Способ определения спектральных коэффициентов направленного отражения светорассеивающих

Авторы патента:

G01J3/12 - получение спектров; монохроматоры

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

С010з Советоких

СодHPII:I .: и I""..I;êèII

Pe yh si<

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 22.Х11.1969 (№ 1, 387487/26-25) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

M. Кл. G Olj 3/12

Комитет ло делам изобретений и открытий при Совета Миниотров

СССР

Опубликовано 07,XII.1972. Бюллетень М 1 за 1973

Дата опубликования описания 1.П1.1973

УДК 535.3(088.8) Авторы изобретения

H. Б. Рекант, Б. А. Хрусталев, А. А. Айгистов, А. В. Гавриченков и С. А. Демидов

Энергетический институт им. Г. М. Кржижановского

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ

НАПРАВЛЕННОГО ОТРА)КЕНИЯ СВЕТОРАССЕИВАЮЩИХ

МАТЕРИАЛОВ

Предмет изобретения

Изобретение относится IK способам оптических измерений и может найти применение при определении спектрального полусферическото коэффициента отражения материалов в широком диапазоне спектра.

Согласно известному способу определения спектральных коэффициентов направленного отражения на спектрометре с приставкой для измерения направленного отражения, необходимо измерить интенсивность излучения источни ка без образца или отражения эталонного зеркала и интенсивность отраженного от образца излучения на данной длине волны по данному направлению, При малой величине отражения измерения, выполненные известным способом, содержат значительные ошибки.

Согласно предложенному способу, при измерении интенсивности источника без образца раскрывают щель монохроматора до получения на выходном приборе максимального отсчета, затем вводят в контрольный канал (т, е. между фотоприемником и местом установки образца) ослабитель, снимают показание прибора при введенном ослабителе, вновь расширяют щель монохроматора до получения максимального отсчета, снимают показания прибора и вводят новый ослабитель.

Эту процедуру повторяют до достижения ширины щели монохроматора, при которой отсчет на выходном приборе приближается к максимальному значению при измерении отражения от образца, затем снимают показание прибора при отражении от образца и с учетом ослабления излучения в контрольном канале за счет введения всех ослабителей рассчитывают коэффициент отражения для выбранных условий.

Применение данного способа в ряде случаев

10 позволяет увеличить точность измерений в десятки раз.

Способ определения спектральных коэффициентов направленного отражения светорассеивающих материалов путем последовательного измерения интенсивности падающего на

20 образец и отраженного от него излучения на спектрометре с приставкой для измерения направленного отражения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, при измерении интенсивности падающего на

25 образец излучения раскрывают щель монохроматора до получения на выходном |приборе максимального отсчета, вводят в контрольный канал ослабитель, отмечают показание прибора, многократно повторяют эту процедуру

30 до достижения ширины щели монохроматора..3 ll395

Составитель Е. Афанасьев

Техред Т. Миронова

Редактор T. Орловская

Заказ 394/2 Изд, Ме 32 Тираж 404 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 3К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 при которой отраженное от образца излучение дает на приборе отсчет, близкий к максимальному, производят замер интенсивности отраженного от образца излучения и с учетом общего ослабления излучения в контрольном канале за счет введения ослабителей рассчитывают коэффициент направленного QTpB>KpkIHB на выбранной длине волны.

Корректоры: О. Тюрина и Е Талалаева