Способ анализа элементного состава твердых веществ
1 3
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
300860
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №
МПК G 01ч 5/00
Заявлено 12.1И.1968 (№ 1224926/26-25) с присоединением заявки №
Комитет па делам изобретений и аткрытиР при Совете Министров
СССР
Приоритет
Опубликовано 30 X1 1971. Бюллетень № 36
Дата опубликования описания 16.II.1972
УДК 550.839(088.8) Авторы изобретения
С. А. Бибинов, В. Д, Петренко, А. А. Хайдаров и Б. Х. Хасанов
Институт ядерной физики АН Узбекской ССР
Заявитель
СПОСОБ АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА
ТВЕРДЫХ ВЕЩЕСТВ
Предмет изобретения
Изобретение относится к ядерно-физическим способам анализа элементного состава твердых веществ и может быть применено в металлургической, геологоразведочной, горной и других областях промышленности, Способ основан на просвечивании гаммалучами образцов исследуемых материалов и последующем измерении интенсивности гамма-излучения, прошедшего через анализируемые образцы, Известные способы предусматривают тщательную подготовку образца для анализа, например вырезание пластинки с заданной толщиной и плоскопараллельными гранями.
После изготовления пл астинки необходимо с помощью микрометра проверить ее толщину. В случае отклонения толщины пластинки от заданной величины в результат измерения интенсивности прошедшего через эту пластинку гамма-излучения необходимо вводить поправку, пропорциональную этому отклонению. Недостатками известного способа являются недостаточно высокая точность анализа и недостаточная экспрессность из-за операции измерения толщины пластинки и введения поправок.
Предложенный способ устраняет эти недостатки и упрощает процесс анализа. Это достигается тем, что по предложенному способу образец для анализа выполняют клиновидной формы и помещают его в пучок излучения между ограничителями толщины, с помощью
10 которых обеспечивается одна и та же толщина поглощающего слоя над пучком гаммаизлучения и таким образом компенсируют неточности замеров приготовленного образца.
Способ анализа элементного состава твердых веществ путем просвечивания гамма-лучами образцов, отличатощийся тем, что, с
20 целью повышения точности и производительности, образцы изготавливают клиновидной формы н помещают в пучок гамма-лучей между ограничителями толщины.