Способ измерения частотно-фазовой характеристики магнитного поля магнитной головки

 

33350I

Союз Соеетоииз

Социалистическиз

Республик

И АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 05.Х1.1970 (№ 1489673/26-9) М, Кл. G 01г 33/00

I с присоединением заявки №

Приоритет

Комитет по делам изобретений и открытий при Соеете Миннстрое

СССР

УДК 621.317.63(088.8) Опубликовано 21.111.1972. Бюллетень № 11

Дата опубликования Описания 2б.IV.1972

Авторы изобретения

С. Х. Гиршовичус, В. Н. Гусев, В. А. Красюк, О. М. Кудрявцев, А. М. Лаврухин и А. Е. Лукьянов

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕН ИЯ ЧАСТОТНО-ФАЗОВОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ

МАГНИТНОГО ПОЛЯ МАГНИТНОЙ ГОЛОВКИ

Изобретение относится к области измерительной техники.

Известны способы измерения частотно-фазовой характеристики магнитного поля магнитной головки, при которых через обмотку головки пропускают синусоидальный ток и воздействуют на электронный луч магнитным полем у рабочего зазора головки. Известные способы не обеспечивают достаточной точности измерения частотно-фазовой характеристики.

Цель изобретения — увеличить точность измерения. Для этого, согласно изобретению, электронный луч направляют параллельно осевой линии рабочего зазора, действуют на него в перпендикулярном плоскости рабочего зазора направлении синусоидальным электрическим полем, синфазным току в обмотке, и измеряют фазовый сдвиг этого электрического поля, производимый для достижения отклонения электронного луча только в одной плоскости.

Измерение частотно-фазовой характеристики по предлагаемому способу происходит следующим образом.

Через обмотку магнитной головки пропускают синусоидальный ток, создающий у ее рабочего зазора магнитное поле, которое изменяется во времени по тому же закону что и ток, но сдвинуто относительно последнего по фазе. Через магнитное поле у рабочего зазора параллельно его осевой линии пропускают электронный луч, на который воздействуют синусочдальным электрическим полем, 5 направленным перпендикулярно плоскости рабочего зазора и синфазным току в обмотке, При этом луч движется по некоторой замкнутой конической поверхности, форма которой определяется соотношением фаз тока и маг10 нитного поля. Фазовый сдвиг магнитного поля определяют по фазовому сдвигу электрического поля, который производят для достижения отклонения электронного луча только в одной плоскости. По результатам измерения

15 фазового сдвига для различных значений частоты тока строят частотно-фазовую характеристику магнитного поля.

20 Предмет изобретения

Способ измерения частотно-фазовой характеристики магнитного поля магнитной головки путем пропускания через обмотку головки

25 синусоидального тока и воздействия на электронный луч магнитным полем у рабочего зазора головки, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности измерения, электронный луч направляют параллельно осевой линии ра30 бочего зазора, действуют на него в перпенди333501

Составитель Е. Розанов

Техред Л, Богданова

Корректор Е. Михеева

Редактор T. Юрчикова

Заказ 1036/! Изд. М 478 Тираж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 кулярном плоскости рабочего зазора направлении синусоидальным электрическим полем, синфазным току в обмотке, и измеряют фазовый сдвиг этого электрического поля, который производят для достижения отклонения электронного луча только в одной плоскости.

Способ измерения частотно-фазовой характеристики магнитного поля магнитной головки Способ измерения частотно-фазовой характеристики магнитного поля магнитной головки 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в метрологии и магнитометрии при проведении поверочных и исследовательских работ

Изобретение относится к способам измерения физических свойств ВТСП-материалов

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в устройствах для измерения параметров магнитного поля на основе феррозондов

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к индуктивным датчикам, и может быть использовано для магнитных и линейно-угловых измерений, в дефектоскопии, для обнаружения и счета металлических частиц и тому подобное

Изобретение относится к магнитоизмерительной технике и позволяет в широком диапазоне и с высокой точностью формировать на выходе устройства величину измеряемой магнитной индукции
Наверх