Способ автоматической подналадки технологического процесса

О П И-"1.=.-А Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

305342

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ вф

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 28.Х.1969 (№ 1376372125-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 04.V1.1971. Бюллетень № 18

Дата опубликования оппса пя 13Л 11.!971

МПК G 01Ь 508

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 531.7:621.9.08:658..562.62 (088,8) Авторы изобретения

3. Ш. Гейлер, Е. П. Маслов и В. Д. Спиридонов

Институт автоматики и телемеханики (технической кибернетики) Заявитель

СПОСОБ АВТОМАТИЧЕСКОЙ ПОДНАЛАДКИ

ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА

U» =аUn — bX»

Изобретение относится к области управления технологическими процессами, например к размерной настройке металлорежущего станка. Изобретение может быть распрос.ранено на управление теми видами технологических процессов, у которых измерение контролируемого параметра Х„во времени представляет су мму функционально-случайной р» и собственно случайной (составляющих:

Х» = p»+E»

Известны способы автоматической полналадки технологического процесса, например размерной настройки металлорежущего станка, заключающиеся в том, что периодически измеряют контролируемый параметр Х, формируют подналадочный импульс U„, величину и знак которого определяют на основании сравнения результата измерения с некоторы;I заданным уровнем, и оказывают на процесс регулирующее воздействие, эквивалентное подналадочному импульсу, например перемещают исполнительный орган ътеталлорежущего станка.

Подналадочный импульс принимают равным

U»+1 = Хзад аХ»

Весовой коэффициент а выбирают, исходя из статистических характеристик процесса, стремясь обеспечить минимальное рассеивание контролируемого параметра.

Благодаря применению автоматической подналадки возможно уменьшить рассеивание контролируемого параметра.

Однако известные способы автоматической подналадки имеют пониженную точность вследствие недостаточно полного учета предшествующей информации, так как при формировании подналадочного импульса U»; учитывают только информацию, полученную при

10 и-ном измерении, а всю предысторию процесса отбрасывают.

Способы запоминания предшествующей информации на индивидуальных ячейках памяти не получили распространения вследствие

15 громоздкости реализующих пх устройств.

Целью предлагаемого изобретения является минимизация рассеивания контролируемого параметра.

Это достигается тем, что подналадочный пм20 п1 дьс форхтир ют равным сумме отклонения результата измерения контролируемого параметра от заданного уровня и предыдущего подналадочного импульса, взятых с соответствующими весовыми коэффициентами

Весовые коэффициенты а и а могут быть определены на основании статистических ха3й рактеристик процесса.

305342

b = 2e" о (4) где

2 2 .в,,— 2 2 2 и — 2

1 — е

Предмет изобретения

Составители В, Романов

Тскрсд Л. В. Куклина

Корректоры: М. Коробова

Л, Корогод

1 сдактор О. Юркова

Заказ 1915/17 Изд. ¹ 820 Тираж 473 Подписнос

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

TllllOI ра!1и!я, Ilp. Сап1 IIODII, 2

Выраже!шое двухзвенной формулой (1) реку13енг!!Ос соотношение !позволяет учесть всю нредыдущ) ю информаци10, поскольку Оно эквивалентно равенству

С)и-, 1 — /1(д+ П п — 1+ г! Х вЂ” 2+ ° ° ° + и 3,) (-) 013IICI l I3aei3IhlII C!IOCOO а13тОМатнг!ССКОЙ наладки технологи|lecKQI o п130цесса закл!Очается в том, что периодически измеряют контролируемый параметр технологического процесса, например размер детали, обработанной на металлорежущем станке, сравнивают результат измерения с некоторым заданным уровнем, формируют подналадочный импульс в соответствии с соотношением (1), оказывает на процесс регулирующее воздействие, эквивалентное величине подналадочного импульса, например перемещают испо",íèтельный орган металлорежущего ста.!ка.

Beëè пшы а и /) в соотношении (1) определяют предварительно на основании "Iме!ощихся данных о статистических характеристиках регулируемого технологического процесса. Например, для технологических .процессов, у которых функционально-случайная 1!.„и собственно случайная н„составля!Ощие распределены нормально с нулевыми средними значениями и дисперсиями соответственно о и

2 о2 И С КОррЕЛяцИОННОй фуНКцИЕй дЛя Г1„ ВИда

"и

Р.

7 где а — постоянный коэффициент; а, и — число изделий.

Весовые коэффициенты а и b могут быть найдены как

4 о / 2 2 а =е" 1 — 22 (1 — е — ") (1 и (3) й

15 Способ автоматической подналадки технологического процесса, например размерной настройки металлорежущего станка, заключающийся в том, что периодически измеряют контролируемый параметр процесса, резуль20 тат измерения сравнивают с заданным уровнем, формируют подналадочный импульс переменной величины и знака в зависимости от результатов измерения и статистических характеристик регулируемого процесса и оказы25 вают на процесс регулирующее воздействие, эквивалентное величине подпаладочного импульса, отлича)оцийея тем, что, с целью минимизации рассеивания контролируемого параметра, величину подналадочного импульса оп30 ределяют как сумму предыдущего подналадочного импульса и отклонения предыдущего результата измерения от заданного уровня, взятых с постоянными весовыми коэффициентами.