Устройство для контроля параметров луча и развертки
244429
ОПИСАНИЕ
ИЗС1БРЕТЕ Н ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 22.Ч.1967 (№ 1159521/26-9) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 28.Ч.1969. Бюллетень № 18
Дата опубликования описания 14.Х.1969
Кл. 21ат, 71
МПК G 01r
УДК 621.317:621.397 (088.8) Номитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Авторы изобретения
В. 3. Антонишин, М. С. Аймбиндер и В. В. Шутовский
Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ЛУЧА
И РАЗВЕРТКИ
Известны устройства для измерения параметров луча и развертки, содержащие мишень, коллектор вторичных электронов, широкополосный усилитель и индикатор, В этих устройствах используется принцип получения видеосигнала при пересечении ниI еЙ.
Однако такие устройства характеризуются невысокой точностью измерений.
Описываемое устройство отличается ем, что мишень выполнена в виде плоской решетки из параллельных равноотстоящих металлических нитей (проволок), расположенных под углом
45 к направлению сканирования луча. Диаметр и расстояние между смежными нитями значительно большие, чем диаметр контролируемогоо луча.
Это позволяет повысить точность измерений.
На чертеже показаны конструкция измерительной решетки и схема соединения узлов устройства.
Измерительная решетка 1 представляет собой параллельные равноотстоящие, натянутые на плоской металлической рамке металлические проволочные нити. Диаметр нитей и их шаг в несколько раз болыие диаметра контролируемого луча. Размеры решетки выбраны большими длины строки развертки, а количество нитей, достаточно большим, чтобы обеспечить контроль на любом участке развертки.
Подобные решетки, изготовляемые электронной промышленностью, используются в качестве сеток (электродов) в некоторых электроннолучевых трубках.
5 Решетку устанавливают в плоскости фокусировки (т. е. в плоскости расположения исследуемого объекта в электронных микроскопах или в плоскости носителя записи в аппаратуре записи информации электронным лу10 чом) таким образом, чтобы направление металлических нитей находилось под углом 45 к направлению развертки луча.
По периметру решетки на некотором расстоянии от нее расположен кольцевой коллек15 тор вторичных электронов 2, имеющий по отношению к решетке положительный потенциал, достаточный для полного отбора вторичных электронов.
В цепь решетки включено нагрузочное со20 противление 8, подключенное также к входу широкополосного усилителя 4.
Выход усилителя 4 подключен через переключатель 5 к входу широкополосного осциллографа б либо непосредственно, либо через
25 дифференцирующую цепочку 7.
При пересечении сканирующим электронным лучом 8 каждой нити решетки в ее цепи создается импульс тока, а на нагрузочном сопротивлении 8 — соответствующий импульс напря30 жения.
244429
Составитель Й. Гилинская
Текред Т. П. Курилко
Редактор В. Кузнецов
Корректор Л. А. Иголкина
Заказ 2571/7 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Центр, пр. Серова, д. 4
Типография, пр. Сапунова, 2
После усиления этот сигнал поступает на вход осциллографа. По известной методике и согласно инструкции по эксплуатации осциллографа измеряются амплитуда импульса, его длительность и длительность его фронта.
При постоянной скорости перемещения луча вдоль строки длительность импульса пропорциональна диаметру проволоки, а длительность любого его фронта .пропорциональна диаметру электронного пучка. По полученным осциллограммам можно судить о параметрах луча и развертки электроннолучевых приборов.
Предмет изобретения
Устройство для конгроля параметров луча и развертки электроннолучевых приборов, предназначенных для применения, например, в электронных микроскопах, рентгеновских аппаратах и т. п., содержащее мишень, коллектор вторичных электронов, широкополосный усилитель и индикатор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, упомянутая мишень выполнена в виде плоской металлической решетки из параллельных равноотстоящих нитей, расположенных под углом
45 к направлению сканирования электронного луча.
