòîìó при шлифовании образца отдельные осколки стекловолокна и связующее, заключенное между ними, выкрашпваются, что приводит к получению некачественного шлифа, 20,lcicBmeHHyio»BpTIIIIy поведе!ШЯ стекловолокн2 внутри компози IIIH под воздействием пагрузки.
Цель изооретения — создание таl.ого способа получения шлифов для микроструктур25 ного 2нализа стеклопластика, 11pH IiOTopoil достигается получение качественного, контpBcTIIo! 0, пеискажен1!Ого -изображения cTpl K
TvpHbIx составляющих стеклопластика и сокращается время, необходимое для н аблюде30 ния структуры стеклопластика. его высуши
384047
Составитель А. Рожков
Текред 3, Тараиеико
Корректор Е. Зимина
Редактор Г. Тимофеева
Заказ 2284/17 Изд. Ма 1563 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 вают и погружают в цапон-лак на 10 — 15 сск.
Полировку производят окисью хрома или крокусом, нанесенным с водой на поверхность диска, обтянутого сукном или фетром прй скорости вращения диска порядка 1000 об/мин во влажном состоянии. Заканчивают полировку получением ровной зеркальной поверхности.
Предмет изобретения
Способ получения шлифов для микроструктурного анализа стеклопластиков, заключающнйся в . еханической обработке образца стеклопластика абразивным инструментом с последующей полировкой, травлением и окраской, отличающийся тем, что, с целью полу5 чения контрастного, неискаженного изображения структурных составляющих стеклопластика, образец до механической обработки и в процессе ее периодически погружают на 10—
15 сек в раствор цапон-лака в ацетоне с кон10 центрацией от 1 до 20 о.
