Способ определения коэрцитивной силы тонких магнитных пленок
l
О П-И С А Н И Е 363057
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистическик
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 28.VI.1971 (№ 1674735/18-10) с присоединением заявки №
Приоритет
М. Кл. G 01г 33/12
Комитет по делам иаобретеиий и открытий при Совете йтииистроэ
СССР
УДК 621.317.42(088.8) Опубликовано 2О.Х11.1972. Бюллетень М 3 за 1973
Дата опубликования описания 6.П.1973
Авторы изобретения
l0. П. Егоров, Е. А. Подпалый и В. А. Фабриков
Заявитель
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭРЦИТИВНОй СИЛЫ
ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК
Изобретение относится к магнитным измерениям.
Известны способы определения коэрцитивной силы тонких магнитных пленок, основанные на регистрации момента перехода через нуль величины намагниченности пленки с помощью торсионного магнитометра или подобных ему измерительных приборов.
Цель изобретения — повышение точности определения коэрцитивной силы тонкой магнитной пленки.
Для этого по предлагаемому способу на поверхность тонкой магнитной пленки с олосовой доменной структурой наносят магнитный коллоид с герметизирующим прозрачным покрытием, например покровным стеклом от микроскопа, намагничивают пленку постоянным магнитным полем до насыщения, полосовые домены выстраиваются вдоль направления магнитного поля, т. е. в этом направлении автоматически наводится ось легкого намагничивания пленки (вращательная анизотропия) . После уменьшения магнитного поля до нуля частички магнитногО коллоида сосредотачиваются вдоль границ полосовых доменов, ооразуя на поверхности магнитной пленки отражательную дифракционную решетку. При освещении пленки с такой дифракционной решеткой направленным светом, например монохроматическим светом лазера, регистрируют угол дифракции отраженного луча в направлении наиболее яркого первого максимума, например, фотоэлементом, который может передвигаться по дуге вокруг пленки. Этот угол
5 дифракции ср1 однозначно связан с шириной полосовых доменов d по формуле т>. = d (sin, + sin р,), где m — порядок дифракционного луча;
10 Л вЂ” длина волны света; тго — угол падения света.
При плавном увеличении постоянного магнитного поля в направлении, точно противопо15 ложном средней намагниченности пленки, т. е. точно вдоль оси легкого намагничивания, при значении магнитного поля точно равном коэрцитивной силе пленки, происходит резкое скачкообразное изменение средней намагниченно20 сти пленки на противоположное, являющееся характерной особенностью петли гистерезиса магнитной пленки с полосовой доменной структурой. Резкое изменение средней намагниченности пленки приводит к тому, что ширина по25 лосовых доменов скачком увеличивается от ширины квазиравповесного состояния, соответствующей значению магнитного почя перед перемагнпчиванием пленки (на петле гистерезиса ширины полосовых доменов), до ширины
30 равновесного состояния, возникающей при пе363057
Предмет изобретения
Составитель Л. Строганов
Текред T. Миронова
Корректоры: Н. Аук и A. Дзесова
Редактор Т, Иванова
Заказ 182!8 Изд. ¹ 67 Тираж 404 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открьпий при Совете Министров СССР
Москва, К-35, Ратгнскан наб:, д. 4/5
Типографии, пр. Сапунова, 2 ремагничивании пленки. Момент скачка ширины полосовых доменов регистрируется rio резкому изменению угла дифракции и точно соответствует коэрцитивной силе тонкой магнитной пленки с полосовой доменной структурой, определяемой по величине приложенного магнитного поля. Точность определения коэрцитивной силы магнитных пленок с полосовой доменной структурой в этом случае ограничивается только точностью определения величины магнитного поля.
Способ определения коэрцитивной силы тонких магнитных пленок с полосовой доменной структурой, основанный на регистрации момента перехода намагниченности магнитной пленки через нуль, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения коэрцитивной силы тонкой магнитной пленки, 5 на ее поверхность наносят магнитный коллоид с герметизирующим прозрачным покрытием, намагничивают пленку до насыщения, плавно уменьшают намагничивающее поле до нуля, освещают пленку монохроматическим направ10 ленным пучком света и регистрируют угол дифракции отраженного луча в первом максимуме, после чего изменяют направление магнитного поля на противоположное и плавно увеличивают напряженность этого поля до мо15 мента резкого изменения угла дифракции, причем коэрцитивную силу пленки определяют по величине поля в момент изменения угла дифракции.
