Способ эталонирования приборов для контроля толщины покрытия

Авторы патента:

G01B7/06 - для измерения толщины

О П И С А Н И Е 3l3071

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советскив

Социалистическик

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ г

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 26.111.1968 (№ 1228118/25-28) ЧПК G Olb 7/06 с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 31 VIII.1971. Бюллетень № 26 УДК 531,717.11(088.8)

Дата опубликования описания 26.Х.1971

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Авторы изобретения

Ю. К. Григулис, Э. П. Эриньш и К. А. Дзилюмс

Физико-энергетический институт АН Латвийской ССР

Заявитель

СПОСОБ ЭТАЛОНИРОВАНИЯ ПРИБОРОВ ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.

Известен способ эталонирования приборов для контроля толщины покрытия на металлической основе, заключающийся в том, что токовихревой датчик прибора располагают над основой и производят соответствующие регулировки электрических режимов в цепях прибора. Однако точность эталонирования при этом недостаточная из-за влияния нестабильности параметров основы.

Целью изобретения является повышение точности эталонирования. Для этого по предлагаемому способу предварительно до регулировки на основу наносят м аксимальную толщину покрытия, а затем, располагая датчик на поверхности этого покрытия, производят необходимые регулировки электрических режимов в цепях прибора для приведения его параметров в соответствие с заданными техническими характеристиками, При таком cllOсобе эталонирования влияние нестабильности физических свойств основы на точность кон5 троля снижается из-за уменьшения вносимого сопротивления в датчик эквивалентного указанным физическим свойствам.

Предмет изобретения

Способ эталонирования приборов для контроля толщины покрытия, заключающийся в том, что токовихревой датчик прибора располагают над основой и производят соответст15 вующие регулировки электрических режимов в цепях прибора, от тичаю цийся тем, что, с целью повышения точности эталонирования, предварительно до регулировки на основу наносят максимальную толщину покрытия.

Устройство для измерения толщины слоя льда // 309216

Устройство для контроля толщиньг немагнитных металлических изделий // 307331

Способ отстройки от влияния изменения // 302587

Устройство для контроля толщинылистового материала // 301516

Индуктивный преобразователь для измерения линейных перемещений // 297857

Соесоюзная i!;::v::;i^^;04[xaiherhariтолщиномер // 295015

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытийв^:.->&:.о,озная' '. т""^** ' ' ' ^ -.•1- »»'ч11гг" ipaf?-. i:.u.;.ir-i !....;:-л; нднбчвл^ю'-'ека // 292057

Прибор для измерения толщины слоя немагнитного покрытия изделий // 291515

Патент 288318 // 288318

Термозонд для неразрушающего контроля толщины защитных пленочных покрытий // 2101674

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Устройство для измерения толщины плоского изделия и способ его реализации // 2107257

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Устройство для определения наличия и толщины пленки электролита на поверхности металлических объектов // 2107891

Вихретоковое устройство для неразрушающего контроля // 2111482

Индукционный датчик контроля толщины металлических покрытий // 2112919

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Неразрушающий способ определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений // 2113691

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Устройство для измерения толщины проводящего покрытия с непосредственным отсчетом // 2128818

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий

Магниторезистивный элемент и способ его получения // 2128819

Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Электромагнитный толщиномер // 2129253

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Измерительное устройство // 2133448

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе