Устройство для измерения разности фаз между взаимно перпендикулярными компонентами вектора

 

378758

О Ю Нзй Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

С з оз Советоки в

Сапнолистичеокив рРеопублив

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 28.ЧШ.1970 (№ 1475046/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 18.IV.1973, Бюллетень № 19

Дата опубликования описания 20Х1.1973

М. Кл. С 01п 21/44

Комитет по делаю изобретений и открытий при Совете Миииотров

СССР

УДК 543 5,3 (088 8) Авторы изобретения р. g. Кеймах, Ю. М. Глыбин, В. И. Кудрявцев, М. Д. KP W«

А. С. Аксенов и С. И. Бергер

Заявитель Всесоюзный научно-исследовательский и экспериментально-конструкторский институт продовольственного машиностроения

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗНОСТИ ФАЗ МЕЖДУ

ВЗАИМНО ПЕРПЕНДИКУЛЯРНЫМИ КОМПОНЕНТАМИ ВЕКТОРА

ОТРАЖЕННОЙ ВОЛНЫ

/1V в

cos y, вy — ( б

,n)

tg — = (1)

2 в пв Р

Известны фотоэлектронные устройства для измерения разности фаз между взаимно перпендикулярными компонентами вектора отраженной волны, возникающей, например, при полном внутреннем отражении плоскополяризованного света от поверхности раздела эталонной и исследуемой среды. В этих устройствах измерение осуществляется с помощью компенсаторов разности фаз, применение которых существенно снижает точность измерен ия за счет дополнительных погрешностей, связанных с их изготовлением, юстировкой и установкой в оптическом тракте прибора.

В настоящее время большое значение приобретают устройства для измерения разности фаз взаимно перпендикулярных компонент вектора отраженной волны при исследовании тонких пленок, полупроводников, оптических констант металлов, показателей преломления прозрачных и непрозрачных сред и др., поэтому исключение сложных компенсаторов разности фаз из оптической схемы устройства представляет большое практическое значение.

В предлагаемом устройстве для измерения разности фаз фотоэлектронная следящая система связана обратной связью с анализатором и отсчетным устройством, что позволяет исключить компенсатор из измерительной схемы устройства и повысить точность измерения.

На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого устройства применительно к измерению показателя преломления исследуемой среды.

Устройство состоит из источника 1 света, поляризатора 2, модулятора 3 света по колебаниям его плоскости поляризации, призмы 4 полного внутреннего отражения, омываемой исследуемой средой, анализатора 5 с отсчетным устройством, фотоприемника б, электрон1С ного усилителя 7 и фазового двигателя 8.

Монохроматический световой поток от источника 1 света, пройдя поляризатор 2 и модулятор 8 света, направляется под углом на измерительную поверхность призмы 4. Извест15 но, что плоскополяризованный свет, падающий из прозрачной изотропной среды 9 под углом п на границу со средой 10, при полном внутреннем отражении оказывается эллиптически поляризованным; при этом между взаимно перпендикулярными компонентами вектора отраженной волны обнаруживается сдвиг фазы 6, зависящий от угла падения ср и показателей преломления среды 9 и 10, определяемой уравнением:

Отраженный эллиптически поляризованный

30 свет поступает на анализатор 5. Далее моду 378758

I = 1 cosi () — а) — sin 2n sfn2) sin — 1, 2 где 10 — интенсивность поляризованного пучка лучей, пропущенного поляризатором; аи P — углы между направлениями колебаний, пропускаемыми соответственно поляризатором и анализатором, и направлением колебаний одного из компонент электрического вектора отраженной волны.

При повороте анализатора, т. е. при изменении угла Р, экстремальным значениям интенсивности отвечает угол р=р,„р., связанный с разностью фаз б зависимостью: (Г

) tg 2I1I„„ . = tg 2a. cos 8.

Эта зависимость вытекает из условия рад1 венства нулю частной производной —. д

При введении в систему модуляции света по колебаниям его плоскости поляризации переменная составляющая интенсивности модулилированный по интенсивности световой поток преобразуется при помощи фотоэлектронного устройства б, 7 в переменное напряжение, которое подается на одну из двух обмоток статора реверсивного электродвигателя 8. Вторая обмотка двигателя питается напряжением от общего источника с модулятором. Двигатель 8 кинематически связан с анализатором.

Интенсивность света на выходе из анализатора в такой системе (при отсутствии модуляции света по колебаниям его плоскости поляризации) выражается зависимостью: рованного света после анализатора состоит в общем случае из слагающих изменяющихся с частотой равной частоте модуляции и удвоенной (высшими гармониками ввиду их,ма5 лости можно пренебречь).

При угле ф,„стр., соответствующем экстремальным значениям интенсивности, в переменной составляющей интенсивности исчезает слагающая, изменяющаяся с частотой моду10 ля циси. Это указывает на то, что следящая система, прибора с анализатором в цепи обратной связи будет автоматически следить за изменением разности фаз, а следовательно, согласно зависимости (1) за изменением по15 казателя преломления измеряемой среды.

Совместное решение зависимостей (1) и (2) дает для акстр"

tg 2 „, р — tg 2а где К = sin y(tg ð — 1).

Предмет изобретения

30 Устройство для измерения разности фаз между взаимно перпендикулярными компонентами вектора отраженной волны, содержащее источник монохроматического света, поляризатор, модулятор света, анализатор и

35 фотоэлектронную следящую систему, отличиюи1ееся тем, что, с целью повышения точности измерения, фотоэлектронная следящая система подключена к анализатору с отсчетным устройством, 378758

Составитель В. Зверев

Техред Г. Дворина

Редактор А. Батыгин

Корректор Т. Гревцова

Заказ 1672713 Изд. № 431 Тираж 755 Подписное

L,ÍÈÈÏÈ Комитета пэ делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Устройство для измерения разности фаз между взаимно перпендикулярными компонентами вектора Устройство для измерения разности фаз между взаимно перпендикулярными компонентами вектора Устройство для измерения разности фаз между взаимно перпендикулярными компонентами вектора 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх