Способ рентгеноструктурного анализа

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

373605

Союз Советскил

Сецналистнческил

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 03.Х1.1970 (№ 1489625/26-25) М. Кл. G 01п 23/00 с присоединением заявки №

Приоритет

Комитет ло делам изобретеннй и открытий орн Совете Министров

СССР

Опубликовано 12.111.1973, Бюллетень № 14

Дата опубликования описания 17ХП1.1973

УДК 539.262(088.8) Автор изобретения

В. А. Лифшиц

Заявитель

СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

Изобретение относится к способам анализа веществ и, в частности, к рентгеноструктурному анализу поликристаллов.

Известен способ рентгеноструктурного анализа поликристаллов, в котором индикатор для регистрации рентгеновских лучей помещен в центре кольцевого источника рентгеновских лучей на фокусирующей сфере, на которой расположены источник излучения и исследуемый образец. Но в случае фотографической регистрации рефлекс сильно размыт, так как он является пересечением с плоскостью фотоплен ки боковых поверхностей круговых конусов дифракции, осями которых служат лучи, идущие из каждой точки кольцевого источника н а образец. Это затрудняет количественные измерения при исследовании образца при фотографической регистрации. С использованием кольцевого источника при фокусирующей обратной съемке вообще не существует поверхности, точно фокусирующей дифрагированные лучи, поскольку каждая из точек кольцевого источника имеет свою фокусирующую поверхность (поверхность тора) .

Расходимость рентгеновских лучей определяется кольцевым ограничителем, а диафрагма индикатора н еподвижна, что делает невозможной съемку в сколько-нибудь значительном интервале углов О, т. к. удаление образца QT источника меняет радиус фокусирующей сферы.

Целью настоящего изобретения является усовершенствование способа рентгеноструктурн ого анализа с применением кольцевого источника мон|охроматических рентгеновских лучей, которое позволило бы проводить съемку в широком диапазоне углов 0 с записью дифракционных максимумов на движущейся фотопленке или с помощью счетчика рентгеновского излучения, В предлагаемом способе эта цель достигается тем, что первичный пучок рентгеновских лучей, идущих от кольца источника, является расходящимся, образец перемещают вдоль прямой, перпендикулярной плоскости, в

15 которой лежит кольцо источника, и проходящей через середину кольца, и регистрирует интенсивность рентгеновских лучей, дифрагмированных вдоль этой прямой, причем размеры участка образца, от которого измеряет20 ся дифракция, определяются диафрагмами регистрирующего устройства.

Способ поясняется чертежом, где показано расположение источника рентгеновских лучей, образца и регистрирующих устройств диа25 фрагмами.

Вокруг луча, идущего из какой-либо точки кольца источника 1, имеющего радиус R, на образец 2, возникает конус дифракции 3.

Если 0 один из углов, удовлетворяющих

30 уравнению Вульфа-Брэггов для данн ого вещества и излучения анода, то при расстоянии от

373605

tg28 =—

II

Составитель Е. Шульгин

Текред 3. Тараненко Корректор Е. Талалаева

Редактор Л. Новожилова

Заказ 2277,/2 Изд. № 1622 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Я(-35, Раушская паб., д. 475

Типография, пр. Сапунова, 2 образца до плоскости кольца источника, равном такому L, что

tg(— 28) = —.

c все конусы дифрагирова нных лучей имеют общую образующую — прямую, на которой находятся образец, центр кольца источника и регистрирующее устройство 4. Все рефлексы, которые при съемке по методу Дебая-Шеррера образуют конус отраженных лучей, регистрируются одновременво, что позволяет уменьшить требования к мелкозернистости вещества. Для съемки в области передних углов следует перемещать образец между кольцом источника и регистрирующим устройством 5, при этом углы 0 будут определяться по формуле (запись может производиться сразу двумя устройствами 4 и 5). Интенсивность дифрагированных лучей записывается как функция расстояния L, углы дифракции 0 определяются по вышеприведенным формулам. Участок образца, отражения от которого регистрируются, определяется геометрией диафрагм б.

Описанный способ рентгеноструктур ного анализа может найти применение для экспрессной съемки поликристаллов в случае, когда имеется малое количество вещества или необходимо получить рентгенограмму от малого участка образца, например при исследовании включений малых размеров, при определении микронапряжений по методу обратной съемки.

Предмет изобретения

Способ рентгеноструктурного анализа, заключающийся в измерении углов дифракции при облучении образца пучком монохроматических рентгеновских лучей кольцевого источника, отличающийся тем, что, с целью повышен ия чувствительности анализа, образец перемещают вдоль прямой, перпендикулярной окружности источника и проходящей через

его середину, и регистрируют интенсивность рентгеновских лучей, дифрагированыых вдоль этой прямой.