Устройство для определения прочности полимерныхпокрытий и пленок
ОПИСАНИЕ 2979!О
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Со1оз Советских
Социалистичвоких
Реооу0лик
Зависимое от авт. свидетельства №
МПК О 01п 19 04
Заявлено 20.1Х.1965 (№ 1029713/23-5) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 11.111,1971. Б1оллетепь ¹ 10
Дата опубли кова11ия ottttctt111151 .% . 1971
Комитет ио делатз изобретений и открытий ори Саввтв 1т1иниотров
СССР
УДК 620.179.4(088.8) Авторы изобретения
В. М. Шиманский и Б. Ю. Гординский
Украинский научно-исследовательский институт полиграфической промышленности
Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОЧНОСТИ ПОЛИМЕРНЫХ
ПОКРЫТИЙ И ПЛЕНОК
Предмет изобретения
Известно устройство для определения прочности полимерных покрытий и пленок, состоящее из набора оправок цилиндрической формы и различного диаметра, относительно которых изгибают испытываемые образцы. Известное устройство содержит оправки, каждая из которых имеет постоянный радиус кривизны, что не позволяет точно определить, при каком именно радиусе разрушается образец из-за значительного разброса диаметров. 10
Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что рабочая поверхность оправки снабжена направляющими для образца и выполнена в виде поверхности переменного радиуса кривизны, например спирали Архимеда. 15
Зто повышает точность измерения.
На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2 — приспособление для крепления образца.
Устройство для определения прочности поли- 20 мерных покрытий и пленок состоит из установленной на подставке 1 оправки 2, снабженной направляющими 8, относительно которых перемещается испытываемый образец 4 на подложке 5 с держателями б. Оправка имеет шкалу.
Устройство работает следующим образом.
К подложке 5 образца 4 крепят держатели б, вставляют ее в направляющие 8 оправки 2 и перемещают в направлении участков с меньшим радиусом кривизны. Мерой прочности покрытия является радиус кривизны, при котором испытываемый образец разрушается.
Устройство для определения прочности полимерных покрытий и пленок методом изгиба относительно оправки, отлича1ощееея тем, что, с целью повышения точности измерения, рабочая поверхность оправки снабжена направляю щими для образца и выполнена в виде поверхности переменного радиуса кривизны, например спирали Архимеда.
297910 иг 2
Составитель М. Осипова
Редактор Л. К. УшакОва Тсхрсд 3. Н. Тараненко Корректор Т. А. Абрамова
Изд. № 448 Заказ 1103/4 Тираж 473 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 478
Типография, пр. Сапунова, 2

