Патент ссср 348856

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

348856

Gaea Советских

Сакиалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства Ке

Заявлено 20.IV.1970 (№ 1430389/25-28) с присоединением заявки К

Приоритет

Опубликовано 23Х111.1972. Бюллетень Х< 25

Дата опубликования описания 13.IX.1972

М. Кл. 6 Olb 7/06 комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 621.317:531.717.11 (088.8) Авторы изобретения

В. М. Гудков, Б. В. Гончаренко и Г. А. Шумаков

Заявитель

ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИНЫ НАПЫЛЯЕМЫХ ПЛЕНОК

Изобретение относится к Heðàçðóøàþùåìó контролю и может быть использовано в устройствах для вакуумного напыления при изготовлении пленочных компонентов интегральных микросхем.

Известен измеритель толщины папыляемых пленок, содержащий два кварцевых резонатора, располагаемых в потоке напыляемого материала, заслонку, поочередно перекрывающую один из кварцевых резонаторов.

Известные измерители неудобны тем, что у них весьма низкий срок службы кварцевых резонаторов, практически он не превышает

8 — 10 циклов напыления. Суммарная толщина напыленной пленки не может превышать мклт. Тем самым уменьшается добротность кварца, нарушается линейность между отклонением частоты и приростом массы. Влияние термических факторов па точность измерений требует строгого подбора пар резонаторов по температурному коэффициенту частоты. Такой подбор резонаторов приводит к значительному их расходу, и эксплуатация устройства становится экономически нерентабельной.

Целью изобретения является повышение надежности. Предлагаемый измеритель снабжен вращающи<мся обтюратором, установленным в потоке напыляемого материала перед заслонкой.

На чертеже изображена блок-схема предлагаемого измерителя.

Измеритель содержит кварцевые резонаторы 1 и 2, глухую заслонку 8, обтюратор 4 со сдвоенным диском; высокочастотные генераторы 5 и 6, смеситель 7, исполнительный каскад 8, низкочастотный опорный генератор 9, поляризованное реле 10 с двумя устойчивыми положениями, контакт реле 11 исполнительного каскада 8, реле 12 и его контакты 18 и 14, обмотки 15 и 16 поляризованного реле и кнопки 17 и 18.

Измеритель толщины напыляемых пленок функционирует следующим образом.

15 В вакуумной камере вблизи с подложкой, на котору|о осаждаются элементы микросхемы, устанавливаются два кварцевых резонатора (и 2 с одинаковой резонансной частотой. Кварцеьые резонаторы определяют час20 тоты двух идентичных высокочастотных генераторов 5 и 6. Соосные отверстия сдвоенного ьращающегося диска обтюратора 4 периодически открывают один из кварцевых резонаторов для запыле|шя.

25 Разностная частота двух генераторов 5 и 6 возникающая вследствие осаждения пленки на один из кварцевых резонаторов, выделяется смесителем 7 и подается на исполнительный каскад 8, в котором производится

30 ее сравнение с частотой низкочастотного reоч8850

Соста ни тель А. Ду ханин

Тсхред Л. Куклина

Корректор E. Талалаева

Редактор С. Титова

Заказ 2893, 11 Изд ¹ 1242 пра;«495 Подll ис и ое

ИНИИПИ Компгета по делам изобретений и открыт и при Совете Мпппстров СССР

Москва, 7К-35, Раушскап пао., д. 4i5

Тнпографн!1, пр, Сапун!ова, 2 нератора 9. При равенстве частот генератора 9 и разностной частоты генераторов 5 и о исполнительный каскад 8 посредством контактов 14 поляризованного реле 10 перек:почает глухую заслонку 8, а контактап! 18 подключает новый источник опорной частоты — напряжение промышленной сети.

При следующем напылении пленка будет осаждаться на другой кварцевый резонатор, а разностпая частота генераторов 5 и б будет уменьшаться до значения равного частоте промышленной сети. Цикл повторяется.

Г ! !

1 ! з—

Толщина пленки ка кдого цик. 1а напыления определяется разностью опорных частот.

Предмет изобретения

Измеритель тол!Инны на!И1ляемых пленок, содер>кащий дга кварцевых резонатора, располагаемых в потоке папыляемого материала, заслонку, поочередно перекрывающую один из кварцевых резонаторов, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности измерителя, ои снабжен вращающимся обтюратором, установленным перед заслонкой.

Патент ссср 348856 Патент ссср 348856 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх