Патент ссср 279059
279 О 59
ОГ}ИСАНИЕ
ИЗОЬЕЕтЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Саеетскиз
Социалистические
Ресаублик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 24.ll.1969 (№ 1308866!25-28) с присоединением заявки ¹
Пр иор итет
Опубликовано 21 VIII.1970. Бюллетень № 26
Дата опубликования описания 18.XI.1970
Кл. 42Ь, 12i02
МПК G 01Ь
УДК 531.715.2(088.8) Комитет аа делам изабретеиий и открытий ори Сосете Мииистрав
СССР
Автор изобретения
Г. П. Кремиев
Одесский политехнический институт
Заявитель
;,;- 1,:.;."й ТЕ11,А
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВСКРЫТИЯ РАБОЧЕГО ЗАЗОРА
В МАГНИТНОЙ ГОЛОВКЕ
Известен спосоо определения вскрытия раоочего зазора в магнитной головке, заключающийся в том, что шлифуют раоочую поверхность магнитной головки, подводят ее под металлографический микроскоп, освещают источником света и визуально определяют степень вскрытия рабочего зазора головки.
Предлагаемый спосоо отличается от известного тем, что, с целью автоматизации, повышения точности и производительности процесса контроля, применяют фотоэлектрический амплитудный микроскоп, перемещают магнитную головку относительно оптической оси микроскопа, находят при этом на экране электрîíkIoëó÷åâoé трубки микроскопа действительн ю кривую, соответствующую максимальной величине размаха амплитуды, устанавливают по этой кривой середину рабочего зазора, затем наносят на экран эталонную кривую, полученную от аттестованной магнитной головки со 100% вскрытием рабочего зазора, и по совпадению действительной и эталонной кривых судят о степени вскрытия рабочего зазора.
Предлагаемый способ осуществляется следующим ооразом.
Фотоэлектрический амплитудный микроскоп устанавливают на стол шлифовального станка; магнитную головку, закрепленную в приспособлении, после определенного количества рабочих проходов стола станка подводят своей раоочей поверхностью под микроскоп.
Рабочая поверхность магнитной головки освещается источником света. Проворачивая приспосооление с магнитной головкой, находят максимальную величин«размаха амплитуды кривой и ее форму на экране электронно lyчевой трх оки микроскопа.
Размах амплитуды и форму действительной
10 кривой сравниваются с эталонной кривой. нанесенной на экране трубки и полученной от аттестованной магнитной головки со 100% вскпытием рабочего зазора.
При частичном вскрытии рабочего зазора
15 магнитной головки размах амплитуды отличается от эталонного. ЦТлифование ведут до тех пор, пока не произойдет совпадения двух амплитуд — эталонной и действительной — на экране электроннолучевой трубки фотоэлект20 рического амплитудного микроскопа.
Предлагаемый способ ооладает высокой точностью (до +0,1 лтлт), производительность|о и достаточно легко может быть автоматизирован путем сравнения двух электрических сиг25 палов — эталонного (соответствует 100% вскрытию р а оочего зазора магнитной головки) и действительного. полученного гри измерении обрабатываемой магнитной головки.
Прп равенстве двух сигналов процесс щтифо
30 па нпя прекращается, 279059
Предмет изобретения
Составитель Л. Лобзова
Корректор Л. В. Юшина
Редактор Л. Г. Герасимова
Заказ 3317 17 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, )К-35, Раушская наб., д, 4 5
Типография, пр. Сапунова, 2
Способ определения вскрытия рабочего зазора в магнитной головке, заключающийся в том, что шлифуют ее рабочую поверхность, подводят ее под микроскоп и освещают источником света, отличающийся тем, что, с целью автоматизации повышения точности и производительности процесса контроля, применяют фотоэлектрический амплитудный микроскоп, перемещают магнитную головку относительно оптической оси микроскопа, находят при этом на экране электроннолучевой трубки микроскопа действительную кривую, соответствующую максимальной величине размаха ампли5 туды, устанавливают по этой кривой середину рабочего зазора, затем наносят на экран эталонную кривую, полученную от аттестованной магнитной головки со 100% вскрытием рабочего зазора, и по совпадению действитель10 ной и эталонной кривых судят о степени вскрытия рабочего зазора.
