Способ определения размеров макрочастиц

утатентно-техн".ис -

272663

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалистическик

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 29ЛЧ.1968 (№ 1239588/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано ОЗ.Ч1.1970. Бюллетень № 19

Лата опубликования описания 2.1Х.1970

Кл. 42l, 13/04

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК G Oln 15/02

УЛ К 543.273.3 (088.8) ABTOpbI изобретения

Е, П. Мартынов и В. А. Иванов

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ МАКРОЧАСТИЦ

=f(r Е), Известен способ гранулометрического анализа сыпучих материалов, по которому размеры частиц определяют по величине заряда, переносимого частицей от одного электрода к другому.

Предложенный способ отличается тем, что определяют интенсивность световой вспышки, сопровождающей электрический пробой между заряженной поверхностью и приближающейся к ней частицей, и по интенсивности судят о размере частиц.

Это позволяет повысить точность измерения.

Предложенный способ основан на регистрации вспышек света, сопровождающих электрический пробой между частицами и электродом во внешнем электрическом поле.

При подлете частиц к электроду во внешHpм электрическом поле на малых расстояниях возникают большие поля, которые могут привести к электрическому пробою между частицей и поверхностью электрода.

Максимальное электрическое поле Ел, в зазоре между частицей и плоскостью выражается следующим образом: где r †ради частицы;

Š— напряженность внешнего электрического поля; х — расстояние от част1щы до поверх5 ности электрода: ф rp — функции. резко возрастающие прп уменьшении х/» (при х/г-0,01 ф,ср достигает значения — 70).

10 Когда Ел достигает значения пробивной напряженности, возникает электрический пробой.

Интенсивность световой вспышки прн электрическом пробое есть функция q, Е, r 1=

1S =f (q, Е, r). Если д=О или q=x(r) — есть известная функция радиуса частицы, то I=

Предмет изобретения

Способ определения размеров макрочастиц с подачей их на заряженную поверхность, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, определяют интенсив25 ность световой вспышки, сопровождающей электрический пробой между заряженной поверхностью и приближающейся к ней частицей, и по интенсивности судят о размере частиц,