Способ определения межэлектродного зазора

Авторы патента:

B23P1/14 - Прочие способы обработки; комбинированные способы обработки; универсальные станки (копировальные устройства и устройства для управления процессами обработки на металлорежущих станках B23Q)

<»>284825

ОП ИСАНИЕ

И ЗОБРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свнд-вувЂ” (22) Заявлено 29.12.67 (21) 1210204/25-08 с присоединением заявкивЂ” (23) ПриоритетвЂ” (43) Опубликовано 15 12.81. Бюллетень № 46 (45) Дата опубликования описания 30.12.81 (51) М.Кл.з В 23 P 1/14 государственный комитет ло делам изобретений и открытий (53) УДК 621.9.048.4 (088.8) (72) Авторы изобретения

М. Н. Улитин, Е. А. Деев и Е. Г. Шумов (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕЖЭЛЕКТРОДНОГ

ЗАЗОРА

Известен слособ определения межэлектродного зазора при помощи дополнительного .низковольтного источника питания, когда электроды после прекращения процесса обработки перемещают до момента короткого замыкания между,ними.

Однако в условиях электроэрозионного шлифования такой способ не позволяет получить достаточно точные данные iso зазору, так как при данном процессе имеет место и чистовая электроконтактная обработка, что при различных положениях детали и круга при водит к различным данным по зазо.ру. 15

Кроме того, нежесткость системы СПИД приводит к дополнительной погрешности при замере зазора, Цель изобретения вЂ” повышение точности определения зазора.

Это достигается тем, что предварительно шлифуют пакет специальных образцов под один размер, лосле чего часть образцо|в изолируют, а оставшиеся неизолированные образцы подвергают дальнейшему .шлифованию до тех пор, пока процесс,не прекратится или параметры процесса не достигнут заданного предела, при этом межэлектродный зазор определяют как перепад между изолированными и,неизолированными образ цами.

Такой, способ ло вышает точность определения межэлектродного зазора.

На чертеже изображен специальный пакет образцов, при помощ и которого осуществляется предлагаемый процесс.

Сущность способа состоит в следующем.

Изготовляют специальный пакет образцов, состоящий из стальной оправки 1, на которую посажены три диска (образцы)

2, 3, 4,,изготовленные из того же материала, что и детали. Средний диск 3 имеет постоянный контакт с Оправкой. Крайние диски 2 и 4 изолированы от среднего диска 3 текстолитовыми шайбами 5, а от оправки изолированы втулками 6. С двух сторон фланца втулок 6 положены медные шайбы

7 и 8 с усиками 9, 10. Если усики шайб спаялись .между собой, то диски будут

:иметь контакт с оправкой. Ток к оправке от источника питания;подводится через задний центр станка. Пакет образцов со спая нными усиками 9, 10 устанавливают в центрах станка и производят многопроходное ылифование дисков под о дин диаметр.

Ширина шлифующего диска электрода должна быть .не менее величины 1. После

284825

Фор мула изобретения

Техред Л. Куклина Корректор И. Оснновссак

Редактор Л. Павлова

Заказ 1624/1229 Изд. № 604 Тираж 1148 Подписное 1 !О «Г1оиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035. Москва. Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент> прон1лифовки дисков под один диаметр усики распаиваются, и пакет образцов шлифуется далее, В этом случае обрабатываться будет только средний диск. Обработку ведут до тех 3Iop, пока процесс совсем не прекратится или параметры процесса не достигнут задан ного предела. После этого пакет образцов снимается со ста нка, тщательно промывается и определяется разность диаметров среднего и крайних дисков. Половина этой величины и будет равна межэлектродному зазору.

Пакет образцов может быть неоднократно использован для определения зазора в различных условиях и реж|имах.

Способ определения межэлектродното зазора при многопроходном электроэрозион ном шлифовании, о т л и ч а ю щ н и с я тем, что, с целью повышения точности определения зазора, предварительно шлифуют пакет специальных образцов под один ,размер, после чего часть образцов изолируют, а оставшиеся неизолированные образцы подвергают дальнейшему шлифованию до тех пор, пока процесс не прекратится илн параметры процесса не достигнут заданного предела, при этом межэлектрод15 ный зазор определяют как перепад между изолированными и неизолированными образцами.