Способ пометки базы
ойсоктзн."=я 1
ОПИСАН И Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
238208
Сова Созетсннх
Соцнзлистичесних
Республнн
Зависимое от авт. свидетельства ¹
Кл. 42k, 45/02
Заявлено 27.IV.1967 (№ 1151705/25-28) с присоединением заявки ¹
Приоритет—
Опубликовано 20.11.1969. Бюллетень ¹ 9
Дата опубликования описания 22Х11.1969
МПК 6 Oll
УДК 531.787(088.8) Комитет ло делам изобретений и стнрытиб ори Совете Министров
СССР
Автор изобретения
3. Д. Вишневецкий
Заявитель
СПОСОБ ПОМЕТКИ БАЗЪ1
Известны способы пометки базы для измерения оптическими приборами деформаций образцов материалов при нагружении и нагреве путем образования на образце элементов пометки базы, имею цих смежные контрастные поля, границы которых расположены перпендикулярно к направлениям деформаций.
Предлагаемый способ отличается от известных тем, что на образце в процессе его обработки образуют отростки, в которых закрепляют элементы пометки базы, выполненные из корунда или другого жаростойкого материала с высоким коэффициентом отражения, с гранеными поверхностями.
Это позволяет повысить точность измерений и жаростойкость элементов пометки базы.
Элементы пометки базы могут быть установлены с трех сторон на образующих образца, и их отражающие поверхности обращены в одну сторону.
На чертеже изображен образец для испытания описываемым способом и разрез по
А — А в увеличенном масштабе.
Пометку базы на образце согласно изобретению производят следующим образом.
На образце 1 в процессе его обработки (точением, шлифованием, литьем или другихгп видами) образуют отростки 2, в которых закрепляют элементы 8 пометки базы, выполпенные из корунда или другого жаростойкого материала с высоким коэффициентом огражения с гранечыми поверхностями. Элементы
3 пометки базы устанавливают с трех сторон
5 на образующих образца и их отражающие поверхности 4 обращены в одну сторону.
Изготовленный в таком виде образец нагревают и испытывают, причем деформацию измеряют оптическими приборами по пометкам
lo базы, имеющим смежные контрастныс поля, границы которых расположены перпендикулярно к направлениям деформаций.
Предмет изобретения
1. Способ пометки базы для измерения оптическими приборами деформаций образцов материалов прп нагружении и нагреве путем образования на образце элементов пометки
20 базы, имеющих смежные контрастные поля, границы которых расположены перпендикулярно к направлениям деформаций, от гггчагоигийся тем, что, с целью повышения точности измерений и повышения жаростойкости элементов пометки базы, на образце в процессе его обработки образуют отростки, в которых закрепляют элементы пометки базы, выполненные пз корунда или другого жаростойкого материала с высоким коэффициентом отражения, с гранеными поверхностями.
238208
Составнгсль А. Тывес
Редактор В. Кузнецов Tevpe.i Т. П. Курилко Корректор М. В. Радзииская
Заказ 1450/10 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Центр, пр. Серова, д. 4
Типография, пр. Сапунова, 2
2. Способ по и. 1, отличающийся тем, что элементы пометки базы установлены с трех сторон на образующих образца и их отрансающие поверхности обращены в одну сторону,

