Ьиблио^^_а

Авторы патента:

G01B11/02 - для измерения длины, ширины или толщины (G01B 11/08 имеет преимущество)

G01B11 - Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения (измерительные устройства как таковые G01B 9/00)

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

376423

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 25.Ч1.1971 (№ 1674056/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 22.11.1973. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 5,VII.1973

М. Кл. G 015 11/02

Комитет ло делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 825.23(088.8) Автор изобретения

А. А. Данилов

Северо-западный заочный политехнический инстит т

Заявитель

ОПТИЧЕСКИЙ МИ КРОМЕТР

Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено для применения в оптических измерительных устройствах, геодезических приборах, измерительных микроскопах, в отсчетных системах станков.

Кроме того, оно может быть использовано для контроля перемещений, деформаций и т. д. с высокой точностью размеров.

Известен оптический микрометр, содержащий отсчетное устройство и оптический элемент в виде призмы или углового зеркала, обеспечивающих заданный масштаб работы микрометра. Оптический элемент перемещается по прямолинейной направляющей в сходящемся ходе лучей, благодаря чему происходит смещение проходящих через него световых лучей. С помощью отсчетного устройства определяется величина этого смещения.

Недостатком известного микрометра является то, что при перемещении оптического элемента по направляющей, кроме смещения лучей в измерительном направлении происходят другие нежелательные смещения и отклонения лучей, влияющие на точность проводимых измерений. Эти смещения обусловлены погрешностями изготовления направляющих, вызывающих повороты оптического элемента микрометра вокруг про извольных осей.

Цель изобретения вЂ” повышение точности работы микрометра за счет исключения влияния поворотов его оптического элемента.

Предлагаемый микрометр отличается от известного тем, что в качестве оптического элемента использована разносторонняя усечен5 ная пирамида, боковые отражающие грани которой обращены внутрь пирамиды, а угол при вершине обеспечивает заданный масштаб работы микрометра.

Световые лучи, проходя внутри пирамиды, 10 отражаются последовательно от всех ее граней. Как известно из геометрической оптики, поворот такой пирамиды (триэдра) вокруг произвольной оси не влияет на направление н положение отражающихся от его граней лу15 чей. Таким образом, исполнение оптического элемента микрометра в виде триэдра исключает влияние технологических погрешностей направляющих, по которым он перемещается.

На фиг. 1 изображена конструкция оптиче20 ского элемента микрометра и ход лучей через него; на фиг. 2 вЂ” визуальный прибор, в котором применяется описанный микрометр.

Оптический элемент 1 предлагаемого микрометра состоит из трех одинаковых зеркал

25 с наружным отражающим покрытием. При соединен и и этих зеркал друг с другом получается равносторонняя усеченная пирамида с углом при вершине, обеспечивающим заданный масштаб работы микрометра. Для упро30 щения технологии изготовления оптического

371423

Аиг 3

Составитель А. Лобзова

Техред Л. Богданова

Редактор Н. Воликова

Корректоры: Л. Корогод

M. Коробова

Заказ 1788,5 Изд. № 1263 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 5К-35, Раушская наб., д., 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

3 элемента можно его выполнить в виде стеклянной равносторонней пирамиды с зеркальным покрытием на гранях.

Но в этом случае точность работы микрометра понизится за счет аберраций.

Визуальный прибор, в котором применяется описанный оптический микрометр, состоит из объектива 2, перед которым находится основная отсчетная шкала 8, оптического элемента 1 (усеченной равносторонней пирамиды), смещающего лучи, сетки 4 и окуляра 5, Световые лучи, проходящие сквозь оптический элемент, отражаются последовательно от всех его гр аней (см. фиг. 1), отклоняясь при этом от первоначального своего направления на угол, равный удвоенному углу при вершине пирамиды.

При перемещении оптического элемента вдоль направления падающего луча АБ, идущего от основной шкалы 8, штрихи этой шкалы смещаются в плоскости сетки 4 на величину, обусловленную масштабом работы микрометра. Это смещение наблюдается и отсчитывается в окуляр 5.

5 Погрешности изготовления направляющей не сказываются на точность отсчета.

Предмет изобретения

Оптический микрометр, содержащий смеща10 ющий луч оптический элемент, установленный на прямолинейной направляющей в сходящемся ходе лучей, и отсчетное устройство для измерения величины его смещения, отличаюи ийся тем, что, с целью повышения точности

15 работы микрометра, в качестве оптического элемента использована равносторонняя усеченная пирамида, боковые отражающие грани которой обращены внутрь пирамиды, а угол при вершине обеспечивает заданный мас2О штаб работы микрометра.