Способ определения диэлектрической проницаемости эллипсоидальных частиц

СПИ

ИЗОБ

255409

Союз Советскиа

Социалистическиа

Республик

К АВТОРСКО

Зависимое от авт.

Заявлено 10.l.1967

Кл. 21е, 36/10 с присоединением

Приоритет

Опубликовано 28.Х

Дата опубликован

МПК G 01г

УДК 621.317.335(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

В. Н. Шмигель

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ

ПРОНИЦАЕМОСТИ ЭЛЛИПСОИДАЛЪНЫХ ЧАСТИЦ

Изобретение относится к области электроизмерительной техники и предназначено для изучения диэлектрической проницаемости отдельных частиц эллипсоидальной формы, например минералов, зерна, текстильных частиц.

Известный способ определения диэлектрической проницаемости частицы путем поворота ее под действием вращающего момента однородного электрического .поля связан с большой сложностью измерений.

Способ, согласно изобретению, отличается от известных тем, что исследуемую частицу помещают на нижний заземленный электрод горизонтальной системы плоских электродов, покрытый слоем диэлектрика с диэлектрической проницаемостью много большей единицы, и изменяют напряженность электрического поля до ориентации частицы перпендикулярно плоскости электрода, а искомую величину определяют по известным расчетным формулам и графикам. В результате этого процесс измерений упрощается.

На чертеже приведена схема, поясняющая описываемый способ.

Испытуемую частицу 1, предварительно .взвешенную и обмеренную, помещают в однородном электрическом поле, образованном плоскими горизонтальными электродами 2, 8 на плоский слой диэлектрика 4, который расположен на нижнем заземленном электроде 2.

При этом большая ось частицы за счет ее неоднородного состава образует некоторый угол

5 с горизонтальной плоскостью. Слой диэлектрика 4, имеющий известное значение

5 диэлектрической проницаемости много большей единицы, усиливает поле в воздушном промежутке и исключает подзарядку частицы под воздействием поля за счет касания ее с металлическим электродом. К верхнему

10 электроду 8 подведено постоянное напряжение от источника питания.

На частицу 1 со стороны электрического поля действует вращающий момент М,, стремящийся повернуть ее в направлении б.

15 Ему противодействует момент М, силы тяжести 7 частицы 1. При повышении напряжения на электроде 8 .вращающий момент увеличивается и при равенстве его моменту силы тяжести большая ось частиц (положение 8)

20 устанавливается перпендикулярно плоскости нижнего электрода..

Диэлектрическую проницаемость частицы определяют из расчетных соотношений, получаемых из равенста М =М, и соответствую25 щих графических построений при известных размерах частицы.

Предмет изобретения

Способ определения диэлектрической про30 ницаемости эллипсоидальных частиц путем

255409

3 8

I ) !

Составитель В. Н. Фетина

Редактор Т. В. Данилова Техред Л. В. Куклина Корректоры: Е, Ласточкина и А. Абрамова

Заказ 521)3 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Ж-35, Раушская наб., д. 4,5

Типография, пр. Сапунова, поворота исследуемой частицы под действием вращающего момента однородного электрического поля, огличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерений, исследуемую частицу помещают на нижний заземленный электрод горизонтальной системы плоских электродов, покрытый слоем диэлектрика с диэлектрической проницаемостью много большей единицы, и изменяют напряженность электрического поля до ориентации частицы перпендикулярно плоскости электрода, а иско5 мую величину определяют по известным расчетным формулам .и графикам.