Устройство для измерения электрических характеристик диэлектриков
ЪСЕСОК Э 1,в, Т -мт .Ф .:v у(1Щябу " нотекп ц в описание звюаз изоы етен ия
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Соцналистнческнх
Республнк
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 25.Х11.1970 (№ 1606023/18-10) с присоединением заявки ¹
Приоритет
Опубликовано 15.V.1973. Бюллетень № 21
Дата опубликования описания ЗХП1.1973
1. Кл. б 01г 27,00
Комитет по делам нзобротеннй н открытий прн Совете Министров
СССР
У т К 621.315.4, 6(088.8) Авторы изобретения
Э. Э. Финкель, Р. П. Брагинский и A. А. Поляков
Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ
ХАРА КТЕРИ СТИ К ДИ ЭЛ ЕКТРИ КО В
Устройство может быть использовано прн изучении электрофизических характеристик диэлектриков с малой подвижностью свободных носителей заряда, например полимеров.
Известны устройства для измерения электрических характеристик диэлектриков с малой подвижностью свободных носителей заряда, содержащие камеру для установки исследуемого образца, плоско-параллельную систему высоковольтных электродов, покрыты; изоляционным слоем, для возбуждения электрического поля, пропускаемого через образец, и схему измерения с контактирующими с образцом токопроводящими электродами.
Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что контактирующие электроды измерительной схемы выполнены в виде по крайней мере двух пар параллельных друг другу пластин, установленных в зазоре между высоковольтными электродами перпендикулярно их плоскостям и симметрично относ!!тельно центра камеры.
Это позволяет повысить чувствительность устройства и точность измерений при исследовании электропроводности диэлектриков с малой подвижностью свободных носителей заряда..
На чертеже .изображена схема устройства.
Исследуемый образец 1 помещают в прямоугольную камеру 2, на торцовых сторонах которой через изоляционные слои 3 и 4 размещены высоковольтные плоские электроды 5 и
6, возбуждающие пропускаемое через образец электрическое поле. Электроизоляционный
Б слой на электродах предотвращает протекание по образцу тока сквозной проводимости прн подключении электродов к источнику напряжения. Б предлагаемом устройстве в качестве такого слоя использоганы пластинки из
10 плавленого кварца. Измерительная схема устройства выполнена в виде параллельных электрических цепей 7, 8 с источниками питания
9, 10, регистрирующими приборами 11, 12 и по крайней мере дв мя парами контактиручощнх
15 электродов 13, 14 и 15, 16 в виде параллельных друг другу пластин, установленных в зазоре между высоковольтными электродами и 6 гер ендикулярно плоскостям этик электродов и симметрично относительно центра 17
20 камеры.
Работает устройство следующим образом.
К электродам 5» 6 по.|ключают источник высокого напряжения, à и исследуемому образцу 1 через плоско-параллельнь!е электро25 дь1 3, 14 и 15, 16 подводят напряжение от источников 9 и 10. Прн этом в цепях 7 и 8 возникают электрические токи, и тз, регистрируемые приборами 11 и 12. При воздействии на образец электрического поля, создаваемого
30 межДУ элекгРоДами, токи ly н тз, изменЯютсЯ, 381043
Составите чь Л Устинова
Редактор Б. Федотов
Текред T. Курилко
Корректор Е. Денисова
Типография, пр. Сапунова, 2 чro регистрируется приборами ll и 12. Изменение электрического поля в измерительной цепи обусловлено .перемещением свободных носителей заряда вдоль силовых линий поля.
Крутизна зависимости измеряемого сигнала от подвижности носителей заряда резко возрастает с уменьшением подвижности. Свободные носители заряда в результате .их электростатического взаимодействия с зарядами, сосредоточенными на электродах 5 и 6, перемещаются к тому или иному электроду в зависимости от номера приложенной к ним разности потенциалов и знака заряда свободных носителей. При этом изменяется их средняя концентрация в части образца, включенной в соответствующую измерительную цепь.
По изменению тока в зависимости от напряженности электрического поля в образце можно определить знак и подвижность свободных носителей заряда в исследуемом образце.
Для повышения чувствительности и точности целесообразно |пропускать через образец по крайней мере два параллельных электрических тока и воздействовать на н их электрическим полем, силовые линии которого располо0 12 жены в плоскости токов, перпендикулярно к ним. Данное устройство и служит для этой цели.
Предмет изобретения
Устройство для измерения электрических характеристик диэлектриков с малой подвижностьк свободных носителей заряда, содержа10 щее камеру для установки исследуемого образца, плоско-параллельную систему равноудаленных от центра камеры высоковольтных электродов, покрытых изоляционным слоем, и схему измерения с контактирующими с образ15 цом токопроводящими электродами, отличаюи ееся тем, что, с целью повышения чувствительности устройства и точности измерений при исследовании электропроводности диэлек триков, контактирующие электроды измери20 тельной схемы выполнены в виде по крайней мере двух пар взаимно параллельно расположенных пластин, установленных в зазоре между высокцвольтными электродами, перпендикулярно их плоскостям и симметрично относи25 тельно центра камеры.
Заказ 2077, 14 Иад. ¹ 520 Тираж 755
Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изооретений н открытий при Совете
Министров СССР
Мо< ква, ?K-35, Раугнская наб., д. 4/5

