Способ^^сканирования изделия при вихрхтоковой дефектоскопии
37I502
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 07.Ч1.1971 (¹ 1667922/25-28) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 22.11.1973. Бюллетень № 12
Дата опубликования описания 12.V.1973
М. Кл. G 01п 27/86
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете слинистрав
СССР
УДК 620.179.14 (088.8) Автор изобретения
Заявитель
С. А. Обручков
Всесоюзный научно-исследовательский институт по разработке неразрушающих методов и средств контроля качества материалов
СПОСОБ,СКАНИРОВАНИЯ ИЗДЕЛИЯ
ПРИ ВИХР ТОКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ
Предмет изобретения
Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и может быль использовано для контроля листов, полос, труб,.штанг и т. д.
Известен способ сканирования изделия при вихретоковой дефектоскопии, заключающийся в том, что контролируемое изделие располагают в зоне контроля и возбуждают в этой зоне электромагнитное поле посредством индукторов, которые питают сдвинутыми по фазе синусоидальными сигналами. Однако указанный способ может быть использован лишь для контроля |изделий из магнитных материалов, на поверхности которых образуются поля рассеивания от дефектных участков. Кроме того, этот способ не дает необходимой надежности контроля. Цель изобретения — расширение диапазона контролируемых материалов и повышение надежности контроля. Для этого индукторы питают высокочастотными синусо идальными сигналами, модулированными низкой частотой.
На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ.
Устройство содержит генератор 1 высокой частоты, многофазный генератор 2 низкой частоты, подключенные к модуляционному устройству 3, к выходу которого подключены элементы 4, 5 и б нагрузки (напртнмр, индуктивноствт), расп оложенные .над конпролируемым изделием 7.
Устройство функционирует следующ|им образом.
5 Напряжение высокой частоты с генератора
1 и напряжение низкой частоты с генератора
2 подаются на устройство 8 с выходами, питающими элементы 4, 5 и б возбуждения отдельных участков изделия 7, посылками вы10 сокочастотного электромагнитного поля. Форма огибающей, ча стота следования и фазовый сдвиг последних определяются соотношением параметров токов возбуждения элементов 4, 5и б.
Способ сканирования изделия при вихретоковой дефектоскопии, заключающийся в том, 20 что контролируемое изделие располагают в зоне контроля и возбуждают в этой зоне электромагнитное поле посредством индукторов, которые питают сдвинутыми по фазе синусоидальными сигналами, отличающийся тем, что, 25 с целью расширения диапазона контролируемых материалов и повышения надежности контроля, индукторы питают высокочастотными оинусоидальными сигналами, модулированными низкой частотой.
37!502
Составитель А. Духайин
Техред Л. Богданова
Корректор Л Вадылама
Редактор Н. Воликова
Типография, пр. Сапунова, 2
Заказ Я301/17 Изд. Ко 1212 Тираж 755 Прдписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прй Совете Министров СССР
Мо сава, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

